Holistic method for evaluating large area transparent conducting electrodes

ACS Applied Materials and Interfaces

Volumn 5, Issue 3, 2013, Pages 730-736

  Gupta, Ritu ^a   Kulkarni, Giridhar U ^a  

^a JAWAHARLAL NEHRU CENTRE FOR ADVANCED SCIENTIFIC RESEARCH   (India)

Author keywords

diffraction efficiency; Figure of Merit; surface defects; transmittance; uniformity

Indexed keywords

FIGURE OF MERIT (FOM); FIGURE OF MERITS; GRATING MATERIALS; GRATING PERIODS; HIGH RESOLUTION; LENGTH SCALE; LOCAL MEASUREMENT; LOCAL VARIATIONS; METAL GRATING; NON-UNIFORMITIES; PD GRATINGS; SCREENING METHODS; TRANSMISSION GRATINGS; TRANSMITTANCE; TRANSPARENT CONDUCTING ELECTRODES; UNIFORMITY;

DIFFRACTION EFFICIENCY; DIODES; SURFACE DEFECTS;

PIXELS;

EID: 84873660493     PISSN: 19448244     EISSN: 19448252     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/am302264a     Document Type: Article

References (48)

1. Hecht, D. S.; Hu, L.; Irvin, G. Adv. Mater. 2011, 23, 1482
2. Pasquarelli, R. M.; Ginley, D. S.; O'Hayre, R. Chem. Soc. Rev. 2011, 40, 5406-5441
3. Ellmer, K. Nat. Photonics 2012, 6, 809-817
4. De, S.; King, P. J.; Lotya, M.; O'Neill, A.; Doherty, E. M.; Hernandez, Y.; Duesberg, G. S.; Coleman, J. N. Small 2010, 6, 458-464
5. Becerril, H. A.; Mao, J.; Liu, Z.; Stoltenberg, R. M.; Bao, Z.; Chen, Y. ACS Nano 2008, 2, 463-470
6. Eda, G.; Fanchini, G.; Chhowalla, M. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 270
7. Wassei, J. K.; Kaner, R. B. Mater. Today 2010, 13, 52-59
8. Lotya, M.; Hernandez, Y.; King, P. J.; Smith, R. J.; Nicolosi, V.; Karlsson, L. S.; Blighe, F. M.; De, S.; Wang, Z.; McGovern, I. T. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 3611
9. Tung, V. C.; Allen, M. J.; Yang, Y.; Kaner, R. B. Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 25
10. Wang, X.; Zhi, L.; Mullen, K. Nano Lett. 2007, 8, 323
11. Dan, B.; Irvin, G. C.; Pasquali, M. ACS Nano 2009, 3, 835
12. Nasibulin, A. G.; Kaskela, A.; Mustonen, K.; Anisimov, A. S.; Ruiz, V.; Kivistö, S.; Rackauskas, S.; Timmermans, M. Y.; Pudas, M.; Aitchison, B.; Kauppinen, M.; Brown, D. P.; Okhotnikov, O. G.; Kauppinen, E. I. ACS Nano 2011, 5, 3214
13. Rowell, M. W.; Topinka, M. A.; McGehee, M. D.; Prall, H. J.; Dennler, G.; Sariciftci, N. S.; Hu, L.; Gruner, G. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 233506
14. Wang, R.; Sun, J.; Gao, L.; Zhang, J. ACS Nano 2010, 4, 4890
15. Wu, Z.; Chen, Z.; Du, X.; Logan, J. M.; Sippel, J.; Nikolou, M.; Kamaras, K.; Reynolds, J. R.; Tanner, D. B.; Hebard, A. F.; Rinzler, A. G. Science 2004, 305, 1273
16. Lee, J. Y.; Lee, J.-Y.; Connor, S. T.; Cui, Y.; Peumans, P. Nano Lett. 2008, 8, 689
17. Yang, L.; Zhang, T.; Zhou, H.; Price, S. C. B.; Wiley, J.; You, W. ACS Appl. Mater. Interfaces 2011, 3, 4075-4084
18. Rathmell, A. R.; Bergin, S. M.; Hua, Y.-L.; Li, Z.-Y.; Wiley, B. J. Adv. Mater. 2010, 22, 3558
