Transmission electron microscopy of shape-controlled nanocrystals and their assemblies

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 104, Issue 6, 2000, Pages 1153-1175

  Wang, Z L ^a  

^a Georgia Institute of Technology ^*  (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000999716     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp993593c     Document Type: Article

References (81)

1. Buffat, Ph.; Borel, J.-P. Phys. Rev. A 1976, 13, 2287.
2. Schmidt, M.; Kusche, R.; von Issendorff, B.; Haberland, H. Nature 1998, 393, 238.
3. Goldstein, A. N.; Echer, C. M.; Alivisatos, A. P. Science 1992, 250, 1425.
4. de Heer, W. A. Rev. Mod. Phys. 1993, 65, 611.
5. Alivisatos, A. P. Science 1996, 271, 933.
6. Mohamed, M.; Wang, Z. L.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B, in press.
7. Wang, Z. L.; Petroski, J.; Green, T.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 6145.
8. Cleveland, C.; Luedtke, W. D.; Landman, U. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 2036.
9. Wang, Z. L., Ed. Characterization of Nanophase Materials; Wiley-VCH: New York, 2000.
10. Williams, D. B.; Carter, C. B. Transmission Electron Microscopy; Plenum Press: New York, 1996.
11. Wang, Z. L.; Kang, Z. C. Functional and Smart Materials - Structural Evolution and Structure Analysis; Plenum Press: New York, 1998; Chapter 6.
12. Egerton, R. F. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, 2nd ed.; Plenum Press: New York, 1996.
13. Frank, S.; Poncharal, P.; Wang, Z. L.; de Heer, W. A. Science 1998, 280, 1744.
14. Poncharal, P.; Frank, S.; Wang, Z. L.; de Heer, W. A. Proceeding of the International Conference on Small Clusters, in press.
15. Ahmadi, T. S.; Wang, Z. L.; Green, T. C.; Henglein, A.; El-Sayed, M. A. Science 1996, 28, 1924.
16. Hirsch, P. B.; Howie, A.; Nicholson, R. B.; Pashley, D. W.; Whelan, M. J. Electron Microscopy of Thin Crystals; Roberts E. Krieger Publishing Company: New York, 1977.
17. Scherzer, O. J. Appl. Phys. 1949, 20, 20.
18. Wang, Z. L. Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and Imaging; Plenum Press: New York, 1995; Chapters 2-5.
19. Cowley, J. M.; Moodie, A. F. Acta Crystallogr. 1957, 10, 609.
20. Ascencio, J. A.; Gutiérrez-Wing, C.; Espinosa, M. E.; Marin, M.; Tehuacanero, S.; Zorrilla, C.; José-Yacaman, M. Surf. Sci. 1998, 396, 349.
21. Smith D. J.; Marks, L. D. Philos. Mag. A 1981, 44, 735.
22. Rampino, L. D.; Nord, F. F. J. Am. Chem. Soc. 1942, 63, 2745.
23. Henglein, A.; Ershov, B. G.; Marlow, M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 14129.
24. Wang, Z. L.; Ahmadi, T. S.; El-Sayed, M. A. Surf. Sci. 1996, 380, 302.
25. Ino, S. J. Phys. Soc. Jpn. 1966, 21, 346.
26. Allpress, J. G.; Sanders, J. V. Surf. Sci. 1967, 7, 1.
27. Marks, L. D. Rep. Prog. Phys. 1994, 57, 603 and references therein.
28. Yang, C. Y. J. Cryst. Growth 1979, 47, 274;
29. Yang, C. Y. J. Cryst. Growth 1979, 47, 283.
30. Buffat, P.-A.; Flüeli, M.; Spycher, R.; Stadelmann, P.; Borel, J.-P. Faraday Discuss. 1991, 92, 173.
31. Cleveland, C. L.; Landman, U.; Schaaff, T. G.; Shafigullin, M. N.; Stephens, P. W.; Whetten, R. L. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 1873.
32. Ikarashi, N.; Kobayashi, K.; Koike, H.; Hasegawa, H.; Yagi, K. Ultramicroscopy 1988, 26, 195.
33. Petroski, J. M.; Wang, Z. L.; Green, T. C.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 1998, 10, 3316.
34. Yu, Y.-Y.; Chang, S.-S.; Lee, C.-L.; Wang, C. R. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 6661.
35. Iijima, S.; Ichihashi, T. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 616.
36. Smith, D. J.; Petford-Long, A. K.; Wallenberg, L. R.; Bovin, J.-O. Science 1986, 233, 872.
37. Whetten, R. L.; Khoury, J. T.; Alvarez, M. M.; Murthy, S.; Vezmar, I.; Wang, Z. L.; Cleveland, C. C.; Luedtke, W. D.; Landman, U. Adv. Mater. 1996, 8, 428.
38. Wang, Z. L. Adv. Mater. 1998, 10, 13.
39. Motte, L.; Billoudet, F.; Lacaze, E.; Douin, J.; Pileni, M.-P. J. Phys. Chem B 1997, 101, 138.
40. Andres, R. P.; Bein, T.; Dorogi, M.; Feng, S.; Henderson, J. I.; Kubiak, C. P.; Mahoney, W.; Osifchin, R. G.; Reifenberger, R. Science 1996, 272, 1323.
