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Volumn 102, Issue 1, 2013, Pages

Detection of electrically formed photosensitive area in Ca-doped BiFeO 3 thin films

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CA-DOPED; DEFECT LEVELS; LOCAL ELECTRONIC STRUCTURES; SPATIALLY RESOLVED;

EID: 84872318520     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4774381     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.