Monodisperse Au11 clusters prepared by soft landing of mass selected ions

Analytical Chemistry

Volumn 83, Issue 21, 2011, Pages 8069-8072

  Johnson, Grant E ^a   Wang, Chongmin ^b   Priest, Thomas ^a,c   Laskin, Julia ^a  

^a PACIFIC NORTHWEST NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b PACIFIC NORTHWEST NATIONAL LABORATORY   (United States)

^c NONE   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANALYTICAL TECHNIQUES; COPPER GRIDS; GASPHASE; GENERAL METHOD; GOLD CLUSTERS; MASS-TO-CHARGE RATIO; MONODISPERSE; MONODISPERSE CLUSTERS; MONODISPERSITY; POLY-DISPERSE SOLUTIONS; SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; SOFT LANDING; SURFACE COVERAGES;

ATOMS; ELECTROSPRAY IONIZATION; GOLD; IONIZATION OF GASES; LANDING; NANOPARTICLES; POLYDISPERSITY; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

GOLD COMPOUNDS;

EID: 80155213397     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac202520p     Document Type: Article

References (58)

1. Brack, M. Rev. Mod. Phys. 1993, 65, 677-732
2. Deheer, W. A. Rev. Mod. Phys. 1993, 65, 611-676
3. Castleman, A. W.; Jena, P. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2006, 103, 10554-10559
4. Xia, Y.; Xiong, Y. J.; Lim, B.; Skrabalak, S. E. Angew. Chem., Int. Ed. 2009, 48, 60-103
5. El-Sayed, M. A.; Link, S. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4212-4217
6. Nichols, R. J.; Gittins, D. I.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J. Nature 2000, 408, 67-69
7. Landman, U.; Yoon, B.; Zhang, C.; Heiz, U.; Arenz, M. Top. Catal. 2007, 44, 145-158
8. Castleman, A. W.; Khanna, S. N. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 2664-2675
9. Jain, P. K.; Lee, K. S.; El-Sayed, I. H.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 7238-7248
10. El-Sayed, M. A.; Lee, K. S. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 19220-19225
11. Willner, I.; Riskin, M.; Ben-Amram, Y.; Tel-Vered, R.; Chegel, V.; Almog, J. Anal. Chem. 2011, 83, 3082-3088
12. Abbet, S.; Judai, K.; Klinger, L.; Heiz, U. Pure Appl. Chem. 2002, 74, 1527-1535
13. Perez-Juste, J.; Grzelczak, M.; Mulvaney, P.; Liz-Marzan, L. M. Chem. Soc. Rev. 2008, 37, 1783-1791
14. Yang, P. D.; Tao, A.; Sinsermsuksakul, P. Angew. Chem., Int. Ed. 2006, 45, 4597-4601
15. Jin, R. C.; Zhu, Y.; Qian, H. F. Chem.-Eur. J. 2011, 17, 6584-6593
16. Jin, R. C. Nanoscale 2010, 2, 343-362
17. Malatest., L; Naldini, L.; Simonett., G; Cariati, F. Chem. Commun. 1965, 212-213
18. Bertino, M. F.; Sun, Z. M.; Zhang, R.; Wang, L. S. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 21416-21418
19. Pettibone, J. M.; Hudgens, J. W. J. Phys. Chem. Lett. 2010, 1, 2536-2540
20. Hudgens, J. W.; Bergeron, D. E. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 8195-8201
21. Gies, A. P.; Hercules, D. M.; Gerdon, A. E.; Cliffel, D. E. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 1095-1104
22. Tsukuda, T.; Negishi, Y.; Chaki, N. K.; Shichibu, Y.; Whetten, R. L. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 11322-11323
23. Tsukuda, T.; Chaki, N. K.; Negishi, Y.; Tsunoyama, H.; Shichibu, Y. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 8608-8610
24. Murray, R. W.; Fields-Zinna, C. A.; Crowe, M. C.; Dass, A.; Weaver, J. E. F. Langmuir 2009, 25, 7704-7710
25. Murray, R. W.; Fields-Zinna, C. A.; Sardar, R.; Beasley, C. A. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 16266-16271
26. Li, J.; Zhang, H. F.; Stender, M.; Zhang, R.; Wang, C. M.; Wang, L. S. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 12259-12263
27. McLean, J. A.; Harkness, K. M.; Cliffel, D. E. Analyst 2010, 135, 868-874
28. Tsukuda, T.; Tsunoyama, R.; Tsunoyama, H.; Pannopard, P.; Limtrakul, J. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 16004-16009
