-
2
-
-
0037418379
-
-
Xia, Y. N.; Yang, P. D.; Sun, Y. G.; Wu, Y. Y.; Mayers, B.; Gates, B.; Yin, Y. D.; Kim, F.; Yan, H. Q. Adv. Mater. 2003, 15, 353
-
(2003)
Adv. Mater.
, vol.15
, pp. 353
-
-
Xia, Y.N.1
Yang, P.D.2
Sun, Y.G.3
Wu, Y.Y.4
Mayers, B.5
Gates, B.6
Yin, Y.D.7
Kim, F.8
Yan, H.Q.9
-
3
-
-
33748593098
-
-
Li, Y.; Qian, F.; Xiang, J.; Lieber, C. M. Mater. Today 2006, 9, 18
-
(2006)
Mater. Today
, vol.9
, pp. 18
-
-
Li, Y.1
Qian, F.2
Xiang, J.3
Lieber, C.M.4
-
4
-
-
33748634908
-
-
Thelander, C.; Agarwal, P.; Brongersma, S.; Eymery, J.; L. Feiner, F.; Forchel, A.; Scheffler, M.; Riess, W.; Ohlsson, B. J.; Gösele, U.; Samuelson, L. Mater. Today 2006, 9, 28
-
(2006)
Mater. Today
, vol.9
, pp. 28
-
-
Thelander, C.1
Agarwal, P.2
Brongersma, S.3
Eymery, J.4
Feiner F, L.5
Forchel, A.6
Scheffler, M.7
Riess, W.8
Ohlsson, B.J.9
Gösele, U.10
Samuelson, L.11
-
5
-
-
35148845681
-
-
Pan, A. L.; Liu, R. B.; Zhang, Q. L.; Wan, Q.; He, P. B.; Zacharias, M.; Zou, B. S. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 14253
-
(2007)
J. Phys. Chem. C
, vol.111
, pp. 14253
-
-
Pan, A.L.1
Liu, R.B.2
Zhang, Q.L.3
Wan, Q.4
He, P.B.5
Zacharias, M.6
Zou, B.S.7
-
6
-
-
27844489389
-
-
Pan, A. L.; Liu, D.; Liu, R. B.; Wang, F. F.; Zhu, X.; Zou, B. S. Small 2005, 1, 980
-
(2005)
Small
, vol.1
, pp. 980
-
-
Pan, A.L.1
Liu, D.2
Liu, R.B.3
Wang, F.F.4
Zhu, X.5
Zou, B.S.6
-
7
-
-
36248932227
-
-
Singh, A.; Li, X. Y.; Protasenko, V.; Galantai, G.; Kuno, M.; Xing, H. L.; Jena, D. Nano Lett. 2007, 7, 2999
-
(2007)
Nano Lett.
, vol.7
, pp. 2999
-
-
Singh, A.1
Li, X.Y.2
Protasenko, V.3
Galantai, G.4
Kuno, M.5
Xing, H.L.6
Jena, D.7
-
8
-
-
33646196438
-
-
Wang, Y. G.; Zou, B. S.; Wang, T. H.; Wang, N.; Cai, Y.; Chan, Y. F.; Zhou, S. X. Nanotechnology 2006, 17, 2420
-
(2006)
Nanotechnology
, vol.17
, pp. 2420
-
-
Wang, Y.G.1
Zou, B.S.2
Wang, T.H.3
Wang, N.4
Cai, Y.5
Chan, Y.F.6
Zhou, S.X.7
-
9
-
-
33645165413
-
-
Tanaka, T.; Matsuno, Y. J.; Kume, Y.; Nishio, M.; Guo, Q. X.; Ogawa, H. Phys. Status Solidi B 2004, 1, 1026
-
(2004)
Phys. Status Solidi B
, vol.1
, pp. 1026
-
-
Tanaka, T.1
Matsuno, Y.J.2
Kume, Y.3
Nishio, M.4
Guo, Q.X.5
Ogawa, H.6
-
10
-
-
79952686791
-
-
Bozzini, B.; Baker, M. A.; Cavallotti, P. L.; Cerri, E.; Lenardi, C. Thin Solid Films 2000, 388, 361
-
(2000)
Thin Solid Films
, vol.388
, pp. 361
-
-
Bozzini, B.1
Baker, M.A.2
Cavallotti, P.L.3
Cerri, E.4
Lenardi, C.5
-
12
-
-
0001403976
-
-
Chang, J. H.; Cho, M. W.; Wang, H. M.; Wenisch, H.; Hanada, T.; Yao, T.; Sato, K.; Oda, O. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 1256
-
(2000)
Appl. Phys. Lett.
