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Volumn 58, Issue 6, 2011, Pages 828-835

Forensic applications of nanotechnology

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Atomic force microscopy (AFM); Criminalistics; Forensic science; Nanotechnology; Nanotoxicology; Raman microspectroscopy; Scanning probe microscopy (SPM)

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EID: 80755143092     PISSN: 00094536     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/jccs.201190129     Document Type: Review
Times cited : (40)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.