-
1
-
-
84867304039
-
-
Novoselov, K. S.; Fal'ko, V. I.; Colombo, L.; Gellert, P. R.; Schwab, M. G.; Kim, K. Nature 2012, 490, 192-200
-
(2012)
Nature
, vol.490
, pp. 192-200
-
-
Novoselov, K.S.1
Fal'Ko, V.I.2
Colombo, L.3
Gellert, P.R.4
Schwab, M.G.5
Kim, K.6
-
2
-
-
76749147494
-
-
Zheng, M.; Takei, K.; Hsia, B.; Fang, H.; Zhang, X.; Ferralis, N.; Ko, H.; Chueh, Y.-L.; Zhang, Y.; Maboudian, R.; Javey, A. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 063110
-
(2010)
Appl. Phys. Lett.
, vol.96
, pp. 063110
-
-
Zheng, M.1
Takei, K.2
Hsia, B.3
Fang, H.4
Zhang, X.5
Ferralis, N.6
Ko, H.7
Chueh, Y.-L.8
Zhang, Y.9
Maboudian, R.10
Javey, A.11
-
3
-
-
74849131704
-
-
Hofrichter, J.; Szafranek, B. N.; Otto, M.; Echtermeyer, T. J.; Baus, M.; Majerus, A.; Geringer, V.; Ramsteiner, M.; Kurz, H. Nano Lett. 2010, 10, 36-42
-
(2010)
Nano Lett.
, vol.10
, pp. 36-42
-
-
Hofrichter, J.1
Szafranek, B.N.2
Otto, M.3
Echtermeyer, T.J.4
Baus, M.5
Majerus, A.6
Geringer, V.7
Ramsteiner, M.8
Kurz, H.9
-
4
-
-
79958826421
-
-
Suzuki, S.; Takei, Y.; Furukawa, K.; Hibino, H. Appl. Phys. Express 2011, 4, 065102
-
(2011)
Appl. Phys. Express
, vol.4
, pp. 065102
-
-
Suzuki, S.1
Takei, Y.2
Furukawa, K.3
Hibino, H.4
-
5
-
-
78650243588
-
-
García, J. M.; He, R.; Jiang, M. P.; Kim, P.; Pfeiffer, L. N.; Pinczuk, A. Carbon 2011, 49, 1006-1012
-
(2011)
Carbon
, vol.49
, pp. 1006-1012
-
-
García, J.M.1
He, R.2
Jiang, M.P.3
Kim, P.4
Pfeiffer, L.N.5
Pinczuk, A.6
-
6
-
-
78649487921
-
-
Sun, Z.; Yan, Z.; Yao, J.; Beitler, E.; Zhu, Y.; Tour, J. M. Nature 2010, 468, 549-552
-
(2010)
Nature
, vol.468
, pp. 549-552
-
-
Sun, Z.1
Yan, Z.2
Yao, J.3
Beitler, E.4
Zhu, Y.5
Tour, J.M.6
-
7
-
-
80055019415
-
-
Peng, Z.; Yan, Z.; Sun, Z.; Tour, J. M. ACS Nano 2011, 5, 8241-8247
-
(2011)
ACS Nano
, vol.5
, pp. 8241-8247
-
-
Peng, Z.1
Yan, Z.2
Sun, Z.3
Tour, J.M.4
-
8
-
-
80053540136
-
-
Shin, H.-J.; Choi, W. M.; Yoon, S.-M.; Han, G. H.; Woo, Y. S.; Kim, E. S.; Chae, S. J.; Li, X.-S.; Benayad, A.; Loc, D. D.; Gunes, F.; Lee, Y. H.; Choi, J.-Y. Adv. Mater. 2011, 23, 4392-4397
-
(2011)
Adv. Mater.
, vol.23
, pp. 4392-4397
-
-
Shin, H.-J.1
Choi, W.M.2
Yoon, S.-M.3
Han, G.H.4
Woo, Y.S.5
Kim, E.S.6
Chae, S.J.7
Li, X.-S.8
Benayad, A.9
Loc, D.D.10
Gunes, F.11
Lee, Y.H.12
Choi, J.-Y.13
-
9
-
-
84872690702
-
-
Xiong, W.; Zhou, Y. S.; Jiang, L. J.; Sarkar, A.; Mahjouri-Samani, M.; Xie, Z. Q.; Gao, Y.; Ianno, N. J.; Jiang, L.; Lu, Y. F. Adv. Mater. 2013, 25, 630-634
-
(2013)
Adv. Mater.
