Accounting for interference, scattering, and electrode absorption to make accurate internal quantum efficiency measurements in organic and other thin solar cells

Advanced Materials

Volumn 22, Issue 30, 2010, Pages 3293-3297

  Burkhard, George F ^a   Hoke, Eric T ^a   McGehee, Michael D ^a  

^a Stanford University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ACTIVE LAYER; INTERNAL QUANTUM EFFICIENCY; STRAIGHT-FORWARD METHOD;

ABSORPTION; SOLAR CELLS;

QUANTUM EFFICIENCY;

ORGANIC COMPOUND;

ABSORPTION; ARTICLE; CHEMISTRY; ELECTROCHEMISTRY; ELECTRODE; INSTRUMENTATION; METHODOLOGY; NANOTECHNOLOGY; PHOTOCHEMISTRY; PHOTON; REPRODUCIBILITY; SOLAR ENERGY;

ABSORPTION; ELECTROCHEMISTRY; ELECTRODES; NANOTECHNOLOGY; ORGANIC CHEMICALS; PHOTOCHEMISTRY; PHOTONS; REPRODUCIBILITY OF RESULTS; SOLAR ENERGY;

EID: 77955398664     PISSN: 09359648     EISSN: 15214095     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adma.201000883     Document Type: Article

References (25)

1. G. F. Burkhard, E. T. Hoke, M. D. McGehee, Nano Lett. 2009, 9, 4037.
2. J. A. Mikroyannidis, M. M. Stylianakis, P. Suresh, P. Balraju, G. D. Sharma, Organic Electronics 2009, 10, 1320.
3. R. J. Ellingson, M. C. Beard, J. C. Johnson, P. R. Yu, O. I. Micic, A. J. Nozik, A. Shabaev, A. L. Efros, Nano Lett. 2005, 5, 865.
4. R. D. Schaller, V. I. Klimov, Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 186601.
5. A. J. Nozik, Physica E 2002, 14, 115.
6. I. Paci, J. C. Johnson, X. Chen, G. Rana, D. Popovic, D. E. David, A. J. Nozik, M. A. Ratner, J. Michl, J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 16546.
7. H.-Y. Chen, M. K. F. Lo, G. Yang, H. G. Monbouquette, Y. Yang, Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 543.
8. I. Gur, N. A. Fromer, M. L. Geier, A. P. Alivisatos, Science 2005, 310, 462.
9. A. J. Nozik, Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostrutures 2002, 14, 115.
10. B. A. Gregg, M. C. Hanna, J. Appl. Phys. 2003, 93, 3605.
11. A. Maria, P. W. Cyr, E. J. D. Klem, L. Levina, E. H. Sargent, Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 213112.
12. J. Y. Kim, S. H. Kim, H. H. Lee, K. Lee, W. L. Ma, X. Gong, A. J. Heeger, Adv. Mater. 2006, 18, 572.
13. A. W. Hains, C. Ramanan, M. D. Irwin, J. Liu, M. R. Wasielewski, T. J. Marks, ACS Applied Materials sf Interfaces 2009, 2, 175.
14. J. Gilot, I. Barbu, M. M. Wienk, R. A. J. Janssen, Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 113520.
15. B. Kang, L. W. Tan, S. R. P. Silva, Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 133302.
16. L. A. A. Pettersson, L. S. Roman, O. Inganas, J. Appl. Phys. 1999, 86, 487.
17. P. Peumans, A. Yakimov, S. Forrest, J. of Appl. Phys. 2003, 93, 3693.
18. J. D. Kotlarski, P. W. M. Blom, L. J. A. Koster, M. Lenes, L H. Slooff, J. Appl. Phys. 2008, 103.
19. L. Emmanouil, O. Andreas, A. Ioannis, H. Yasuhiko. J. Appl. Phys. 2007, 102, 083104.
20. A. B. Djurisic, C. Y. Kwong, T. W. Lau, Z. T. Liu, H. S. Kwok, L. S. M. Lam, W. K. Chan, Appl. Opt. 2003, 42, 6382.
21. S. Yoo, W. J. Potscavage Jr, B. Domercq, S.-H. Han, T.-D. Li, S. C. Jones, R. Szoszkiewicz, D. Levi, E. Riedo, S. R. Marder, B. Kippelen, Solid-State Electron. 2007, 51, 1367.
22. A. M. C. Ng, K. Y. Cheung, M. K. Fung, A. B. Djurisic, W. K. Chan, Thin Solid Films 2008, 517, 1047.
23. A. J. Moulé, K. Meerholz, Adv. Mater. 2008, 20, 240.
24. M. Campoy-Quiles, T. Ferenczi, T. Agostinelli, P. G. Etchegoin, Y. Kim, T. D. Anthopoulos, P. N. Stavrinou, D. D. C. Bradley, J. Nelson, Nat. Mater. 2008, 7, 158.
25. D. S. Germack, C. K. Chan, B. H. Hamadani, L. J. Richter, D. A. Fischer, D. J. Gundlach, D. M. DeLongchamp, Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 233303.