메뉴 건너뛰기




Volumn 89, Issue 1, 2001, Pages 586-589

Evolution of the dielectric breakdown in Co/Al2O3/Co junctions by annealing

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0001372871     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1329352     Document Type: Article
Times cited : (33)

References (18)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.