, vol.25
, pp. 630-634
-
-
Xiong, W.1
Zhou, Y.S.2
Jiang, L.J.3
Sarkar, A.4
Mahjouri-Samani, M.5
Xie, Z.Q.6
Gao, Y.7
Ianno, N.J.8
Jiang, L.9
Lu, Y.F.10
-
10
-
-
77951602520
-
-
Saenger, K. L.; Tsang, J. C.; Bol, A. A.; Chu, J. O.; Grill, A.; Lavoie, C. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 153105
-
(2010)
Appl. Phys. Lett.
, vol.96
, pp. 153105
-
-
Saenger, K.L.1
Tsang, J.C.2
Bol, A.A.3
Chu, J.O.4
Grill, A.5
Lavoie, C.6
-
11
-
-
84870449770
-
-
Weatherup, R. S.; Dlubak, B.; Hofmann, S. ACS Nano 2012, 6, 9996-10003
-
(2012)
ACS Nano
, vol.6
, pp. 9996-10003
-
-
Weatherup, R.S.1
Dlubak, B.2
Hofmann, S.3
-
12
-
-
84867888997
-
-
Kidambi, P. R.; Ducati, C.; Dlubak, B.; Gardiner, D.; Weatherup, R. S.; Martin, M.-B.; Seneor, P.; Coles, H.; Hofmann, S. J. Phys. Chem. C 2012, 116, 22492-22501
-
(2012)
J. Phys. Chem. C
, vol.116
, pp. 22492-22501
-
-
Kidambi, P.R.1
Ducati, C.2
Dlubak, B.3
Gardiner, D.4
Weatherup, R.S.5
Martin, M.-B.6
Seneor, P.7
Coles, H.8
Hofmann, S.9
-
13
-
-
84863664302
-
-
Weatherup, R. S.; Bayer, B. C.; Blume, R.; Baehtz, C.; Kidambi, P. R.; Fouquet, M.; Wirth, C. T.; Schlögl, R.; Hofmann, S. ChemPhysChem 2012, 13, 2544-2549
-
(2012)
ChemPhysChem
, vol.13
, pp. 2544-2549
-
-
Weatherup, R.S.1
Bayer, B.C.2
Blume, R.3
Baehtz, C.4
Kidambi, P.R.5
Fouquet, M.6
Wirth, C.T.7
Schlögl, R.8
Hofmann, S.9
-
14
-
-
84871549934
-
-
Dlubak, B.; Martin, M.-B.; Weatherup, R. S.; Yang, H.; Deranlot, C.; Blume, R.; Schloegl, R.; Fert, A.; Anane, A.; Hofmann, S.; Seneor, P.; Robertson, J. ACS Nano 2012, 6, 10930-10934
-
(2012)
ACS Nano
, vol.6
, pp. 10930-10934
-
-
Dlubak, B.1
Martin, M.-B.2
Weatherup, R.S.3
Yang, H.4
Deranlot, C.5
Blume, R.6
Schloegl, R.7
Fert, A.8
Anane, A.9
Hofmann, S.10
Seneor, P.11
Robertson, J.12
-
15
-
-
0842348326
-
-
3 rd ed. Kluwer Academic Publishers: New York.
-
Goldstein, J.; Newbury, D. E.; Joy, D. C.; Lyman, C. E.; Echlin, P.; Lifshin, E.; Sawyer, L.; Michael, J. R. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, 3 rd ed.; Kluwer Academic Publishers: New York, 2003.
-
(2003)
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
-
-
Goldstein, J.1
Newbury, D.E.2
Joy, D.C.3
Lyman, C.E.4
Echlin, P.5
Lifshin, E.6
Sawyer, L.7
Michael, J.R.8
-
17
-
-
33750459007
-
-
Ferrari, A.; Meyer, J.; Scardaci, V.; Casiraghi, C.; Lazzeri, M.; Mauri, F.; Piscanec, S.; Jiang, D.; Novoselov, K.; Roth, S.; Geim, A. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 187401
-
(2006)
Phys. Rev. Lett.
