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Volumn 30, Issue 2, 2012, Pages

Analysis of defect-free GaSb/GaAs(001) quantum dots grown on the Sb-terminated (2 8) surface

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ASPECT RATIO; SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS; SURFACE RECONSTRUCTION; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

EID: 84861589967     PISSN: 21662746     EISSN: 21662754     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.3675455     Document Type: Article
Times cited : (15)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.