19. Wu, H.; Hu, L.; Rowell, M. W.; Kong, D.; Cha, J. J.; McDonough, J. R.; Zhu, J.; Yang, Y.; McGehee, M. D.; Cui, Y. Nano Lett. 2010, 10, 4242
20. De, S.; Higgins, T. M.; Lyons, P. E.; Doherty, E. M.; Nirmalraj, P. N.; Blau, W. J.; Boland, J. J.; Coleman, J. N. ACS Nano 2009, 3, 1767
21. King, P. J.; Khan, U.; Lotya, M.; De, S.; Coleman, J. N. ACS Nano 2010, 4, 4238
22. Zeng, X.-Y.; Zhang, Q.-K.; Yu, R.-M.; Lu, C.-Z. Adv. Mater. 2010, 22, 4484
23. Shim, B. S.; Zhu, J.; Jan, E.; Critchley, K.; Kotov, N. A. ACS Nano 2010, 4, 3725
24. De, S.; King, P. J.; Lyons, P. E.; Khan, U.; Coleman, J. N. ACS Nano 2010, 4, 7064
25. Haacke, G. J. Appl. Phys. 1976, 47, 4086
26. De, S.; Coleman, J. N. ACS Nano 2010, 4, 2713
27. Barnes, T. M.; Reese, M. O.; Bergeson, J. D.; Larsen, B. A.; Blackburn, J. L.; Beard, M. C.; Bult, J.; van de Lagemaat, J. Adv. Energy Mater. 2012, 2, 353-360
28. Kaskela, A.; Nasibulin, A. G.; Timmermans, M. Y.; Aitchison, B.; Papadimitratos, A.; Tian, Y.; Zhu, Z.; Jiang, H.; Brown, D. P.; Zakhidov, A.; Kauppinen, E. I. Nano Lett. 2010, 10, 4349
29. Doherty, E. M.; De, S.; Lyons, P. E.; Shmeliov, A.; Nirmalraj, P. N.; Scardaci, V.; Joimel, J.; Blau, W. J.; Boland, J. J.; Coleman, J. N. Carbon 2009, 47, 2466
30. De, S.; Lyons, P. E.; Sorel, S.; Doherty, E. M.; King, P. J.; Blau, W. J.; Nirmalraj, P. N.; Boland, J. J.; Scardaci, V.; Joimel, J.; Coleman, J. N. ACS Nano 2009, 3, 714
31. Hecht, D. S.; Thomas, D.; Hu, L.; Ladous, C.; Lam, T.; Park, Y.; Irvin, G.; Drzaic, P. J. Soc. Inf. Display 2009, 17, 941
32. Wang, J.; Liang, M.; Fang, Y.; Qiu, T.; Zhang, J.; Zhi, L. Adv. Mater. 2012, 24, 2874-2878
33. Lee, S.; Lee, K.; Liu, C. H.; Zhong, Z. Nanoscale 2012, 4, 639
34. Catrysse, P. B.; Fan, S. Nano Lett. 2010, 10, 2944
35. Tvingstedt, K.; Inganäs, O. Adv. Mater. 2007, 19, 2893
36. Kang, M. G.; Guo, L. J. Adv. Mater. 2007, 19, 1391
37. Kang, M. G.; Kim, M. S.; Kim, J.; Guo, L. J. Adv. Mater. 2008, 20, 4408
38. Boya, R.; Sagade, A. A.; Gupta, R.; Kulkarni, G. U. J. Nanosci. Nanotechnol. 2011, 11, 152
39. Hidber, P. C.; Helbig, W.; Kim, E.; Whitesides, G. M. Langmuir 1996, 12, 1375-1380
40. Madaria, A. R.; Kumar, A.; Zhou, C. Nanotechnology 2011, 22, 245201
41. Dewan, R.; Knippa, D. J. Appl. Phys. 2009, 106, 074901
42. Shallcross, R. C.; Chawla, G. S.; Marikkar, F. S.; Tolbert, S.; Pyun, J.; Armstrong, N. R. ACS Nano 2009, 3, 3629-3637
43. Lu, P. P. PhD. Dissertation, Diffraction gratings for optical sensing, Stanford University, September 2009.
44. Chen, M. F.; Chen, Y. P.; Hsiao, W. T.; Gu, Z. P. Thin Film Solids 2007, 515, 8515-8518
45. Cotterell, B.; Chen, Z. Int. J. Fract. 2000, 104, 169-179
46. Bhagat, S. K.; Han, H.; Zoo, Y.; Lewis, J.; Grego, S.; Lee, K.; Iyer, S.; Alford, T. L. Thin Solid Films 2008, 516, 4064-4069
47. Krebs, F. C.; Søndergaard, R.; Jørgensen, M. Sol. Energy Mater. Sol. Cells 2011, 95, 1348-1353
48. Visscher, M.; Struik, K. G. Prec. Eng. 1994, 16, 192-98