Nanoscale strain engineering on the surface of a bulk TiO2 crystal

Nano Letters

Volumn 14, Issue 11, 2014, Pages 6185-6189

  Potapenko, Denis V ^a   Li, Zhisheng ^a   Kysar, Jeffery W ^a   Osgood, Richard M ^a  

^a Department of Earth and Environmental Sciences   (United States)

Author keywords

elastic deformation; ion implantation; STM; strain; TiO2

Indexed keywords

CONTINUUM MECHANICS; ELASTIC DEFORMATION; ION BOMBARDMENT; ION IMPLANTATION; OXIDE MINERALS; STRAIN; TITANIUM DIOXIDE;

CONTINUUM MECHANICS MODELS; HIGHLY STRAINED; LOW-ENERGY AR; NANO SCALE; STM; STRAIN ENGINEERING; SURFACE STRAINS; TIO;

SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

EID: 84910142590     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl5024194     Document Type: Article

References (30)

1. Goler, S.; Coletti, C.; Tozzini, V.; Piazza, V.; Mashoff, T.; Beltram, F.; Pellegrini, V.; Heun, S. J. Phys. Chem. C 2013, 117, 11506-11513
2. Fischetti, M. V.; Laux, S. E. J. Appl. Phys. 1996, 80, 2234-2252
3. Strasser, P.; Koh, S.; Anniyev, T.; Greeley, J.; More, K.; Yu, C. F.; Liu, Z. C.; Kaya, S.; Nordlund, D.; Ogasawara, H.; Toney, M. F.; Nilsson, A. Nat. Chem. 2010, 2, 454-460
4. Schlapka, A.; Lischka, M.; Groß, A.; Käsberger, U.; Jakob, P. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 016101
5. Mavrikakis, M.; Hammer, B.; Nørskov, J. K. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 2819-2822
6. Yilmaz, M.; Kysar, J. W. Nanotechnology 2013, 24, 165502
7. Zeches, R. J.; Rossell, M. D.; Zhang, J. X.; Hatt, A. J.; He, Q.; Yang, C. H.; Kumar, A.; Wang, C. H.; Melville, A.; Adamo, C.; Sheng, G.; Chu, Y. H.; Ihlefeld, J. F.; Erni, R.; Ederer, C.; Gopalan, V.; Chen, L. Q.; Schlom, D. G.; Spaldin, N. A.; Martin, L. W.; Ramesh, R. Science 2009, 326, 977-980
8. Lee, C.; Wei, X. D.; Kysar, J. W.; Hone, J. Science 2008, 321, 385-388
9. Fujita, D.; Kitahara, M.; Onishi, K.; Sagisaka, K. Nanotechnology 2008, 19, 025705
10. Borgarello, E.; Kiwi, J.; Pelizzetti, E.; Visca, M.; Gratzel, M. Nature 1981, 289, 158-160
11. Diebold, U. Surf. Sci. Rep. 2003, 48, 53-229
12. Gratzel, M. Nature 2001, 414, 338-344
13. Hartmann, M.; Trinkaus, H. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 055505
14. Ofan, A.; Zhang, L. H.; Gaathon, O.; Bakhru, S.; Bakhru, H.; Zhu, Y. M.; Welch, D.; Osgood, R. M. Phys. Rev. B 2010, 82, 104113
15. Levy, M.; Osgood, R. M.; Liu, R.; Cross, L. E.; Cargill, G. S.; Kumar, A.; Bakhru, H. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 2293-2295
16. Ofan, A.; Gaathon, O.; Zhang, L. H.; Evans-Lutterodt, K.; Bakhru, S.; Bakhru, H.; Zhu, Y. M.; Welch, D.; Osgood, R. M. Phys. Rev. B 2011, 83, 064104
17. Wolff, M.; Schultze, J. W. Surf. Interface Anal. 1988, 12, 93-98
18. Gsell, M.; Jakob, P.; Menzel, D. Science 1998, 280, 717-720
19. Primak, W.; Luthra, J. J. Appl. Phys. 1966, 37, 2287-2294
20. Kurnosikov, O.; Kulikov, D. V.; Kharlamov, V. S.; Swagten, H. J. M.; Trushin, Y. V. Phys. Rev. B 2011, 84, 054109
21. Dhaka, R. S.; Gururaj, K.; Abhaya, S.; Amarendra, G.; Amirthapandian, S.; Panigrahi, B. K.; Nair, K. G. M.; Lalla, N. P.; Barman, S. R. J. Appl. Phys. 2009, 105, 054304
22. Schmid, M.; Hebenstreit, W.; Varga, P.; Crampin, S. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 2298-2301
23. Shibata, N.; Goto, A.; Choi, S. Y.; Mizoguchi, T.; Findlay, S. D.; Yamamoto, T.; Ikuhara, Y. Science 2008, 322, 570-573
24. Fialko, Y.; Khazan, Y.; Simons, M. Geophys. J. Int. 2001, 146, 181-190
25. Isaak, D. G.; Carnes, J. D.; Anderson, O. L.; Cynn, H.; Hake, E. Phys. Chem. Miner. 1998, 26, 31-43
26. Freund, L. B. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 3519-3521
27. Kiejna, A.; Pabisiak, T.; Gao, S. W. J. Phys.: Condens. Matter 2006, 18, 4207-4217
28. Finger, L. W.; Hazen, R. M.; Zou, G.; Mao, H. K.; Bell, P. M. Appl. Phys. Lett. 1981, 39, 892-894
29. Tseng, A. A.; Notargiacomo, A.; Chen, T. P. J. Vac. Sci. Technol., B 2005, 23, 877-894
30. Cooper, R. C.; Lee, C.; Marianetti, C. A.; Wei, X. D.; Hone, J.; Kysar, J. W. Phys. Rev. B 2013, 87, 035423