Combining ion mobility spectrometry, mass spectrometry, and photoelectron spectroscopy in a high-transmission instrument

Analytical Chemistry

Volumn 83, Issue 3, 2011, Pages 1108-1115

  Vonderach, Matthias ^a   Ehrler, Oli T ^a   Weis, Patrick ^a   Kappes, Manfred M ^a  

^a KARLSRUHE INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ARRIVAL-TIME DISTRIBUTIONS; AUTOMATED DATA COLLECTION; DNA OLIGONUCLEOTIDES; ELECTROSPRAY ION SOURCES; GASPHASE; ION FUNNELS; ION MOBILITY CELLS; ION MOBILITY SPECTROMETRY; LASER WAVELENGTH; MOLECULAR ANIONS; PHOTOELECTRON SPECTROMETERS; PHOTOELECTRON SPECTRUM; QUADRUPOLE MASS FILTERS; ROOM TEMPERATURE; STRUCTURE DETERMINATION; TEST CASE; TIME OF FLIGHT;

BINDING ENERGY; DC POWER TRANSMISSION; GASES; INSTRUMENTS; ION SOURCES; ISOMERS; MAGNETIC MIRRORS; MASS SPECTROMETRY; NEGATIVE IONS; OLIGONUCLEOTIDES; PHOTOELECTRICITY; PHOTOELECTRONS; PHOTONS; PULSED LASERS; SPECTROMETERS;

PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 79952148384     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac1029677     Document Type: Article

References (61)

