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Volumn 87, Issue 5, 2000, Pages 2655-2657

Recrystallization and electrical properties of MeV P implanted 6H-SiC

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EID: 0001225499     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.372234     Document Type: Article
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References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.