, vol.97
, pp. 187401
-
-
Ferrari, A.1
Meyer, J.2
Scardaci, V.3
Casiraghi, C.4
Lazzeri, M.5
Mauri, F.6
Piscanec, S.7
Jiang, D.8
Novoselov, K.9
Roth, S.10
Geim, A.11
-
18
-
-
80054035300
-
-
Weatherup, R. S.; Bayer, B. C.; Blume, R.; Ducati, C.; Baehtz, C.; Schlögl, R.; Hofmann, S. Nano Lett. 2011, 11, 4154-4160
-
(2011)
Nano Lett.
, vol.11
, pp. 4154-4160
-
-
Weatherup, R.S.1
Bayer, B.C.2
Blume, R.3
Ducati, C.4
Baehtz, C.5
Schlögl, R.6
Hofmann, S.7
-
21
-
-
77951065779
-
-
Portnoi, V. K.; Leonov, A. V.; Mudretsova, S. N.; Fedotov, S. A. Phys. Metals Metallogr. 2010, 109, 153-161
-
(2010)
Phys. Metals Metallogr.
, vol.109
, pp. 153-161
-
-
Portnoi, V.K.1
Leonov, A.V.2
Mudretsova, S.N.3
Fedotov, S.A.4
-
23
-
-
84885464160
-
-
Walters, J. L. Jackson, H. R. Sims, C. T. ASM International: Metals Park, Ohio
-
Gösele, U. In Alloying; Walters, J. L.; Jackson, H. R.; Sims, C. T., Eds.; ASM International: Metals Park, Ohio, 1988; pp 489-519.
-
(1988)
Alloying
, pp. 489-519
-
-
Gösele, U.1
-
24
-
-
0021603803
-
-
Lespade, P.; Marchand, A.; Couzi, M.; Cruege, F. Carbon 1984, 22, 375-385
-
(1984)
Carbon
, vol.22
, pp. 375-385
-
-
Lespade, P.1
Marchand, A.2
Couzi, M.3
Cruege, F.4
-
25
-
-
79960710010
-
-
Halmann, M.; Frei, A.; Steinfeld, A. Miner. Process. Extr. Metall. Rev. 2011, 32, 247-266
-
(2011)
Miner. Process. Extr. Metall. Rev.
, vol.32
, pp. 247-266
-
-
Halmann, M.1
Frei, A.2
Steinfeld, A.3
-
27
-
-
79955715285
-
-
Guenette, M. C.; Tucker, M. D.; Ionescu, M.; Bilek, M. M. M.; McKenzie, D. R. J. Appl. Phys. 2011, 109, 083503
-
(2011)
J. Appl. Phys.
, vol.109
, pp. 083503
-
-
Guenette, M.C.1
Tucker, M.D.2
Ionescu, M.3
Bilek, M.M.M.4
McKenzie, D.R.5
-
28
-
-
84872848707
-
-
Yan, Z.; Ma, L.; Zhu, Y.; Lahiri, I.; Hahm, M.; Liu, Z.; Yang, S.; Xiang, C.; Lu, W.; Peng, Z.; Sun, Z.; Kittrell, C.; Lou, J.; Choi, W.; Ajayan, P. M.; Tour, J. M. ACS Nano 2013, 7, 58-64
-
(2013)
ACS Nano
, vol.7
, pp. 58-64
-
-
Yan, Z.1
Ma, L.2
Zhu, Y.3
Lahiri, I.4
Hahm, M.5
Liu, Z.6
Yang, S.7
Xiang, C.8
Lu, W.9
Peng, Z.10
Sun, Z.11
Kittrell, C.12
Lou, J.13
Choi, W.14
Ajayan, P.M.15
Tour, J.M.16
-
29
-
-
77649128607
-
-
Amama, P. B.; Pint, C. L.; Kim, S. M.; McJilton, L.; Eyink, K. G.; Stach, E. A.; Hauge, R. H.; Maruyama, B. ACS Nano 2010, 4, 895-904
-
(2010)
ACS Nano
, vol.4
, pp. 895-904
-
-
Amama, P.B.1
Pint, C.L.2
Kim, S.M.3
McJilton, L.4
Eyink, K.G.5
Stach, E.A.6
Hauge, R.H.7
Maruyama, B.8
-
30
-
-
0242341417
-
-
Lander, J. J.; Kern, H. E.; Beach, A. L. J. Appl. Phys. 1952, 23, 1305-1309
-
(1952)
