Edge chirality determination of graphene by Raman spectroscopy

Applied Physics Letters

Volumn 93, Issue 16, 2008, Pages

  You, Yumeng ^a   Ni, Zhenhua ^a   Yu, Ting ^a   Shen, Zexiang ^a  

^a NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY   (Singapore)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHIRALITY; ENANTIOMERS; RAMAN SCATTERING; RAMAN SPECTROSCOPY; SPECTRUM ANALYSIS; STEREOCHEMISTRY;

GRAPHENE; MICROMECHANICAL CLEAVAGES; PRACTICAL METHODS; RAMAN FEATURES; RAMAN IMAGING; RELIABLE; SINGLE-LAYER; ZIGZAG EDGES;

CRYSTAL ORIENTATION;

EID: 54949101116     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.3005599     Document Type: Article

References (26)

1. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Crigorieva, and A. A. Firsov, Science 306, 666 (2004).
2. A. K. Geim and K. S. Novoselov, Nature Mater. 6, 183 (2007).
3. K. I. Bolotin, K. J. Sikes, J. Hone, H. L. Stormer, and P. Kim, Phys. Rev. Lett. 101, 096802 (2008).
4. K. I. Bolotin, K. J. Sikes, Z. Jiang, G. Fundenberg, J. Hone, P. Kim, and H. L. Stormer, Solid State Commun. 146, 351 (2008).
5. X. L. Li, X. R. Wang, L. Zhang, S. W. Lee, and H. J. Dai, Science 319, 1229 (2008).
6. M. Y. Han, B. Ozyilmaz, Y. B. Zhang, and P. Kim, Phys. Rev. Lett. 98, 206805 (2007).
7. Y. W. Son, M. L. Cohen, and S. G. Louie, Nature (London) 444, 347 (2006).
8. Y. W. Son, M. L. Cohen, and S. G. Louie, Nature (London) 446, 342 (2007).
9. Y. W. Son, M. L. Cohen, and S. G. Louie, Phys. Rev. Lett. 97, 216803 (2006).
10. L. Yang, M. L. Cohen, and S. G. Louie, Nano Lett. 7, 3112 (2007).
11. A. G. Moghaddam and M. Zareyan, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 89, 579 (2007).
12. J. C. Meyer, C. Kisielowski, R. Erni, M. D. Rossell, M. F. Crommie, and A. Zettl, Nano Lett. (to be published).
13. M. Ishigami, J. H. Chen, W. G. Cullen, M. S. Fuhrer, and E. D. Williams, Nano Lett. 7, 1643 (2007).
14. S. Banerjee, M. Sardar, N. Gayathri, A. K. Tyagi, and B. Raj, Appl. Phys. Lett. 88, 062111 (2006).
15. Q. K. Yu, J. Lian, S. Siriponglert, H. Li, Y. Chen, and S. S. Pei, arXiv:0804.1778v1 (2008).
16. M. S. Dresselhaus and P. C. Eklund, Adv. Phys. 49, 705 (2000).
17. S. Reich and C. Thomsen, Philos. Trans. R. Soc. London, Ser. A 362, 2271 (2004).
18. Z. H. Ni, H. M. Wang, J. Kasim, H. M. Fan, T. Yu, Y. H. Wu, Y. P. Feng, and Z. X. Shen, Nano Lett. 7, 2758 (2007).
19. Y. Y. Wang, Z. H. Ni, Z. X. Shen, H. M. Wang, and Y. H. Wu, Appl. Phys. Lett. 92, 043121 (2008).
20. A. C. Ferrari, J. C. Meyer, V. Scardaci, C. Casiraghi, M. Lazzeri, F. Mauri, S. Piscanec, D. Jiang, K. S. Novoselov, S. Roth, and A. K. Geim, Phys. Rev. Lett. 97, 187401 (2006).
21. C. Thomsen and S. Reich, Phys. Rev. Lett. 85, 5214 (2000).
22. Z. H. Ni, W. Chen, X. F. Fan, J. L. Kuo, T. Yu, A. T. S. Wee, and Z. X. Shen, Phys. Rev. B 77, 115416 (2008).
23. L. G. Cancado, M. A. Pimenta, B. R. A. Neves, M. S. S. Dantas, and A. Jorio, Phys. Rev. Lett. 93, 247401 (2004).
24. M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, M. S. Dresselhaus, L. G. Cancado, A. Jorio, and R. Saito, Phys. Chem. Chem. Phys. 9, 1276 (2007).
25. See EPAPS Document No. E-APPLAB-93-025843 for a table comparing D band intensity among the edges and supporting information. For more information on EPAPS, see http://www.aip.org/pubservs/epaps.html.
26. B. Ozyilmaz, P. Jarillo-Herrero, D. Efetov, and P. Kim, Appl. Phys. Lett. 91, 192107 (2007).