-
1
-
-
66149083087
-
-
Reineke, S.; Lindner, F.; Schwartz, G.; Seidler, N.; Walzer, K.; Lüssem, G.; Leo, K. Nature 2009, 459, 234-238
-
(2009)
Nature
, vol.459
, pp. 234-238
-
-
Reineke, S.1
Lindner, F.2
Schwartz, G.3
Seidler, N.4
Walzer, K.5
Lüssem, G.6
Leo, K.7
-
2
-
-
77049102022
-
-
Kamtekar, K. T.; Monkman, A. P.; Bryce, M. R. Adv. Mater. 2010, 22, 572-582
-
(2010)
Adv. Mater.
, vol.22
, pp. 572-582
-
-
Kamtekar, K.T.1
Monkman, A.P.2
Bryce, M.R.3
-
3
-
-
78650815245
-
-
Gather, M. C.; Köhnen, A.; Meerholz, K. Adv. Mater. 2011, 23, 233-248
-
(2011)
Adv. Mater.
, vol.23
, pp. 233-248
-
-
Gather, M.C.1
Köhnen, A.2
Meerholz, K.3
-
4
-
-
79151469587
-
-
Tao, Y. T.; Wang, Q.; Yang, C.; Qin, J.; Ma, D. G. ACS Appl. Mater. Interfaces 2010, 2, 2813-2818
-
(2010)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.2
, pp. 2813-2818
-
-
Tao, Y.T.1
Wang, Q.2
Yang, C.3
Qin, J.4
Ma, D.G.5
-
5
-
-
34548685635
-
-
Meyer, J.; Hamwi, S.; Bülow, T.; Johannes, -H. H.; Riedl, T.; Kowalsky, W. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 113506
-
(2007)
Appl. Phys. Lett.
, vol.91
, pp. 113506
-
-
Meyer, J.1
Hamwi, S.2
Bülow, T.3
Johannes, H.H.4
Riedl, T.5
Kowalsky, W.6
-
6
-
-
79956291546
-
-
Helander, M. G.; Wang, Z. B.; Qiu, J.; Greiner, M. T.; Puzzo, D. P.; Liu, Z. W.; Lu, Z. H. Science 2011, 332, 944-947
-
(2011)
Science
, vol.332
, pp. 944-947
-
-
Helander, M.G.1
Wang, Z.B.2
Qiu, J.3
Greiner, M.T.4
Puzzo, D.P.5
Liu, Z.W.6
Lu, Z.H.7
-
7
-
-
79951906209
-
-
Wang, Z. B.; Helander, M. G.; Qiu, J.; Puzzo, D. P.; Greiner, M. T.; Liu, Z. W.; Lu, Z. H. Appl. Phys. Lett. 2011, 98, 073310
-
(2011)
Appl. Phys. Lett.
, vol.98
, pp. 073310
-
-
Wang, Z.B.1
Helander, M.G.2
Qiu, J.3
Puzzo, D.P.4
Greiner, M.T.5
Liu, Z.W.6
Lu, Z.H.7
-
8
-
-
0002705372
-
-
Adachi, C.; Kwong, R.; Forrest, S. R. Org. Electron. 2001, 2, 37-43
-
(2001)
Org. Electron.
, vol.2
, pp. 37-43
-
-
Adachi, C.1
Kwong, R.2
Forrest, S.R.3
-
9
-
-
0032134617
-
-
Malliaras, G. G.; Salem, J. R.; Brock, P. J.; Scott, J. C. J. Appl. Phys. 1998, 84, 1583-1587
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.84
, pp. 1583-1587
-
-
Malliaras, G.G.1
Salem, J.R.2
Brock, P.J.3
Scott, J.C.4
-
10
-
-
84856290712
-
-
Liao, L. S.; Ren, X.; Begley, W. J.; Tyan, Y. S.; Pellow, C. A. SID'08 Dig. 2008, 818-821
-
(2008)
SID'08 Dig.
, pp. 818-821
-
-
Liao, L.S.1
Ren, X.2
Begley, W.J.3
Tyan, Y.S.4
Pellow, C.A.5
-
11
-
-
41549086654
-
-
Shin, W. J.; Lee, J. Y.; Kim, J. C.; Yoon, T. H.; Kim, T. S.; Song, O. K. Org. Electron. 2008, 9, 333-338
-
(2008)
Org. Electron.