29. Liu, J. Y. J. Electron. Microsc. 2005, 54, 251-278
30. Yacaman, M. J.; Ascencio, J. A.; Liu, H. B.; Gardea-Torresdey, J. J. Vac. Sci. Technol., B 2001, 19, 1091-1103
31. Kabius, B.; Rose, H. Adv. Imaging Electron Phys. 2008, 153, 261-281
32. Gai, P. L.; Yoshida, K.; Shute, C.; Jia, X. T.; Walsh, M.; Ward, M.; Dresselhaus, M. S.; Weertman, J. R.; Boyes, E. D. Microsc. Res. Tech. 2011, 74, 664-670
33. Nellist, P. D.; Pennycook, S. J. Science 1996, 274, 413-415
34. Gates, B. C.; Uzun, A.; Ortalan, V.; Browning, N. D. J. Catal. 2010, 269, 318-328
35. Qiao, B. T.; Wang, A. Q.; Yang, X. F.; Allard, L. F.; Jiang, Z.; Cui, Y. T.; Liu, J. Y.; Li, J.; Zhang, T. Nat. Chem. 2011, 3, 634-641
36. Schuth, F.; Liu, Y.; Jia, C. J.; Yamasaki, J.; Terasaki, O. Angew. Chem., Int. Ed. 2010, 49, 5771-5775
37. Hutchings, G. J.; Lopez-Sanchez, J. A.; Dimitratos, N.; Hammond, C.; Brett, G. L.; Kesavan, L.; White, S.; Miedziak, P.; Tiruvalam, R.; Jenkins, R. L.; Carley, A. F.; Knight, D.; Kiely, C. J. Nat. Chem. 2011, 3, 551-556
38. Gologan, B.; Green, J. R.; Alvarez, J.; Laskin, J.; Cooks, R. G. Phys. Chem. Chem. Phys. 2005, 7, 1490-1500
39. Nakajima, A.; Nagaoka, S.; Matsumoto, T.; Okada, E.; Mitsui, M. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 16008-16017
40. Heiz, U.; Abbet, S.; Sanchez, A.; Schneider, W. D.; Hakkinen, H.; Landman, U. Nobel Symp. 2001, 117, 87-98
41. Rauschenbach, S.; Vogelgesang, R.; Malinowski, N.; Gerlach, J. W.; Benyoucef, M.; Costantini, G.; Deng, Z. T.; Thontasen, N.; Kern, K. ACS Nano 2009, 3, 2901-2910
42. Anderson, S. L.; Kaden, W. E.; Wu, T. P.; Kunkel, W. A. Science 2009, 326, 826-829
43. Curtiss, L. A.; Lei, Y.; Mehmood, F.; Lee, S.; Greeley, J.; Lee, B.; Seifert, S.; Winans, R. E.; Elam, J. W.; Meyer, R. J.; Redfern, P. C.; Teschner, D.; Schlogl, R.; Pellin, M. J.; Vajda, S. Science 2010, 328, 224-228
44. Johnson, G. E.; Hu, Q.; Laskin, J. Annu. Rev. Anal. Chem. 2011, 4, 83-104
45. Bergeron, D. E.; Coskuner, O.; Hudgens, J. W.; Gonzalez, C. A. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 12808-12814
46. Colton, R.; Harrison, K. L.; Mah, Y. A.; Traeger, J. C. Inorg. Chim. Acta 1995, 231, 65-71
47. Kornberg, R. D.; Levi-Kalisman, Y.; Jadzinsky, P. D.; Kalisman, N.; Tsunoyama, H.; Tsukuda, T.; Bushnell, D. A. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 2976-2982
48. Tsukuda, T.; Shichibu, Y.; Negishi, Y.; Tsunoyama, H.; Kanehara, M.; Teranishi, T. Small 2007, 3, 835-839
49. Dass, A.; Knoppe, S.; Boudon, J.; Dolamic, I.; Burgi, T. Anal. Chem. 2011, 83, 5056-5061
50. Hackley, V. A.; Tsai, D. H.; Cho, T. J.; DelRio, F. W.; Taurozzi, J.; Zachariah, M. R. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 8884-8887
51. Johnson, G. E.; Lysonski, M.; Laskin, J. Anal. Chem. 2010, 82, 5718-5727
52. Baker, S. H.; Thornton, S. C.; Edmonds, K. W.; Maher, M. J.; Norris, C.; Binns, C. Rev. Sci. Instrum. 2000, 71, 3178-3183
53. Haberland, H.; Karrais, M.; Mall, M.; Thurner, Y. J. Vac. Sci. Technol., A 1992, 10, 3266-3271
54. Haberland, H.; Insepov, Z.; Karrais, M.; Mall, M.; Moseler, M.; Thurner, Y. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 1993, 80-1, 1320-1323
55. Haberland, H.; Mall, M.; Moseler, M.; Qiang, Y.; Reiners, T.; Thurner, Y. J. Vac. Sci. Technol., A 1994, 12, 2925-2930
56. Kiely, C. J.; Herzing, A. A.; Carley, A. F.; Landon, P.; Hutchings, G. J. Science 2008, 321, 1331-1335
57. Orlov, A.; Zhao, S.; Ramakrishnan, G.; Su, D.; Rieger, R.; Koller, A. Appl. Catal., B: Environ. 2011, 104, 239-244
58. Murray, R. W.; Menard, L. D.; Xu, H. P.; Gao, S. P.; Twesten, R. D.; Harper, A. S.; Song, Y.; Wang, G. L.; Douglas, A. D.; Yang, J. C.; Frenkel, A. I.; Nuzzo, R. G. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 14564-14573