41. Murray, C. B.; Kagan, C. R.; Bawendi, M. G. Science 1995, 270, 1335.
42. Collier, C. P.; Saykally, R. J.; Shiang, J. J.; Henrichs, S. E.; Heath, J. R. Science 1997, 277, 1978.
43. Harfenist, S. A.; Wang, Z. L.; Alvarez, M. M.; Vezmar, I.; Whetten, R. L. J. Phys. Chem. 1996, 100, 13904.
44. Wang, Z. L.; Harfenist, S. A.; Whetten, R. L.; Bentley, J.; Evans, N. D. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 3068.
45. Wang, Z. L.; Harfenist, S. A.; Vezmar, I.; Whetten, R. L.; Bentley, J.; Evans, N. D. Adv. Mater. 1998, 10, 808.
46. Yin, J. S.; Wang, Z. L. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 2570.
47. Harfenist, S. A.; Wang, Z. L.; Alvarez, M. M.; Vezmar, I.; Whetten, R. L. Adv. Mater. 1997, 9, 817.
48. Bentzon, M. D.; Thölen, A. Ultramicroscopy 1991, 38, 105.
49. Ahmadi, T. S.; Wang, Z. L.; Green, T. C.; Henglein, A.; El-Sayed, M. A. Chem. Mater. 1996, 8, 1161.
50. Link, S.; Burda, C.; Mohamed, M. B.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 1165.
51. Mohamed, M. B.; Ismail, K. Z.; Link, S.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 1999, 102, 9370
52. Harfenist, S. A.; Wang, Z. L. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4342.
53. Yin, J. S.; Wang, Z. L. J. Phys. Chem. 1997, 101, 8979.
54. Poncharal, P.; Wang, Z. L.; Ugarte, D.; de Heer, W. A. Science 1999, 283, 1513.
55. Frank, S.; Poncharal, P.; Wang, Z. L.; de Heer, W. A. Science 1998, 280, 1744.
56. Goldstein, J. I.; Newbury, D. E.; Echlin, P.; Joy, D. C.; Romig, A. D.; Lyman, C. E.; Fiori, C.; Lifshin, E. Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, a text for biologists, materials scientists and geologists; Plenum Press: New York, 1992.
57. Kurata, H.; Colliex, C. Phys. Rev. B 1993, 48, 2102.
58. Mansot, J. L.; Leone, P.; Euzen, P.; Palvadeau, P. Microsc. Microanal. Microstruct. 1994, 5, 79.
59. Wang, Z. L.; Yin, J. S.; Zhang, J. Z.; Mo, W. D. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 6793.
60. Wang, Z. L.; Yin, J. S.; Jiang, Y. D.; Zhang, J. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 3362.
61. Wang, Z. L.; Yin, J. S. Philos. Mag. B 1998, 77, 49.
62. Colliex, C.; Manoubi, T.; Ortiz, C. Phys. Rev. B 1991, 44, 11402.
63. Lloyd, S. J.; Botton, G. A.; Stobbs, W. M. J. Microsc. 1995, 180, 288.
64. Yuan, J.; Gu, E.; Gester, M.; Bland, J. A. C.; Brown, L. M. J. Appl. Phys. 1994, 75, 6501.
65. Fortner, J. A.; Buck, E. C. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 3817.
66. Zhang, Z. J.; Wang, Z. L.; Chakoumakos, B. C.; Yin, J. S. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 1800.
67. Craven, A. J.; Colliex, C. J. Microsc. Spectrosc. Electron 1977, 2, 511.
68. Leapman, R. D.; Hunt, J. A. Microscopy: The Key Research Tool; The Electron Microscopy Society of America, 1992; Vol. 22, p 39.
69. Reimer, L., Ed. Energy Filtering Transmission Electron Microscopy, Springer Series in Optical Science; Springer-Verlag: New York, 1995.
70. Wang, Z. L.; Shapiro, A. J. Ultramicroscopy 1995, 60, 115.
71. Mayer, J.; Plitzko, J. M. J. Microsc. 1996, 183, 2.
72. Batson, P. E.; Browning N. D.; Muller, D. A. MSA Bull. 1994, 24, 371.
73. Wang, Z. L.; Bentley, J.; Evans, N. D. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 751.
74. Frost, B. G.; Allard, L. F.; Volkl, E.; Joy, D. C. In Electron Holography; Tonomura, A., Allard, L. F., Pozzi, G., Joy, D. C., Ono, Y. A., Eds.; Elsevier Science: New York, 1995; p 169.
75. Datye, A. K.; Kalakkad, D. S.; Vöikl, E.; Allard, L. F. In Electron Holography; Tonomura, A., Allard, L. F., Pozzi, G., Joy, D. C., Ono, Y. A., Eds.; Elsevier Science: New York, 1995; p 199.
76. Mankos, M.; Cowley, J. M.; Scheinfein, M. R. Mater. Res. Soc. Bull. 1995, 20, 45.
77. Hirayama, T.; Chen, J.; Ru, Q.; Ishizuka, K.; Tanji, T.; Tonomura, A. In Electron Holography; Tonomura, A., Allard, L. F., Pozzi, G., Joy, D. C., Ono, Y. A., Eds.; Elsevier Science: New York, 1995; p 145.
78. Gabor, D. Proc. R. Soc. London A 1949, 197, 454.
79. Tonomura, A. Electron Holography; Springer-Verlag: New York, 1993.
80. Lichte, H. Adv. Opt. Electron Microsc. 1991, 12, 25.
81. Tonomura, A., Allard, L. F., Pozzi, G., Joy, D. C., Ono, Y. A., Eds.; Electron Holography; Elsevier Science: New York, 1995.