Optical control of edge chirality in graphene

Nano Letters

Volumn 11, Issue 11, 2011, Pages 4874-4878

  Begliarbekov, Milan ^a   Sasaki, Ken Ichi ^b   Sul, Onejae ^a   Yang, Eui Hyeok ^a   Strauf, Stefan ^a  

^a Stevens Institute of Technology   (United States)

^b NTT Basic Research Laboratories   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANNEALING EXPERIMENTS; ANNEALING TIME; EDGE RECONSTRUCTION; GRAPHENE DEVICES; GRAPHENE NANORIBBONS; LITHOGRAPHIC PATTERNING; OPTICAL CONTROL; POLARIZATION CONTRAST; TRANSPORT MEASUREMENTS; ZIGZAG EDGES;

CHIRALITY; ELECTRON BEAMS; ENANTIOMERS; RAMAN SPECTROSCOPY; STEREOCHEMISTRY;

GRAPHENE;

GRAPHITE; NANOMATERIAL;

ARTICLE; CHEMISTRY; LIGHT; MATERIALS TESTING; METHODOLOGY; PARTICLE SIZE; RADIATION SCATTERING; RAMAN SPECTROMETRY; REFRACTOMETRY; SURFACE PROPERTY; ULTRASTRUCTURE;

GRAPHITE; LIGHT; MATERIALS TESTING; NANOSTRUCTURES; PARTICLE SIZE; REFRACTOMETRY; SCATTERING, RADIATION; SPECTRUM ANALYSIS, RAMAN; SURFACE PROPERTIES;

EID: 80755159122     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl2027316     Document Type: Article

References (43)

