Polycrystalline graphene ribbons as chemiresistors

Advanced Materials

Volumn 24, Issue 1, 2012, Pages 53-57

  Salehi Khojin, Amin ^a,c   Estrada, David ^b   Lin, Kevin Y ^a   Bae, Myung Ho ^b   Xiong, Feng ^a,b   Pop, Eric ^a,b   Masel, Richard I ^c  

^a UNIVERSITY OF ILLINOIS AT URBANA CHAMPAIGN   (United States)

^b University of Illinois at Urbana Champaign   (United States)

^c DIOXIDE MATERIALS   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARBON NANOTUBE FILMS; CHEMICAL SENSING; CHEMIRESISTORS; LINEAR DEFECT; POLYCRYSTALLINE; SENSITIVITY ENHANCEMENTS;

CARBON NANOTUBES; DEFECTS; GRAPHENE; POINT DEFECTS; SENSORS;

CHEMICAL VAPOR DEPOSITION;

CARBON NANOTUBE; GOLD; GRAPHITE; TOLUENE;

ARTICLE; CHEMISTRY; CRYSTALLIZATION; GAS;

CRYSTALLIZATION; GASES; GOLD; GRAPHITE; NANOTUBES, CARBON; TOLUENE;

EID: 84855264050     PISSN: 09359648     EISSN: 15214095     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adma.201102663     Document Type: Article

References (35)

1. M. J. Allen, V. C. Tung, R. B. Kaner, Chem. Rev. 2010, 110, 132.
2. S. Das, S. Adam, E. H. Hwang, E. Rossi, Rev. Modern Phys. 2011, 83, 407.
3. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, M. I. Katsnelson, I. V. Grigorieva, S. V. Dubonos, A. A. Firsov, Nature 2005, 438, 197.
4. A. K. Geim, K. S. Novoselov, Nat. Mater. 2007, 6, 183.
5. K. I. Bolotin, K. J. Sikes, Z. Jiang, M. Klima, G. Fudenberg, J. Hone, P. Kim, H. L. Stormer, Solid State Commun. 2008, 146, 351.
6. A. K. Geim, Science 2009, 324, 1530.
7. Y. Dan, Y. Lu, N. J. Kybert, Z. Luo, A. T. C. Johnson, Nano Lett. 2009, 9, 1472.
8. J. T. Robinson, F. K. Perkins, E. S. Snow, Z. Wei, P. E. Sheehan, Nano Lett. 2008, 8, 3137.
9. R. K. Joshi, H. Gomez, F. Alvi, A. Kumar, J. Phys. Chem. C 2010, 114, 6610.
10. L. Ye, B. R. Goldsmith, N. J. Kybert, A. T. C. Johnson, Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 083107.
11. F. Schedin, A. K. Geim, S. V. Morozov, E. W. Hill, P. Blake, M. I. Katsnelson, K. S. Novoselov, Nat. Mater. 2007, 6, 652.
12. N. Govind, J. Andzelm, A. Maiti, IEEE Sensors J. 2008, 8, 837.
13. J. A. Robinson, E. S. Snow, S. C. Badescu, T. L. Reinecke, F. K. Perkins, Nano Lett. 2006, 6, 1747.
14. A. Salehi-Khojin, F. Khalili-Araghi, M. Kuroda, K. Y. Lin, Jean-Pierre Leburton, R. I. Masel, ACS Nano 2010, 5, 153.
15. P. Y. Huang, C. S. Ruiz-Vargas, A. M. van der Zande, W. S. Whitney, M. P. Levendorf, J. W. Kevek, S. Garg, J. S. Alden, C. J. Hustedt, Y. Zhu, J. Park, P. L. McEuen, D. A. Muller, Nature 2011, 469, 389.
16. J. Koepke, D. Estrada, J. D. Wood, E. Pop, J. W. Lyding, " Scanning tunneling microscopy study of grain boundaries in graphene grown by chemical vapor deposition on copper foil ", presented at Am. Phys. Soc. March Meeting, 2011.
17. Q. Yu, L. A. Jauregui, W. Wu, R. Colby, J. Tian, Z. Su, H. Cao, Z. Liu, D. Pandey, D. Wei, T. F. Chung, P. Peng, N. P. Guisinger, E. A. Stach, J. Bao, S.-S. Pei, Y. P. Chen, Nat. Mater. 2011, 10, 443.
18. J. D. Wood, S. W. Schmucker, A. S. Lyons, E. Pop, J. W. Lyding, Nano Lett. 2011, 11, 4547.
19. S. Bhaviripudi, X. Jia, M. S. Dresselhaus, J. Kong, Nano Lett. 2010, 10, 4128.
20. X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. K. Banerjee, L. Colombo, R. S. Ruoff, Science 2009, 324, 1312.
21. L. M. Malard, M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, M. S. Dresselhaus, Phys. Rep. 2009, 473, 51.
22. L. G. Cancado, K. Takai, T. Enoki, M. Endo, Y. A. Kim, H. Mizusaki, A. Jorio, L. N. Coelho, R. Magalhaes-Paniago, M. A. Pimenta, Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 163106.
23. A. Jorio, M. Dresselhaus, R. Saito, G. F. Dresselhaus, Raman Spectroscopy in Graphene Related Systems, Wiley-VCH, Weinheim, Germany 2011.
24. Z. Ni, J. P. Jerrell, K. R. Cadwallader, R. I. Masel, Anal. Chem. 2007, 79, 1290.
25. M. Ishigami, J. H. Chen, W. G. Cullen, M. S. Fuhrer, E. D. Williams, Nano Lett. 2007, 7, 1643.
26. J. An, E. Voelkl, J. W. Suk, X. Li, C. W. Magnuson, L. Fu, P. Tiemeijer, M. Bischoff, B. Freitag, E. Popova, R. S. Ruoff, ACS Nano 2011, 5, 2433.
27. J. Lahiri, Y. Lin, P. Bozkurt, I. I. Oleynik, M. Batzill, Nat. Nanotechnol. 2010, 5, 326.
28. Y. Liu, B. I. Yakobson, Nano Lett. 2010, 10, 2178.
29. A. Salehi-Khojin, K. Y. Lin, R. I. Masel, " The role of defects on the performance of nanotube chemiresistors ", presented at Proc. IEEE Sensors 2010, 2620 (DOI: 10.1109/ICSENS.2010.5690217).
30. E. S. Snow, F. K. Perkins, E. J. Houser, S. C. Badescu, T. L. Reinecke, Science 2005, 307, 1942.
31. A. C. Ferrari, J. C. Meyer, V. Scardaci, C. Casiraghi, M. Lazzeri, F. Mauri, S. Piscanec, D. Jiang, K. S. Novoselov, S. Roth, A. K. Geim, Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 187401.
32. K. T. Lam, D. Seah, S. K. Chin, S. Bala Kumar, G. Samudra, Y. C. Yeo, G. Liang, IEEE Electron Device Lett. 2010, 31, 555.
33. J. P. Robinson, H. Schomerus, L. Oroszlany, V. I. Fal'ko, Phys. Rev. Lett. 2008, 101, 196803.
34. A. Salehi-Khojin, K. Y. Lin, C. R. Field, R. I. Masel, Science 2011, 329, 1327.
35. A. Salehi-Khojin, C. R. Field, J. Yeom, M. A. Shannon, R. I. Masel, Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 163110.