Energy-transfer efficiency in Eu-Doped ZnO thin films: The effects of oxidative annealing on the dynamics and the intermediate defect states

ACS Applied Materials and Interfaces

Volumn 6, Issue 3, 2014, Pages 1765-1772

  Ahmed, Samah M ^a   Szymanski, Paul ^b   El Nadi, Lotfia M ^a   El Sayed, Mostafa A ^b  

^a Cairo University   (Egypt)

^b GEORGIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

dynamics; emission; energy transfer; europium; transient absorption; zinc oxide

Indexed keywords

EID: 84894112133     PISSN: 19448244     EISSN: 19448252     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/am404662k     Document Type: Article

References (48)

1. Cavaleri, J. J.; Skinner, D. E.; Colombo, J. D. P.; Bowman, R. M. J. Chem. Phys. 1995, 103, 5378-5386
2. Peres, M.; Cruz, A.; Pereira, S.; Correia, M. R.; Soares, M. J.; Neves, A.; Carmo, M. C.; Monteiro, T.; Pereira, A. S.; Martins, M. A.; Trindade, T.; Alves, E.; Nobre, S. S.; Sá Ferreira, R. A. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2007, 88, 129-133
3. Mordkovich, V. Z.; Hayashi, H.; Haemori, M.; Fukumura, T.; Kawasaki, M. Adv. Funct. Mater. 2003, 13, 519-524
4. Wang, D.; Xing, G.; Gao, M.; Yang, L.; Yang, J.; Wu, T. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 22729-22735
5. Wang, Z.; Lin, C.; Liu, X.; Li, G.; Luo, Y.; Quan, Z.; Xiang, H.; Lin, J. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 9469-9476
6. Shen, W. Y.; Pang, M. L.; Lin, J.; Fang, J. J. Electrochem. Soc. 2005, 152, H25-H28
7. Teke, A.; Özgür, Ü.; DogÌan, S.; Gu, X.; Morkoç, H.; Nemeth, B.; Nause, J.; Everitt, H. O. Phys. Rev. B 2004, 70, 195207
8. Sun, C.-K.; Sun, S.-Z.; Lin, K.-H.; Zhang, K. Y.-J.; Liu, H.-L.; Liu, S.-C.; Wu, J.-J. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 023106
9. Davidse, P. D. Vacuum 1967, 17, 139-145
10. Ozgur, U.; Alivov, Y. I.; Liu, C.; Teke, A.; Reshchikov, M. A.; Dogan, S.; Avrutin, V.; Cho, S. J.; Morkoc, H. J. Appl. Phys. 2005, 98, 041301
11. Vossen, J. L. J. Vac. Sci. Technol. 1971, 8, S12-S30
12. Li, G.-R.; Dawa, C.-R.; Lu, X.-H.; Yu, X.-L.; Tong, Y.-X. Langmuir 2009, 25, 2378-2384
13. Du, Y.-P.; Zhang, Y.-W.; Sun, L.-D.; Yan, C.-H. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 12234-12241
14. Liu, W. W.; Yao, B.; Lia, B. H.; Li, Y. F.; Zheng, J.; Zhang, Z. Z.; Shan, C. X.; Zhang, J. Y.; Shen, D. Z.; Fan, X. W. Solid State Sci. 2010, 12, 1567-1569
15. Tsuji, T.; Terai, Y.; Kamarudin, M. H. B.; Yoshida, K.; Fujiwara, Y. J. Lumin. 2012, 132, 3125-3128
16. Tana, Y.; Fang, Z.; Chen, W.; He, P. J. Alloys Compd. 2011, 509, 6321-6324
17. Khomyak, V. V.; Slyotov, M. M.; Shtepliuk, I. I.; Lashkarev, G. V.; Slyotov, O. M.; Marianchuk, P. D.; Kosolovskiy, V. V. J. Phys. Chem. Solids 2013, 74, 291-297
18. Lupan, O.; Pauporté, T.; Chow, L.; Viana, B.; Pellé, F.; Ono, L. K.; Cuenya, B. R.; Heinrich, H. Appl. Surf. Sci. 2010, 256, 1895-1907
19. Dai, L. L.; Huang, F. Y.; Xiong, D. P.; Tang, X. G.; Chen, J. Mater. Sci. Forum 2011, 687, 667-672
20. Yang, J.; Li, X.; Lang, J.; Yang, L.; Wei, M.; Gao, M.; Liu, X.; Zhai, H.; Wang, R.; Liu, Y.; Cao, J. Mater. Sci. Semicond. Process. 2011, 14, 247-252