1. Dujardin, G.; Walkup, R. E.; Avouris, P. Science 1992, 255, 1232-1235
2. Baccarelli, I.; Gianturco, F. A.; Grandi, A.; Sanna, N.; Lucchese, R. R.; Bald, I.; Kopyra, J.; Illenberger, E. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 6269-6277
3. Levis, R. J.; Menkir, G. M.; Rabitz, H. Science 2001, 292, 709-713
4. Assion, A.; Baumert, T.; Bergt, M.; Brixner, T.; Kiefer, B.; Seyfried, V.; Strehle, M.; Gerbe, G. Science 1998, 282, 919-922
5. Geim, A. K. Science 2009, 324, 1530-1534
6. Bonaccorso, F.; Sun, Z.; Hasan, T.; Ferrari, A. C. Nat. Photonics 2010, 4, 611-622
7. Chen, C.; Rosenblatt, S.; Bolotin, K. I.; Kalb, W.; Kim, P.; Kymissis, I.; Stormer, H. L.; Heinz, T. F.; Hone, J. Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 861-867
8. Son, Y.-W.; Cohen, M. L.; Louie, S. G. Nature 2006, 444, 347-349
9. en Jiang, D.; Sumpter, B. G.; Dai, S. J. Chem. Phys. 2007, 126, 134701
10. Barone, V.; Hod, O.; E, S. G. Nano Lett. 2006, 6, 2748-2754
11. Han, M. Y.; Ozyilmaz, B.; Zhang, Y.; Kim, P. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 206805
12. Ritter, K. A.; Lyding, J. W. Nat. Mater. 2009, 8, 235-242
13. Son, Y.-W.; Cohen, M. L.; Louie, S. G. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 216803
14. Jia, X.; Hofmann, M.; Meunier, V.; Sumpter, B. G.; Campos-Delgado, J.; Romo-Herrera, J. M.; Son, H.; Hsieh, Y.-P.; Reina, A.; Kong, J.; Terrones, M.; Dresselhaus, M. S. Science 2009, 323, 1701-1705
15. Girit, C. O.; Meyer, J. C.; Erni, R.; Rossell, M. D.; Kisielowski, C.; Yang, L.; Park, C.-H.; Crommie, M. F.; Cohen, M. L.; Louie, S. G.; Zettl, A. Science 2009, 323, 1705-1708
16. Huard, B.; Sulpizio, J. A.; Stander, N.; Todd, K.; Yang, B.; Goldhaber-Gordon, D. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 236803
17. Begliarbekov, M.; Sul, O.; Ai, N.; Yang, E.-H.; Strauf, S. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 122106
18. Lin, Y. M.; Dimitrakopoulos, C.; Jenkins, K. A.; Farmer, D. B.; Chiu, H. Y.; Grill, A.; Avouris, P. Science 2010, 327, 662
19. Liao, L.; Lin, Y.-C.; Bao, M.; Cheng, R.; Bai, J.; Liu, Y.; Qu, Y.; Wang, K. L.; Huang, Y.; Duan, X. Nature 2010, 467, 305-308
20. Begliarbekov, M.; Sul, O.; Santanello, J.; Ai, N.; Zhang, X.; Yang, E.; Strauf, S. Nano Lett. 2011, 11, 1254
21. Begliarbekov, M.; Strauf, S.; Search, C. P. Nanotechnology 2011, 22, 165203
22. Krauss, B.; Nemes-Incze, P.; Skakalova, V.; Biro, L. P.; von Klitzing, K.; Smet, J. H. Nano Lett. 2010, 10, 4544-4548
23. Tapaszto, L.; Dobrik, G.; Lambin, P.; Biro, L. P. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 397-401
24. Begliarbekov, M.; Sul, O.; Kalliakos, S.; Yang, E.-H.; Strauf, S. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 031908
25. Sasaki, K.; Saito, R.; Wakabayashi, K.; Enoki, T. J. Phys. Soc. Jpn. 2010, 79, 044603
26. Zhang, W.; Li, L. J. ACS Nano 2011, 5, 3347-3353
27. Koskinen, P.; Malola, S.; Hakkinen, H. Phys. Rev. Lett. 2008, 101, 115502
28. Ferrari, A. C.; Meyer, J. C.; Scardaci, V.; Casiraghi, C.; Lazzeri, M.; Mauri, F.; Piscanec, S.; Jiang, D.; Novoselov, K. S.; Roth, S.; Geim, A. K. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 187401
29. You, Y.; Ni, Z. H.; Yu, T.; Shen, Z. X. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 163112
30. Cong, C.; Yu, T.; Wang, H. ACS Nano 2010, 4, 3175-3180
31. Cancado, L. G.; Pimenta, M. A.; Neves, B. R. A.; Dantas, M. S. S.; Jorio, A. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 247401
32. Pimenta, M.; Dresselhaus, G.; Dresselhaus, M.; Cancado, L.; Jorio, A.; Saito, R. Phys. Chem. Chem. Phys. 2007, 9, 1276-1290
33. Lazzeri, M.; Mauri, F. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 266407
34. Ando, T. J. Phys. Soc. Jpn. 1996, 75, 124701
35. Yan, J.; Zhang, Y.; Kim, P.; Pinczuk, A. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 166802
36. Berciaud, S.; Han, M. Y.; Mak, K. F.; Brus, L. E.; Kim, P.; Heinz, T. F. Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 227401
37. Ryu, S.; Liu, L.; Berciaud, S.; Yu, Y.-J.; Liu, H.; Kim, P.; Flynn, G. W.; Brus, L. E. Nano Lett. 2010, 10, 4944
38. Ryu, S.; Maultzsch, J.; Han, M. Y.; Kim, P.; Brus, L. E. ACS Nano 2011, 5, 4123
39. Molitor, F.; Stampfer, C.; Guttinger, J.; Jacobsen, A.; Ihn, T.; Enssli, K. Semicond. Sci. Technol. 2010, 25, 034002
40. Han, M. Y.; Brant, J. C.; Kim, P. Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 056801
41. Krauss, B.; Lohmann, T.; Chae, D.-H.; Haluska, M.; von Klitzing, K.; Smet, J. H. Phys. Rev. B 2009, 79, 165428
42. Tao, C.; Jiao, L.; Yazyev, O. V.; Chen, Y.-C.; Feng, J.; Zhang, X.; Capaz, R. B.; Tour, J. M.; Zettl, A.; Louie, S. G.; Dai, H.; Crommie, M. F. Nat. Phys. 2011, 7, 616
43. Wang, Z. F.; Li, Q.; Shi, Q. W.; Wang, X.; Hou, J. G.; Zheng, H.; Chen, J. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 133119