, vol.9
, pp. 333-338
-
-
Shin, W.J.1
Lee, J.Y.2
Kim, J.C.3
Yoon, T.H.4
Kim, T.S.5
Song, O.K.6
-
12
-
-
30844443724
-
-
Tsang, S. W.; So, S. K.; Xu, J. B. J. Appl. Phys. 2006, 99, 013706
-
(2006)
J. Appl. Phys.
, vol.99
, pp. 013706
-
-
Tsang, S.W.1
So, S.K.2
Xu, J.B.3
-
13
-
-
33748532863
-
-
Hsieh, M. T.; Chang, C. C.; Chen, J. F.; Chen, C.H. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 103510
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 103510
-
-
Hsieh, M.T.1
Chang, C.C.2
Chen, J.F.3
Chen . C, H.4
-
14
-
-
58349105840
-
-
Ho, M. H.; Hsieh, M. T.; Lin, K. H.; Chen, T. M.; Chen, J. F.; Chen, C. H. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 023306
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.94
, pp. 023306
-
-
Ho, M.H.1
Hsieh, M.T.2
Lin, K.H.3
Chen, T.M.4
Chen, J.F.5
Chen, C.H.6
-
15
-
-
36249017788
-
-
Tong, K. L.; Tsang, S. W.; Tsung., K. K.; Tse, S. C.; So, S. K. J. Appl. Phys. 2007, 102, 093705
-
(2007)
J. Appl. Phys.
, vol.102
, pp. 093705
-
-
Tong, K.L.1
Tsang, S.W.2
Tsung, K.K.3
Tse, S.C.4
So, S.K.5
-
16
-
-
77950501822
-
-
Hsieh, M. T.; Ho, M. H.; Lin, K. H.; Chen, J. F.; Chen, T. M.; Chen, C. H. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 133310
-
(2010)
Appl. Phys. Lett.
, vol.96
, pp. 133310
-
-
Hsieh, M.T.1
Ho, M.H.2
Lin, K.H.3
Chen, J.F.4
Chen, T.M.5
Chen, C.H.6
-
17
-
-
77957286166
-
-
Chen, C. C.; Huang, B. C.; Lin, M. S.; Lu, Y. J.; Cho, T. Y.; Chang, C. H.; Tien, K. C.; Liu, S. H.; Ke, T. H.; Wu, C. C. Org. Electron. 2010, 11, 1901-1908
-
(2010)
Org. Electron.
, vol.11
, pp. 1901-1908
-
-
Chen, C.C.1
Huang, B.C.2
Lin, M.S.3
Lu, Y.J.4
Cho, T.Y.5
Chang, C.H.6
Tien, K.C.7
Liu, S.H.8
Ke, T.H.9
Wu, C.C.10
-
19
-
-
67649216558
-
-
Kröger, M.; Hamwi, S.; Meyer, J.; Riedl, T.; Kowalsky, W.; Kahn, A. Org. Electron. 2009, 10, 932-938
-
(2009)
Org. Electron.
, vol.10
, pp. 932-938
-
-
Kröger, M.1
Hamwi, S.2
Meyer, J.3
Riedl, T.4
Kowalsky, W.5
Kahn, A.6
-
20
-
-
70349655699
-
-
Kröger, M.; Hamwi, S.; Meyer, J.; Riedl, T.; Kowalsky, W.; Kahn, A. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 123301
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.95
, pp. 123301
-
-
Kröger, M.1
Hamwi, S.2
Meyer, J.3
Riedl, T.4
Kowalsky, W.5
Kahn, A.6
-
21
-
-
77950480181
-
-
Meyer, J.; Shu, A.; Kröger, M.; Kahn, A. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 133308
-
(2010)
Appl. Phys. Lett.
, vol.96
, pp. 133308
-
-
Meyer, J.1
Shu, A.2
Kröger, M.3
Kahn, A.4
-
22
-
-
0037177128
-
-
Drechsel, J.; Pfeiffer, M.; Zhou, X.; Nollau, A.; Leo, K. Synth. Met. 2002, 127, 201-205
-
(2002)
Synth. Met.
, vol.127
, pp. 201-205
-
-
Drechsel, J.1
Pfeiffer, M.2
Zhou, X.3
Nollau, A.4
Leo, K.5
-
23
-
-
0031212864
-
-
Meier, M.; Karg, S.; Riess, W. J. Appl. Phys. 1997, 82, 1961-1966
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.82
, pp. 1961-1966
-
-
Meier, M.1
Karg, S.2
Riess, W.3
|