Localized CO2 laser treatment and post-heating process to reduce the growth coefficient of fused silica surface damage

Chinese Optics Letters

Volumn 9, Issue 6, 2011, Pages

  Xu, Shizhen ^a   Zu, Xiaotao ^a   Yuan, Xiaodong ^b  

^a UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA   (China)

^b RESEARCH CENTER OF LASER FUSION   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DAMAGE GROWTH; DAMAGE THRESHOLD; LASER TREATMENT; NEW DAMAGE; OPTICAL COMPONENTS; ORIGINAL SAMPLE; SILICA SURFACE; ULTRA-VIOLET;

CARBON DIOXIDE; HEATING; LASER APPLICATIONS; OPTICAL SYSTEMS; RESIDUAL STRESSES;

FUSED SILICA;

EID: 79959971043     PISSN: 16717694     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.3788/COL201109.061405     Document Type: Article

References (23)

1. L. Gallais, P. Cormont, and J.-L. Rullier, Opt. Express 17, 23488 (2009).
2. J. Wong, J. L. Ferriera, E. F. Lindsey, D. L. Haupt, I. D. Hutcheon, and J. H. Kinney, J. Non-Cryst. Solids 352, 255 (2006).
3. S. Xu, X. Zu, X. Jiang, X. Yuan, J. Huang, H. Wang, H. Lv, and W. Zheng, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 266, 2936 (2008).
4. M. A. Norton, E. E. Donohue, M. D. Feit, R. P. Hackel, W. G. Hollingsworth, A. M. Rubenchik, and M. L. Spaeth, Proc. SPIE 6403, 64030L (2007).
5. M. A. Norton, L. W. Hrubesh, Z. Wu, E. E. Donohue, M. D. Feit, M. R. Kozlowski, D. Milam, K. P. Neeb, W. A. Molander, A. M. Rubenchik, W. D. Sell, and P. Wegner, LLNL UCRL-JC-139624 (2001).
6. L. W. Hrubesh, M. A. Norton, W. A. Molander, E. E. Donohue, S. M. Maricle, B. M. Penetrante, R. M. Brusasco, W. Grundler, J. A. Butler, J. W. Carr, R. M. Hill, L. J. Summers, M. D. Feit, A. Rubenchik, M. H. Key, P. J. Wegner, A. K. Burnham, L. A. Hackel, and M. R. Kozlowski, Proc. SPIE 4679, 23 (2002).
7. R. M. Brusasco, B. M. Penetrante, J. A. Butler, and L. W. Hrubesh, Proc. SPIE 4679, 40 (2002).
8. I. L. Bass, G. M. Guss, and R. P. Hackel, Proc. SPIE 5991, 59910C (2005).
9. E. Mendez, K. M. Nowak, H. J. Baker, F. J. Villarreal, and D. R. Hall, Appl. Opt. 45, 5358 (2006).
10. G. Guss, I. Bass, V. Draggoo, R. Hackel, S. Payne, M. J. Lancaster, and P. Mak, Proc. SPIE 6403, 64030M (2007).
11. S. Palmier, L. Gallais, M. Commandré, P. Cormont, R. Courchinoux, L. Lamaign`ere, J. L. Rullier, and P. Legros, Appl. Surf. Sci. 255, 5532 (2009).
12. S. T. Yang, M. J. Matthews, S. Elhadj, D. Cooke, G. M. Guss, V. G. Draggoo, and P. J. Wegner, Appl. Opt. 49, 2606 (2010).
13. M. J. Matthews, I. L. Bass, G. M. Guss, C. C. Widmayer, and F. L. Ravizza, Proc. SPIE 6720, 67200A (2007).
14. R. N. Raman, M. J. Matthews, J. J. Adams, and S. G. Demos, Opt. Express 18, 15207 (2010).
15. M. A. Stevens-Kalceff and J. Wong, J. Appl. Phys. 97, 113519 (2005).
16. P. Cormont, L. Gallais, L. Lamaignère, J. L. Rullier, P. Combis, and D. Hebert, Opt. Express 18, 26068 (2010).
17. J. Yoshiyama, F. Y. Génin, A. Salleo, I. Thomas, M. R. Kozlowski, L. M. Sheehan, I. D. Hutcheon, and D. W. Camp, Proc. SPIE 3244, 331 (1998).
18. B. Ma, Z. Shen, P. He, Y. Ji, T. Sang, H. Liu, D. Liu, and Z. Wang, Chin. Opt. Lett. 8, 296 (2010).
19. W. Dai, X. Xiang, Y. Jiang, H. J. Wang, X. B. Li, X. D. Yuan, W. G. Zheng, H. B. Lv, and X. T. Zu, Opt. Laser Eng. 49, 273 (2011).
20. J. Huang, S. Zhao, H. Wang, H. Lü, L. Ye, X. Jiang, X. Yuan, and W. Zheng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 36, 1282 (2009).
21. A. Salleo, R. Chinsio, and F. Y. Génin, Proc. SPIE 3578, 456 (1999).
22. M. A. Stevens-Kalceff, A. Stesmans, and J. Wong, Appl. Phys. Lett. 80, 758 (2002).
23. S. Papernov and A. W. Schmid, Proc. SPIE 7132, 71321J (2008).