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Volumn 56, Issue 4, 2000, Pages 241-245

Angular dependences of surface composition, sputtering and ripple formation on silicon under N2+ ion bombardment

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EID: 0001257488     PISSN: 0042207X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/s0042-207x(99)00194-3     Document Type: Article
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References (37)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.