, vol.77
, pp. 1256
-
-
Chang, J.H.1
Cho, M.W.2
Wang, H.M.3
Wenisch, H.4
Hanada, T.5
Yao, T.6
Sato, K.7
Oda, O.8
-
13
-
-
22744455403
-
-
Li, L.; Yang, Y. W.; Huang, X. H.; Li, G. H.; Zhang, L. D. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 12394
-
(2005)
J. Phys. Chem. B
, vol.109
, pp. 12394
-
-
Li, L.1
Yang, Y.W.2
Huang, X.H.3
Li, G.H.4
Zhang, L.D.5
-
14
-
-
34548336392
-
-
Yong, K. T.; Sahoo, Y.; Zeng, H.; Swihart, M. T.; Minter, J. R.; Prasad, P. N. Chem. Mater. 2007, 19, 4108
-
(2007)
Chem. Mater.
, vol.19
, pp. 4108
-
-
Yong, K.T.1
Sahoo, Y.2
Zeng, H.3
Swihart, M.T.4
Minter, J.R.5
Prasad, P.N.6
-
15
-
-
47149107050
-
-
Zhang, J.; Sun, K.; Kumbhar, A.; Fang, J. Y. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 5454
-
(2008)
J. Phys. Chem. C
, vol.112
, pp. 5454
-
-
Zhang, J.1
Sun, K.2
Kumbhar, A.3
Fang, J.Y.4
-
16
-
-
33745599928
-
-
Huo, H. B.; Dai, L.; Xia, D. Y.; Ran, G. Z.; You, L. P.; Zhang, B. R.; Qin, G. G. J. Nanosci. Nanotechnol. 2006, 6, 1182
-
(2006)
J. Nanosci. Nanotechnol.
, vol.6
, pp. 1182
-
-
Huo, H.B.1
Dai, L.2
Xia, D.Y.3
Ran, G.Z.4
You, L.P.5
Zhang, B.R.6
Qin, G.G.7
-
17
-
-
36248990358
-
-
Pan, A. L.; Wang, X.; He, P. B.; Zhang, Q. L.; Wan, Q.; Zacharias, M.; Zhu, X.; Zou, B. S. Nano Lett. 2007, 7, 2970
-
(2007)
Nano Lett.
, vol.7
, pp. 2970
-
-
Pan, A.L.1
Wang, X.2
He, P.B.3
Zhang, Q.L.4
Wan, Q.5
Zacharias, M.6
Zhu, X.7
Zou, B.S.8
-
19
-
-
0000408652
-
-
Tokumoto, M. S.; Smith, A.; Santilli, C. V.; Pulcienlli, S. H.; Elkaim, E.; Briois, V. J. Non-Cryst. Solids 2000, 273, 302
-
(2000)
J. Non-Cryst. Solids
, vol.273
, pp. 302
-
-
Tokumoto, M.S.1
Smith, A.2
Santilli, C.V.3
Pulcienlli, S.H.4
Elkaim, E.5
Briois, V.6
-
20
-
-
34249027552
-
-
Yan, Y. G.; Zhang, Y.; Zeng, H. B.; Zhang, L. D. Cryst. Growth Des. 2007, 7, 940
-
(2007)
Cryst. Growth Des.
, vol.7
, pp. 940
-
-
Yan, Y.G.1
Zhang, Y.2
Zeng, H.B.3
Zhang, L.D.4
-
21
-
-
0000252956
-
-
Xu, D.; Shi, X.; Guo, G.; Gui, L.; Tang, Y. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 5061
-
(2000)
J. Phys. Chem. B
, vol.104
, pp. 5061
-
-
Xu, D.1
Shi, X.2
Guo, G.3
Gui, L.4
Tang, Y.5
-
22
-
-
33845467895
-
-
Lu, F; Cai, W. P.; Zhang, Y. G.; Li, Y; Sun, F. Q.; Heo, S. H.; Cho, S. O. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 231928
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 231928
-
-
Lu, F.1
Cai, W.P.2
Zhang, Y.G.3
Li, Y.4
Sun, F.Q.5
Heo, S.H.6
Cho, S.O.7
-
23
-
-
1342347418
-
-
Yoshino, K.; Yoneta, M.; Arakawa, A.; Ohmori, K.; Saito, H.; Ohisihi, M. Phys. Status Solidi 2003, (c)0(2), 631
-
(2003)
Phys. Status Solidi
, vol.C02
, pp. 631
-
-
Yoshino, K.1
Yoneta, M.2
Arakawa, A.3
Ohmori, K.4
Saito, H.5
Ohisihi, M.6
-
24
-
-
79952692235
-
-
http://www.springermaterials.com/pdfs/10.1007/978-3-540-74392-7-211.pdf
-
-
-
-
25
-
-
42549147067
-
-
Puthussery, J.; Lan, A.; Kosel, T. H.; Kuno, M. ACS Nano 2008, 2 (2) 357-367
-
(2008)
ACS Nano
, vol.2
, Issue.2
, pp. 357-367
-
-
Puthussery, J.1
Lan, A.2
Kosel, T.H.3
Kuno, M.4
-
27
-
-
77955192808
-
-
Cheng, B.; Han, Z.; Guo, H.; Lin, S.; Zhang, Z.; Xiao, Y.; Lei, S. J. Appl. Phys. 2010, 108, 014309
-
(2010)
