Correction: Photoelectrochemistry of Pristine Mono- and Few-Layer MoS2 (Nano Letters (2016) 16:3 (2023-2032) DOI: 10.1021/acs.nanolett.5b05317);Photoelectrochemistry of Pristine Mono- and Few-Layer MoS2

Nano Letters

Volumn 16, Issue 3, 2016, Pages 2023-2032

  Velický, Matěj ^a   Bissett, Mark A ^a   Woods, Colin R ^a   Toth, Peter S ^a   Georgiou, Thanasis ^b   Kinloch, Ian A ^a   Novoselov, Kostya S ^a   Dryfe, Robert A W ^a  

^a UNIVERSITY OF MANCHESTER   (United Kingdom)

^b Manchester Nanomaterials Ltd   (United Kingdom)

Author keywords

capacitance; electron transfer; illumination; Molybdenum disulfide; two dimensional

Indexed keywords

CAPACITANCE; DIGITAL STORAGE; ELECTROCHEMICAL ELECTRODES; ELECTROLYTES; ELECTRON TRANSITIONS; LIGHTING; MOLYBDENUM COMPOUNDS; MONOLAYERS; TWO DIMENSIONAL;

CHEMICAL CHARACTERIZATION; ELECTRIC DOUBLE LAYER CAPACITANCE; ELECTROCHEMICAL BEHAVIORS; ELECTROCHEMICAL PERFORMANCE; ELECTRON TRANSFER; ELECTRON TRANSFER KINETICS; MOLYBDENUM DISULFIDE; PHOTOELECTROCHEMICAL PROPERTIES;

ELECTROCHEMISTRY;

EID: 84960517266     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/acs.nanolett.6b04704     Document Type: Erratum

References (54)