J. Appl. Phys.
, vol.23
, pp. 1305-1309
-
-
Lander, J.J.1
Kern, H.E.2
Beach, A.L.3
-
31
-
-
0002075718
-
-
Mishin, Y.; Herzig, C. Mater. Sci. Eng., A 1999, 260, 55-71
-
(1999)
Mater. Sci. Eng., A
, vol.260
, pp. 55-71
-
-
Mishin, Y.1
Herzig, C.2
-
33
-
-
27144559109
-
-
Hofmann, S.; Csányi, G.; Ferrari, A.; Payne, M.; Robertson, J. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 036101
-
(2005)
Phys. Rev. Lett.
, vol.95
, pp. 036101
-
-
Hofmann, S.1
Csányi, G.2
Ferrari, A.3
Payne, M.4
Robertson, J.5
-
34
-
-
79952999918
-
-
Rinaldi, A.; Tessonnier, J.-P.; Schuster, M. E.; Blume, R.; Girgsdies, F.; Zhang, Q.; Jacob, T.; Abd Hamid, S. B.; Su, D. S.; Schlögl, R. Angew. Chem., Int. Ed. 2011, 50, 3313-3317
-
(2011)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.50
, pp. 3313-3317
-
-
Rinaldi, A.1
Tessonnier, J.-P.2
Schuster, M.E.3
Blume, R.4
Girgsdies, F.5
Zhang, Q.6
Jacob, T.7
Abd Hamid, S.B.8
Su, D.S.9
Schlögl, R.10
-
35
-
-
78649487921
-
-
Sun, Z.; Yan, Z.; Yao, J.; Beitler, E.; Zhu, Y.; Tour, J. M. Nature 2010, 468, 549-552
-
(2010)
Nature
, vol.468
, pp. 549-552
-
-
Sun, Z.1
Yan, Z.2
Yao, J.3
Beitler, E.4
Zhu, Y.5
Tour, J.M.6
-
36
-
-
77955559563
-
-
Williams, O. A.; Kriele, A.; Hees, J.; Wolfer, M.; Müller-Sebert, W.; Nebel, C. E. Chem. Phys. Lett. 2010, 495, 84-89
-
(2010)
Chem. Phys. Lett.
, vol.495
, pp. 84-89
-
-
Williams, O.A.1
Kriele, A.2
Hees, J.3
Wolfer, M.4
Müller-Sebert, W.5
Nebel, C.E.6
-
37
-
-
84860345018
-
-
Dlubak, B.; Kidambi, P. R.; Weatherup, R. S.; Hofmann, S.; Robertson, J. Appl. Phys. Lett. 2012, 100, 173113
-
(2012)
Appl. Phys. Lett.
, vol.100
, pp. 173113
-
-
Dlubak, B.1
Kidambi, P.R.2
Weatherup, R.S.3
Hofmann, S.4
Robertson, J.5
-
39
-
-
80052023775
-
-
Wang, H.; Taychatanapat, T.; Hsu, A. IEEE Electron Device Lett. 2011, 32, 1209-1211
-
(2011)
IEEE Electron Device Lett.
, vol.32
, pp. 1209-1211
-
-
Wang, H.1
Taychatanapat, T.2
Hsu, A.3
-
40
-
-
84859125408
-
-
Gao, L.; Ren, W.; Xu, H.; Jin, L.; Wang, Z.; Ma, T.; Ma, L.-P.; Zhang, Z.; Fu, Q.; Peng, L.-M.; Bao, X.; Cheng, H.-M. Nat. Commun. 2012, 3, 699
-
(2012)
Nat. Commun.
, vol.3
, pp. 699
-
-
Gao, L.1
Ren, W.2
Xu, H.3
Jin, L.4
Wang, Z.5
Ma, T.6
Ma, L.-P.7
Zhang, Z.8
Fu, Q.9
Peng, L.-M.10
Bao, X.11
Cheng, H.-M.12
|