J. Appl. Phys.
, vol.108
, pp. 014309
-
-
Cheng, B.1
Han, Z.2
Guo, H.3
Lin, S.4
Zhang, Z.5
Xiao, Y.6
Lei, S.7
-
28
-
-
0032136533
-
-
Garcia, J. A.; Remon, A.; Munoz, V; Triboulet, R. J. Cryst. Growth 1998, 191, 685-691
-
(1998)
J. Cryst. Growth
, vol.191
, pp. 685-691
-
-
Garcia, J.A.1
Remon, A.2
Munoz, V.3
Triboulet, R.4
-
30
-
-
0029387080
-
-
Karczewski, G.; Zakrzewski, A. K.; Dobaczewski, L.; Dobrowolski, W.; Jaroszyfiski, J.; Wojtowicz, T.; Kossut, J. Thin Solid Films 1995, 267, 79
-
(1995)
Thin Solid Films
, vol.267
, pp. 79
-
-
Karczewski, G.1
Zakrzewski, A.K.2
Dobaczewski, L.3
Dobrowolski, W.4
Jaroszyfiski, J.5
Wojtowicz, T.6
Kossut, J.7
-
32
-
-
11744320095
-
-
Trager, C. C.; Burley, A.; Donnell, K. P. O.; Naumov, A.; Wolf, K.; Stanzl, H. P.; Wagner, H. P.; Gebhardt, W. Microsc. Semicond. Mater. 1993, 134, 683
-
(1993)
Microsc. Semicond. Mater.
, vol.134
, pp. 683
-
-
Trager, C.C.1
Burley, A.2
Donnell, K.P.O.3
Naumov, A.4
Wolf, K.5
Stanzl, H.P.6
Wagner, H.P.7
Gebhardt, W.8
-
33
-
-
0032047707
-
-
Fernández, P.; Garcia, J. A.; Remón, A.; Piqueras, J.; Muoz, V.; Triboulet, R. Semicond. Sci. Technol. 1998, 13, 410
-
(1998)
Semicond. Sci. Technol.
, vol.13
, pp. 410
-
-
Fernández, P.1
Garcia, J.A.2
Remón, A.3
Piqueras, J.4
Muoz, V.5
Triboulet, R.6
-
34
-
-
19944430352
-
-
Luo, M.; Vanmil, B. L.; Tompkins, R. P.; Myers, T. H.; Giles, N. C. J. Appl. Phys. 2005, 97, 013518
-
(2005)
J. Appl. Phys.
, vol.97
, pp. 013518
-
-
Luo, M.1
Vanmil, B.L.2
Tompkins, R.P.3
Myers, T.H.4
Giles, N.C.5
-
35
-
-
0035878958
-
-
Yu, Y. M.; Nam, S. G.; Lee, K. S.; Choi, Y. D.; Byungsung, O. J. Appl. Phys. 2001, 90, 807
-
(2001)
J. Appl. Phys.
, vol.90
, pp. 807
-
-
Yu, Y.M.1
Nam, S.G.2
Lee, K.S.3
Choi, Y.D.4
Byungsung, O.5
-
36
-
-
0032361568
-
-
Kvit, A. V.; Medvedev, S. A.; Klevkov, Y. V.; Zatsev, V. V.; Onishchenko, E. E.; Klokov, A. V.; Bagaev, V. S.; Tsikunov, A. V.; Perestoronin, A. V.; Yakimov, M. V. Phys. Solid State 1998, 40, 924
-
(1998)
Phys. Solid State
, vol.40
, pp. 924
-
-
Kvit, A.V.1
Medvedev, S.A.2
Klevkov, Y.V.3
Zatsev, V.V.4
Onishchenko, E.E.5
Klokov, A.V.6
Bagaev, V.S.7
Tsikunov, A.V.8
Perestoronin, A.V.9
Yakimov, M.V.10
-
37
-
-
0017215199
-
-
10.1002/pssb.2220780222
-
Pässler, R. Phys. Status Solidi B 1976, 78, 625-635 10.1002/pssb.2220780222
-
(1976)
Phys. Status Solidi B
, vol.78
, pp. 625-635
-
-
Pässler, R.1
-
40
-
-
3543067148
-
-
Glavin, B. A.; Kochelap, V. A.; Linnik, T. L.; Kim, K. W.; Stoscio, M. A. Phys. Rev. B 2002, 65, 085303
-
(2002)
Phys. Rev. B
, vol.65
, pp. 085303
-
-
Glavin, B.A.1
Kochelap, V.A.2
Linnik, T.L.3
Kim, K.W.4
Stoscio, M.A.5
|