1. Chhowalla, M.; Shin, H. S.; Eda, G.; Li, L. J.; Loh, K. P.; Zhang, H. Nat. Chem. 2013, 5 (4) 263-275 10.1038/nchem.1589
2. Salomon, G.; De Gee, A. W. J.; Zaat, J. H. Wear 1964, 7 (1) 87-101 10.1016/0043-1648(64)90081-X
3. Wang, Q. H.; Kalantar-Zadeh, K.; Kis, A.; Coleman, J. N.; Strano, M. S. Nat. Nanotechnol. 2012, 7 (11) 699-712 10.1038/nnano.2012.193
4. Cui, X.; Lee, G.-H.; Kim, Y. D.; Arefe, G.; Huang, P. Y.; Lee, C.-H.; Chenet, D. A.; Zhang, X.; Wang, L.; Ye, F.; Pizzocchero, F.; Jessen, B. S.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Muller, D. A.; Low, T.; Kim, P.; Hone, J. Nat. Nanotechnol. 2015, 10 (6) 534-540 10.1038/nnano.2015.70
5. Ye, J. T.; Zhang, Y. J.; Akashi, R.; Bahramy, M. S.; Arita, R.; Iwasa, Y. Science 2012, 338 (6111) 1193-1196 10.1126/science.1228006
6. Kasowski, R. V. Phys. Rev. Lett. 1973, 30 (23) 1175-1178 10.1103/PhysRevLett.30.1175
7. Splendiani, A.; Sun, L.; Zhang, Y.; Li, T.; Kim, J.; Chim, C.-Y.; Galli, G.; Wang, F. Nano Lett. 2010, 10 (4) 1271-1275 10.1021/nl903868w
8. Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. V.; Geim, A. K. Proc. Natl. Acad. Sci. U. S. A. 2005, 102 (30) 10451-10453 10.1073/pnas.0502848102
9. Coleman, J. N.; Lotya, M.; O'Neill, A.; Bergin, S. D.; King, P. J.; Khan, U.; Young, K.; Gaucher, A.; De, S.; Smith, R. J.; Shvets, I. V.; Arora, S. K.; Stanton, G.; Kim, H. Y.; Lee, K.; Kim, G. T.; Duesberg, G. S.; Hallam, T.; Boland, J. J.; Wang, J. J.; Donegan, J. F.; Grunlan, J. C.; Moriarty, G.; Shmeliov, A.; Nicholls, R. J.; Perkins, J. M.; Grieveson, E. M.; Theuwissen, K.; McComb, D. W.; Nellist, P. D.; Nicolosi, V. Science 2011, 331 (6017) 568-571 10.1126/science.1194975
10. Jeon, J.; Jang, S. K.; Jeon, S. M.; Yoo, G.; Jang, Y. H.; Park, J.-H.; Lee, S. Nanoscale 2015, 7 (5) 1688-1695 10.1039/C4NR04532G
11. Al-Mamun, M.; Zhang, H.; Liu, P.; Wang, Y.; Cao, J.; Zhao, H. RSC Adv. 2014, 4 (41) 21277-21283 10.1039/c4ra00583j
12. Chang, K.; Chen, W. ACS Nano 2011, 5 (6) 4720-4728 10.1021/nn200659w
13. Lei, B.; Li, G. R.; Gao, X. P. J. Mater. Chem. A 2014, 2 (11) 3919-3925 10.1039/c3ta14313a
14. Bissett, M. A.; Kinloch, I. A.; Dryfe, R. A. W. ACS Appl. Mater. Interfaces 2015, 7 (31) 17388-17398 10.1021/acsami.5b04672
15. Voiry, D.; Salehi, M.; Silva, R.; Fujita, T.; Chen, M.; Asefa, T.; Shenoy, V. B.; Eda, G.; Chhowalla, M. Nano Lett. 2013, 13 (12) 6222-6227 10.1021/nl403661s
16. Tributsch, H.; Bennett, J. C. J. Electroanal. Chem. Interfacial Electrochem. 1977, 81 (1) 97-111 10.1016/S0022-0728(77)80363-X
17. Ahmed, S. M. Electrochim. Acta 1982, 27 (6) 707-712 10.1016/0013-4686(82)85063-9
18. Tan, S. M.; Ambrosi, A.; Sofer, Z.; Huber, Š.; Sedmidubský, D.; Pumera, M. Chem.-Eur. J. 2015, 21 (19) 7170-7178 10.1002/chem.201500435
19. Velický, M.; Bissett, M. A.; Toth, P. S.; Patten, H. V.; Worrall, S. D.; Rodgers, A. N. J.; Hill, E. W.; Kinloch, I. A.; Novoselov, K. S.; Georgiou, T.; Britnell, L.; Dryfe, R. A. W. Phys. Chem. Chem. Phys. 2015, 17 (27) 17844-17853 10.1039/C5CP02490K
20. Wang, Y.; Ou, J. Z.; Balendhran, S.; Chrimes, A. F.; Mortazavi, M.; Yao, D. D.; Field, M. R.; Latham, K.; Bansal, V.; Friend, J. R.; Zhuiykov, S.; Medhekar, N. V.; Strano, M. S.; Kalantar-Zadeh, K. ACS Nano 2013, 7 (11) 10083-10093 10.1021/nn4041987
21. Chia, X.; Ambrosi, A.; Sedmidubský, D.; Sofer, Z.; Pumera, M. Chem.-Eur. J. 2014, 20 (52) 17426-17432 10.1002/chem.201404832
22. Yu, Y.; Huang, S.-Y.; Li, Y.; Steinmann, S. N.; Yang, W.; Cao, L. Nano Lett. 2014, 14 (2) 553-558 10.1021/nl403620g
23. Li, W.; Tan, C.; Lowe, M. A.; Abruña, H. D.; Ralph, D. C. ACS Nano 2011, 5 (3) 2264-2270 10.1021/nn103537q
24. Velický, M.; Bradley, D. F.; Cooper, A. J.; Hill, E. W.; Kinloch, I. A.; Mishchenko, A.; Novoselov, K. S.; Patten, H. V.; Toth, P. S.; Valota, A. T.; Worrall, S. D.; Dryfe, R. A. W. ACS Nano 2014, 8 (10) 10089-10100 10.1021/nn504298r
25. Velický, M.; Cooper, A. J.; Toth, P. S.; Patten, H. V.; Woods, C. R.; Novoselov, K. S.; Dryfe, R. A. W. 2D Mater. 2015, 2 (2) 024011 10.1088/2053-1583/2/2/024011
