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Volumn 553, Issue , 2014, Pages 58-62

Local structure relaxation in nanocrystalline Ni1 - XO thin films

Author keywords

EXAFS spectroscopy; Molecular dynamics; Nickel oxide; Thin films

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EID: 84894901427     PISSN: 00406090     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.tsf.2013.08.132     Document Type: Conference Paper
Times cited : (7)

References (38)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.