Imaging the degradation of polymer light-emitting devices

Applied Physics Letters

Volumn 85, Issue 17, 2004, Pages 3905-3907

  Dane, Justin ^a   Gao, Jun ^a  

^a QUEEN S UNIVERSITY   (Canada)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CELLS; DEGRADATION; DOPING (ADDITIVES); ELECTROCHEMISTRY; GLASS TRANSITION; LIGHT EMITTING DIODES; POLYMERS; STRESS ANALYSIS;

CRYOSTAT; DYNAMIC VACUUM; EMISSION ZONE; LUMINANCE DECAY;

IMAGING TECHNIQUES;

EID: 9744282634     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1810213     Document Type: Article

References (30)

1. J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Bums, and A. B. Holmes, Nature (London) 347, 539 (1990).
2. R. H. Friend, R. W. Gymer, A. B. Holmes, J. H. Burroughes, R. N. Marks, C. Taliani, D. D. C. Bradley, D. A. Dos Santos, J. L. Bredas, M. Logdlund, and W. R. Salaneck, Nature (London) 397, 121 (1999).
3. J. C. Scott, J. H. Kaufman, P. J. Brock, R. DiPietro, J. Salem, and J. A. Goitia, J. Appl. Phys. 79, 2745 (1996).
4. B. H. Cumpston and K. F. Jensen, Trends Polym. Sci. 4, 151 (1996).
5. D. G. J. Sutherland, J. A. Carlisle, P. Elliker, G. Fox, T. W. Hagler, I. Jimenez, H. W. Lee, K. Pakbaz, L. J. Terminello, S. C. Williams, F. J. Himpsel, D. K. Shuh, W. M. Tong, J. J. Jia, T. A. Callcott, and D. L. Ederer, Appl. Phys. Lett. 68, 2046 (1996).
6. B. H. Cumpston, I. D. Parker, and K. F. Jensen, J. Appl. Phys. 81, 3716 (1997).
7. I. D. Parker, Y. Cao, and C. Y. Yang, J. Appl. Phys. 85, 2441 (1999).
8. V. N. Bliznyuk, S. A. Carter, J. C. Scott, G. Klarner, R. D. Miller, and D. C. Miller, Macromolecules 32, 361 (1999).
9. C. Giebeler, S. A. Whitelegg, D. G. Lidzey, P. A. Lane, and D. D. C. Bradley, Appl. Phys. Lett. 75, 2144 (1999).
10. G. C. M. Silvestre, M. T. Johnson, A. Giraldo, and J. M. Shannon, Appl. Phys. Lett. 78, 1619 (2001).
11. Q. B. Pei, G. Yu, C. Zhang, Y. Yang, and A. J. Heeger, Science 269, 1086 (1995).
12. U. Lemmer, D. Vacar, D. Moses, A. J. Heeger, T. Ohnishi, and T. Noguchi, Appl. Phys. Lett. 68, 3007 (1996).
13. M. D. McGehee, D. Vacar, U. Lemmer, D. Moses, and A. J. Heeger, Synth. Met. 85, 1233 (1997).
14. E. Smela, Y. Kaminorz, O. Inganas, and L. Brehmer, Semicond. Sci. Technol. 13, 433 (1998).
15. Y. Kaminorz, E. Smela, T. Johansson, L. Brehmer, M. R. Andersson, and O. Inganas, Synth. Met. 113, 103 (2000).
16. Q. B. Pei, Y. Yang, G. Yu, C. Zhang, and A. J. Heeger, J. Am. Chem. Soc. 118, 3922 (1996).
17. J. Gao, G. Yu, and A. J. Heeger, Appl. Phys. Lett. 71, 1293 (1997).
18. J. Gao, Y. F. Li, G. Yu, and A. J. Heeger, J. Appl. Phys. 86, 4594 (1999).
19. J. Gao and J. Dane, Appl. Phys. Lett. 83, 3027 (2003).
20. J. Gao and J. Dane, Appl. Phys. Lett. 84, 2778 (2004).
21. J. McElvain, H. Antoniadis, M. Hueschen, J. N. Miller, D. M. Roitman, J. R. Sheats, and R. L. Moon, J. Appl. Phys. 80, 6002 (1996).
22. P. E. Burrows, V. Bulovic, S. Forrest, L. S. Sapochak, B. McCarthy, and M. E. Thompson, Appl. Phys. Lett. 65, 2922 (1994).
23. H. Aziz, Z. Popovic, N. Hu, A. Hor, and G. Xu, Science 283, 1900 (1999).
24. F. Cacialli, R. H. Friend, S. C. Moratti, and A. B. Holmes, Synth. Met. 67, 157 (1994).
25. D. V. Khramtchenkov, H. Bassler, and V. I. Arkhipov, J. Appl. Phys. 79, 9283 (1996).
26. G. G. Malliaras and J. C. Scott, J. Appl. Phys. 83, 5399 (1998).
27. A. R. Brown, N. C. Greenham, J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, R. H. Friend, P. L. Burn, A. Kraft, and A. B. Holmes, Chem. Phys. Lett. 200, 46 (1992).
28. L. Bozano, S. A. Carter, J. C. Scott, G. G. Malliaras, and P. J. Brock, Appl. Phys. Lett. 74, 1132 (1999).
29. I. H. Campbell, D. L. Smith, C. J. Neef, and J. P. Ferraris, Appl. Phys. Lett. 74, 2809 (1999).
30. J. Dane and J. Gao (unpublished).