26. Güell, A. G.; Cuharuc, A. S.; Kim, Y.-R.; Zhang, G.; Tan, S.-y.; Ebejer, N.; Unwin, P. R. ACS Nano 2015, 9 (4) 3558-3571 10.1021/acsnano.5b00550
27. Toth, P. S.; Valota, A.; Velický, M.; Kinloch, I.; Novoselov, K.; Hill, E. W.; Dryfe, R. A. W. Chem. Sci. 2014, 5 (2) 582-589 10.1039/C3SC52026A
28. Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical Methods. Fundamentals and Applications, 2 nd ed.; John Wiley & Sons, Inc.: New York, 2001.
29. Dolui, K.; Rungger, I.; Sanvito, S. Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2013, 87 (16) 165402 10.1103/PhysRevB.87.165402
30. Li, H.; Zhang, Q.; Yap, C. C. R.; Tay, B. K.; Edwin, T. H. T.; Olivier, A.; Baillargeat, D. Adv. Funct. Mater. 2012, 22 (7) 1385-1390 10.1002/adfm.201102111
31. Frindt, R. F. J. Appl. Phys. 1966, 37 (4) 1928-1929 10.1063/1.1708627
32. Lee, C.; Yan, H.; Brus, L. E.; Heinz, T. F.; Hone, J.; Ryu, S. ACS Nano 2010, 4 (5) 2695-2700 10.1021/nn1003937
33. Klingler, R. J.; Kochi, J. K. J. Phys. Chem. 1981, 85 (12) 1731-1741 10.1021/j150612a028
34. Nicholson, R. S. Anal. Chem. 1965, 37 (11) 1351-1355 10.1021/ac60230a016
35. Lavagnini, I.; Antiochia, R.; Magno, F. Electroanalysis 2004, 16 (6) 505-506 10.1002/elan.200302851
36. Dolui, K.; Rungger, I.; Das Pemmaraju, C.; Sanvito, S. Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2013, 88 (7) 075420 10.1103/PhysRevB.88.075420
37. Zhou, W.; Zou, X.; Najmaei, S.; Liu, Z.; Shi, Y.; Kong, J.; Lou, J.; Ajayan, P. M.; Yakobson, B. I.; Idrobo, J.-C. Nano Lett. 2013, 13 (6) 2615-2622 10.1021/nl4007479
38. Baugher, B. W. H.; Churchill, H. O. H.; Yang, Y.; Jarillo-Herrero, P. Nano Lett. 2013, 13 (9) 4212-4216 10.1021/nl401916s
39. Late, D. J.; Liu, B.; Matte, H. S. S. R.; Dravid, V. P.; Rao, C. N. R. ACS Nano 2012, 6 (6) 5635-5641 10.1021/nn301572c
40. McDonnell, S.; Addou, R.; Buie, C.; Wallace, R. M.; Hinkle, C. L. ACS Nano 2014, 8 (3) 2880-2888 10.1021/nn500044q
41. Bao, W.; Cai, X.; Kim, D.; Sridhara, K.; Fuhrer, M. S. Appl. Phys. Lett. 2013, 102 (4) 042104 10.1063/1.4789365
42. Tonndorf, P.; Schmidt, R.; Böttger, P.; Zhang, X.; Börner, J.; Liebig, A.; Albrecht, M.; Kloc, C.; Gordan, O.; Zahn, D. R. T.; De Vasconcellos, S. M.; Bratschitsch, R. Opt. Express 2013, 21 (4) 4908-4916 10.1364/OE.21.004908
43. Bernardi, M.; Palummo, M.; Grossman, J. C. Nano Lett. 2013, 13 (8) 3664-3670 10.1021/nl401544y
44. Liu, J.-T.; Wang, T.-B.; Li, X.-J.; Liu, N.-H. J. Appl. Phys. 2014, 115 (19) 193511 10.1063/1.4878700
45. Son, Y.; Wang, Q. H.; Paulson, J. A.; Shih, C.-J.; Rajan, A. G.; Tvrdy, K.; Kim, S.; Alfeeli, B.; Braatz, R. D.; Strano, M. S. ACS Nano 2015, 9 (3) 2843-2855 10.1021/nn506924j
46. Xiong, G.; Meng, C.; Reifenberger, R. G.; Irazoqui, P. P.; Fisher, T. S. Electroanalysis 2014, 26 (1) 30-51 10.1002/elan.201300238
47. Rice, R. J.; Pontikos, N. M.; McCreery, R. I. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112 (12) 4617-4622 10.1021/ja00168a001
48. Rice, R. J.; McCreery, R. L. Anal. Chem. 1989, 61 (15) 1637-1641 10.1021/ac00190a010
49. Liu, Y.; Chen, S. J. Electroanal. Chem. 2015, 753, 3-8 10.1016/j.jelechem.2015.05.008
50. Tributsch, H. Faraday Discuss. Chem. Soc. 1980, 70, 189-205 10.1039/dc9807000189
51. Kubiak, C. P.; Schneemeyer, L. F.; Wrighton, M. S. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102 (22) 6898-6900 10.1021/ja00542a063
52. Britnell, L.; Ribeiro, R. M.; Eckmann, A.; Jalil, R.; Belle, B. D.; Mishchenko, A.; Kim, Y.-J.; Gorbachev, R. V.; Georgiou, T.; Morozov, S. V.; Grigorenko, A. N.; Geim, A. K.; Casiraghi, C.; Neto, A. H. C.; Novoselov, K. S. Science 2013, 340 (6138) 1311-1314 10.1126/science.1235547
53. Kline, G.; Kam, K. K.; Ziegler, R.; Parkinson, B. A. Sol. Energy Mater. 1982, 6 (3) 337-350 10.1016/0165-1633(82)90039-9
54. Valota, A. T.; Toth, P. S.; Kim, Y. J.; Hong, B. H.; Kinloch, I. A.; Novoselov, K. S.; Hill, E. W.; Dryfe, R. A. W. Electrochim. Acta 2013, 110, 9-15 10.1016/j.electacta.2013.03.187