Wavelength dispersive X-ray fluorescence imaging

Analytical Chemistry

Volumn 83, Issue 16, 2011, Pages 6389-6394

  Tsuji, Kouichi ^a   Ohmori, Takashi ^a   Yamaguchi, Makoto ^a  

^a Osaka Prefecture University   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANALYTICAL PERFORMANCE; DIFFRACTION ANGLE; ELEMENTAL DISTRIBUTION; ELEMENTAL IMAGES; ENERGY RESOLUTIONS; IMAGING SPECTROMETERS; POLYCAPILLARIES; POLYCAPILLARY OPTICS; TOTAL REFLECTION; WAVELENGTH-DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCES; X RAY FLUORESCENCE; X-RAY CCD; X-RAY DETECTOR;

DISPERSION (WAVES); FLUORESCENCE; OPTICS; SPECTROMETERS; SPECTROMETRY;

X RAYS;

EID: 80051709139     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac201395u     Document Type: Article

References (16)

1. Helsen, J. A.; Kuczumow, A. In Handbook of X-Ray Spectrometry; Van Grieken, R., Markowicz, A. A., Eds.; Marcel Dekker: New York, 2002; pp 95-198.
2. Kanngiesser, B.; Haschke, M. In Handbook of Practical X-ray Fluorescence Analysis; Beckhoff, B., Kanngiesser, B., Langhoff, N., Wedell, R., Wolff, H., Eds.; Springer: Berlin, 2006; pp 433-474.
3. Janssens, K. H. A., Adams, F. C. V., Rindby, A., Eds. Microscopic X-Ray Fluorescence Analysis; Wiley: New York, 2000.
4. Tsuji, K.; Nakano, K.; Takahashi, Y.; Hayashi, K.; Ro, C.-U. Anal. Chem. 2010, 82, 4950-4987
5. Ide-Ektessabi, A. Applications of Synchrotron Radiation; Springer: Berlin, 2007.
6. Nakano, K.; Tsuji, K. X-Ray Spectrom. 2009, 38, 446-450
7. Mimura, H.; Handa, S.; Kimura, T.; Yumoto, H.; Yamakawa, D.; Yokoyama, H.; Matsuyama, S.; Inagaki, K.; Yamamura, K.; Sano, Y.; Tamasaku, K.; Nishino, Y.; Yabashi, M.; Ishikawa, T.; Yamauchi, K. Nature Physics 2010, 6, 122-125
8. Mimura, H.; Kimura, T.; Yumoto, H.; Yokoyama, H.; Nakamori, H.; Matsuyama, S.; Tamasaku, K.; Nishino, Y.; Yabashi, M.; Ishikawa, T.; Yamauchi, K. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 2011, 635, S16-S18
9. Sakurai, K.; Eba, H. Anal. Chem. 2003, 75, 355-359
10. Sakurai, K.; Mizusawa, M. Anal. Chem. 2010, 82, 3519-3522
11. Tsuji, K.; Nakano, K.; Yamaguchi, M.; Yonehara, T. Proc. SPIE 2008, 7077, 70770W-1-1-70770W-8
12. Yonehara, T.; Yamaguchi, M.; Tsuji, K. Spectrochim. Acta, Part B 2010, 65, 441-444
13. Strüder, L.; Epp, S.; Rolles, D.; Hartmann, R.; Holl, P.; Lutz, G.; Soltau, H.; Eckart, R.; Reich, C.; Heinzinger, K.; Thamm, C.; Rudenko, A.; Krasniqi, F.; Kühnel, K.-U.; Bauer, C.; Schröter, C.-D.; Moshammer, R.; Techert, S.; Miessner, D.; Porro, M.; Hälker, O.; Meidinger, N.; Kimmel, N.; Andritschke, R.; Schopper, F.; Weidenspointner, G.; Ziegler, A.; Pietschner, D.; Herrmann, S.; Pietsch, U.; Walenta, A.; Leitenberger, W.; Bostedt, C.; Möller, T.; Rupp, D.; Adolph, M.; Graafsma, H.; Hirsemann, H.; Gärtner, K.; Richter, R.; Foucar, L.; Shoeman, R. L.; Schlichting, I.; Ullrich, J. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 2010, 614, 483-496
14. Scharf, O.; Ihle, S.; Ordavo, I.; Arkadiev, V.; Bjeoumikhov, A.; Bjeoumikhova, S.; Buzanich, G.; Gubzhokov, R.; Günther, A.; Hartmann, R.; Kühbacher, M.; Lang, M.; Langhoff, N.; Liebel, A.; Radtke, M.; Reinholz, U.; Riesemeier, H.; Soltau, H.; Strüder, L.; Thünemann, A. F.; Wedell, R. Anal. Chem. 2011, 83, 2532-2538
15. Str̈uder, L.; Br̈auninger, H.; Meier, M.; Predehl, P.; Reppin, C.; Sterzik, M.; Tr̈umper, J.; Cattaneo, P.; Hauff, D.; Lutz, G.; Schuster, K. F.; Schwarz, A.; Kendziorra, E.; Staubert, R.; Gatti, E.; Longoni, A.; Sampietro, M.; Radeka, V.; Rehak, P.; Rescia, S.; Manfredi, P. F.; Buttler, W.; Holl, P.; Kemmer, J.; Prechtel, U.; Ziemann, T. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 1990, 288, 227-235
16. Tsunemi, H.; Wada, M.; Hayashida, K.; Kwai, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1991, 30, 3540-3544