1. Shelimov, K. B.; Jarrold, M. F. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 10313.
2. Shelimov, K. B.; Clemmer, D. E.; Hudgins, R. R.; Jarrold, M. F. J. Am. Chem. Soc 1997, 119, 2240.Z.
3. Hudgins, R. R.; Ratner, M. A.; Jarrold, M. F. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 12974.
4. Wyttenbach, T.; Bushnell, J. E.; Bowers, M. T. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 5098.
5. Wyttenbach, T.; Batka, J. J.; Gidden, J.; Bowers, M. T. Int. J. Mass Spectrom. Ion Processes 1999, 193, 143.
6. Wyttenbach, T.; Witt, M.; Bowers, M. T. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 3458.
7. Bernstein, S. L.; Wyttenbach, T.; Baumketner, A.; Shea, J.-E.; Bitan, G.; Teplow, D. B.; Bowers, M. T. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 2075.
8. Hoaglund, C. S.; Liu, Y.; Ellington, A. D.; Pagel, M.; Clemmer, D. E. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 9051.
9. Gidden, J.; Bushnell, J. E.; Bowers, M. T. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5610.
10. Gidden, J.; Ferzoco, A.; Baker, E. S.; Bowers, M. T. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 15132.
11. Gabelica, V.; Baker, E. S.; Teulade-Fichou, M.-P.; DePauw, E.; Bowers, M. T. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129,) 895.
12. Helden, G. v.; Wyttenbach, T.; Bowers, M. T. Int. J. Mass Svectrom. Ion Processes 1995, 146, 349.
13. Wyttenbach, T.; Helden, G. v.; Bowers, M. T. Int. J. Mass Svectrom. Ion Processes 1997, 165, 377.
14. Gidden, J.; Wyttenbach, T.; Batka, J. J.; Weis, P.; Jackson, A. T.; Scrivens, J. H.; Bowers, M. T. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 1421.
15. Gidden, J.; Wyttenbach, T.; Batka, J. J.; Weis, P.; Jackson, A. T.; Scrivens, J. H.; Bowers, M. T. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 4692.
16. Jarrold, M. F.; Bower, J. E. J. Chem. Phys. 1993, 98, 2399.
17. Lermé, J.; Dugourd, P.; Hudgins, R. R.; Jarrold, M. F. Chem. Phys. Lett. 1999, 304, 19.
18. Shvartsburg, A. A.; Jarrold, M. F. Chem. Phys. Lett. 2000, 317, 615.
19. Shvartsburg, A. A.; Jarrold, M. F. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 2530.
20. Gilb, S.; Weis, P.; Furche, F.; Ahlrichs, R.; Kappes, M. M. J. Chem Phys. 2002, 116, 4094.
21. Furche, F.; Ahlrichs, R.; Weis, P.; Jacob, C.; Gilb, S.; Bierweiler, T.; Kappes, M. M. J. Chem. Phys. 2002, 117, 6982.
22. Weis, P.; Welz, O.; Vollmer, E.; Kappes, M. M. J. Chem. Phys. 2004, 120, 677.
23. Helden, G. v.; Hsu, M. T.; Kemper, P. R.; Bowers, M. T. J. Chem Phys. 1991, 95, 3835.
24. Helden, G. v.; Gotts, N. G.; Bowers, M. T. Nature 1993, 363, 60.
25. Hunter, J.; Fye, J.; Jarrold, M. F. Science 1993, 260, 784.
26. Jarrold, M. F.; Bower, J. E. J. Chem. Phys. 1992, 96, 9180.
27. Ho, K.-M.; Shvartsburg, A. A.; Pan, B.; Lu, Z.-Y.; Wang, C.-Z.; Wacker, J. G.; Fye, J. L.; Jarrold, M. F. Nature 1998, 392, 582.
28. Oger, E.; Crawford, N. R. M.; Kelting, R.; Weis, P.; Kappes, M. M.; Ahlrichs, R. Angew. Chem.. Int. Ed. 2007, 46, 8503.
29. Henderson, S. C.; Valentine, S. J.; Counterman, A. E.; Clemmer, D. E. Anal. Chem. 1999, 71, 291.
30. Dugourd, P.; Hudgins, R. R.; Clemmer, D. E.; Jarrold, M. F. Rev. Sci Instrum. 1997, 68, 1122.
31. Shaffer, S. A.; Prior, D. C.; Anderson, G. A.; Udseth, H. R.; Smith, R. D. Anal. Chem. 1998, 70, 4111.
32. Shaffer, S. A.; Tang, K.; Anderson, G. A.; Prior, D. C.; Udseth, H. R.; Smith, R. D. Ravid Commun. Mass Svectrom. 1997, 11, 1813.
33. Wyttenbach, T.; Kemper, P. R.; Bowers, M. T. Int. J. Mass Spectrom. 2001, 212, 13.
34. Tang, K.; Shvartsburg, A. A.; Lee, H.-N.; Prior, D. C.; Buschbach, M. A.; Li, F.; Tolmachev, A. V.; Anderson, G. A.; Smith, R. D. Anal. Chem. 2005, 77, 3330.
35. Koeniger, S. L.; Merenbloom, S. I.; Valentine, S. J.; Jarrold, M. F.; Udseth, H. R.; Smith, R. D.; Clemmer, D. E. Anal. Chem. 2006, 78, 4161.
36. Oger, E.; Kelting, R.; Weis, P.; Lechtken, A.; Schooss, D.; Crawford, N. R. M.; Ahlrichs, R.; Kappes, M. M. J. Chem. Phys. 2009, 130, 124305.
37. Kemper, P. R.; Dupuis, N. F.; Bowers, M. T. Int. J. Mass Spectrom. 2009, 287, 46.
38. Merenbloom, S. I.; Koeniger, S. L.; Valentine, S. J.; Plasencia, M. D.; Clemmer, D. E. Anal. Chem. 2006, 78, 2802.
39. Kruit, P.; Read, F. H. J. Phys. E 1983, 16, 313.
40. Cheshnovsky, O.; Yang, S. H.; Pettiette, C. L.; Craycraft, M. J.; Smalley, R. E. Rev. Sci. Instrum. 1987, 58, 2131.
41. Astruc Hoffmann, M.; Wrigge, G.; Issendorff, B. v.; Müller, J.; Ganteför, G.; Haberland, H. Eur. Phys. J. D 2001, 16, 9.
42. Cheshnovsky, O.; Yang, S. H.; Pettiette, C. L.; Craycraft, M. J.; Liu, Y.; Smalley, R. E. Chem. Phvs. Lett. 1987, 138, 119.
43. Huang, W.; Bulsu, S.; Pal, R.; Zheng, X. C.; Wang, L. S. ACS Nano 2009, 3, 1225.
44. Lee, G. H.; Arnold, S. T.; Eaton, J. G.; Sarkas, H. W.; Bowen, K. H.; Ludewigt, C.; Haberland, H. Z. Phvs. D 1991, 20, 9.
45. Markovich, G.; Pollack, S.; Giniger, R.; Cheshnovsky, O. J. Chem. Phys. 1994, 101, 9344.
46. Neumark, D. M. Mol. Phys. 2008, 106, 2183.
47. Wang, L. S.; Wang, X. B. J. Phys. Chem. A 2000, 104, 1978.
48. Ehrler, O. T.; Furche, F.; Weber, J. M.; Kappes, M. M. Phys. Rev. Lett. 2005, 122, 094321.
49. Hendricks, J. H.; Lyapustina, S. A.; de Clercq, H. L.; Snodgrass, J. T.; Bowen, K. H. Chem. Phys. 1996, 104, 7788.
50. Ko, Y. J.; Wang, H.; Cao, R.; Radisic, D.; Eustis, S. N.; Stokes, S. T.; Lyapustina, S.; Tian, S. X.; Bowen, K. H. Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 3535.
51. Yuang, X.; Wang, X.-B.; Vorpage, E. R.; Wang, L. S. Proc. Natl. Acad. Sci. USA. 2004, 101, 17588.
52. Weber, J. M.; Ioffe, I. N.; Berndt, K. M.; Löffler, D.; Friedrich, J.; Ehrler, O. T.; Danell, AS.; Parks, J. H.; Kappes, M. M. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8585.
53. Matheis, K.; Joly, L.; Antoine, R.; Lépine, F.; Bordas, C.; Ehrler, O. T.; Allouche, A-R.; Kappes, M. M.; Dugourd, P. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 15903.
54. Ko, Y. J.; Wang, H.; Li, X.ang; Bowen, K. H.; Lecomte, F.; Desfrançois, C.; Poully, J.-C; Grégoire, G.; Schermann, J. P. Chem-PhysChem 2009, 10, 3097.
55. Li, X.; Wang, H.; Bowen, K. H.; Grégoire, G.; Lecomte, F.; Schermann, J.-P.; Desfrançois, C. J. Chem. Phvs. 2009, 130, 214301.
56. See, for example: Maus, M.; Gantefor, G.; Eberhardt, W. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 1999, 70, 535.
57. Akin, F. A.; Jarrold, C. C. J. Chem. Phys. 2003, 118, 1773.
58. Fromherz, R.; Ganteför, G.; Shvartsburg, A. A. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 083001.
59. Kim, T.; Tang, K.; Udseth, H. R.; Smith, R. D. Anal. Chem. 2001, 73, 4162.
60. Vonderach, M.; Ehrler, O. T.; Weis, P.; Kappes, M. M. Manuscript in preparation.
61. SIMION 3D, version 8.0; Scientific Instrument Services, Inc., Ringoes, NJ, 2008.