21. Armelao, L.; Bottaro, G.; Pascolini, M.; Sessolo, M.; Tondello, E.; Bettinelli, M.; Speghini, A. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 4049-4054
22. Fazio, E.; Patanè, S.; Scibilia, S.; Mezzasalma, A. M.; Mondio, G.; Neri, F.; Trusso, S. Curr. Appl. Phys. 2013, 13, 710-716
23. Kumar, V.; Swart, H. C.; Ntwaeaborwa, O. M.; Kroon, R. E.; Terblans, J. J.; Shaat, S. K. K.; Yousif, A.; Duvenhage, M. Mater. Lett. 2013, 101, 57-60
24. Al-Gaashani, R.; Radiman, S.; Daud, A. R.; Tabet, N.; Al-Douri, Y. Ceram. Int. 2013, 39, 2283-2292
25. Gupta, S. K.; Mohapatra, M.; Kaity, S.; Natarajan, V.; Godbole, S. V. J. Lumin. 2012, 132, 1329-1338
26. Benz, F.; Guerra, J. A.; Weng, Y.; Weingärtner, R.; Strunk, H. P. Phys. Status Solidi C 2013, 10, 109-112
27. Uitert, L. G. V.; Iida, S. J. Chem. Phys. 1962, 37, 986-992
28. Kamat, P. V.; Patrick, B. J. Phys. Chem. 1992, 96, 6829-6834
29. Tang, J.; Durrant, J. R.; Klug, D. R. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 13885-13891
30. Tamaki, Y.; Hara, K.; Katoh, R.; Tachiya, M.; Furube, A. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 11741-11746
31. Tamaki, Y.; Furube, A.; Katoh, R.; Murai, M.; Hara, K.; Arakawa, H.; Tachiya, M. C. R. Chim. 2006, 9, 268-274
32. Bauer, C.; Boschloo, G.; Mukhtar, E.; Hagfeldt, A. Chem. Phys. Lett. 2004, 387, 176-181
33. Gür, E.; Tüzemen, S.; Meral, K.; Onganer, Y. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2009, 94, 549-554
34. Tam, K. H.; Cheung, C. K.; Leung, Y. H.; Djurišić, A. B.; Ling, C. C.; Beling, C. D.; Fung, S.; Kwok, W. M.; Chan, W. K.; Phillips, D. L.; Ding, L.; Ge, W. K. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 20865-20871
35. Studenikin, S. A.; Cocivera, M. J. Appl. Phys. 2002, 91, 5060-5065
36. Ishizumi, A.; Takahashi, Y.; Yamamoto, A.; Kanemitsu, Y. Mater. Sci. Eng., B 2008, 146, 212-215
37. Liu, Y.; Luo, W.; Li, R.; Liu, G.; Antonio, M. R.; Chen, X. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 686-694
38. Cheng, B.; Zhang, Z.; Liu, H.; Han, Z.; Xiao, Y.; Lei, S. J. Mater. Chem. 2010, 20, 7821-7826
39. Li, M.; Xing, G.; Xing, G.; Wu, B.; Wu, T.; Zhang, X.; Sum, T. C. Phys. Rev. B 2013, 87, 115309
40. Vidya, R.; Ravindran, P.; FjellvaÌŠg, H.; Svensson, B. G.; Monakhov, E.; Ganchenkova, M.; Nieminen, R. M. Phys. Rev. B 2011, 83, 045206
41. Patterson, C. H. Phys. Rev. B 2006, 74, 144432
42. Gallino, F.; Pacchioni, G.; Di Valentin, C. J. Chem. Phys. 2010, 133, 144512-10
43. Hu, J.; Pan, B. C. J. Chem. Phys. 2008, 129, 154706-8
44. Lany, S.; Zunger, A. Phys. Rev. B 2005, 72, 035215
45. Kohan, A. F.; Ceder, G.; Morgan, D.; Van de Walle, C. G. Phys. Rev. B 2000, 61, 15019-15027
46. Anderson, J.; Chris, G. V. d. W. Rep. Prog. Phys. 2009, 72, 126501
47. Xing, G. Z.; Lu, Y. H.; Tian, Y. F.; Yi, J. B.; Lim, C. C.; Li, Y. F.; Li, G. P.; Wang, D. D.; Yao, B.; Ding, J.; Feng, Y. P.; Wu, T. AIP Adv. 2011, 1, 022152.
48. Teklemichael, S. T.; Oo, W. M. H.; McCluskey, M. D.; Walter, E. D.; Hoyt, D. W. Appl. Phys. Lett. 2011, 98, 232112-3