Formation of bandgap and subbands in graphene nanomeshes with sub-10 nm ribbon width fabricated via nanoimprint lithography

Nano Letters

Volumn 10, Issue 7, 2010, Pages 2454-2460

  Liang, Xiaogan ^a   Jung, Yeon Sik ^a   Wu, Shiwei ^a   Ismach, Ariel ^b   Olynick, Deirdre L ^a   Cabrini, Stefano ^a   Bokor, Jeffrey ^a,b  

^a LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BAND GAPS; ELECTRONIC CHARACTERISTICS; ELECTRONIC DEVICE; GATE VOLTAGES; HIGH RESOLUTION; MESOSCOPICS; NANO-FABRICATION METHODS; NANO-IMPRINT; ON/OFF CURRENT RATIO; ROOM TEMPERATURE; SUB-BANDS;

DRAIN CURRENT; ELECTROSTATIC PRINTING; ENERGY GAP; FABRICATION; FIELD EFFECT TRANSISTORS; GRAPHENE; GRAPHITE;

NANOIMPRINT LITHOGRAPHY;

EID: 77955340828     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl100750v     Document Type: Article

References (29)

1. Geim, A. K. Science 2009, 324 (5934) 1530-1534
2. Han, M. Y.; Ozyilmaz, B.; Zhang, Y. B.; Kim, P. Phys. Rev. Lett. 2007, 98 (20) XXX
3. Ponomarenko, L. A.; Schedin, F.; Katsnelson, M. I.; Yang, R.; Hill, E. W.; Novoselov, K. S.; Geim, A. K. Science 2008, 320 (5874) 356-358
4. Young, A. F.; Kim, P. Nat. Phys. 2009, 5 (3) 222-226
5. Gusynin, V. P.; Sharapov, S. G. Phys. Rev. Lett. 2005, 95 (14) 146801/1-146801/4
6. Park, C. H.; Yang, L.; Son, Y. W.; Cohen, M. L.; Louie, S. G. Nat. Phys. 2008, 4 (3) 213-217
7. de Parga, A. L. V.; Calleja, F.; Borca, B.; Passeggi, M. C. G.; Hinarejos, J. J.; Guinea, F.; Miranda, R. Phys. Rev. Lett. 2008, 100 (5) 4
8. Meyer, J. C.; Kisielowski, C.; Erni, R.; Rossell, M. D.; Crommie, M. F.; Zettl, A. Nano Lett. 2008, 8 (11) 3582-3586
9. Chou, S. Y.; Krauss, P. R.; Renstrom, P. J. Appl. Phys. Lett. 1995, 67 (21) 3114-3116
10. Bita, I.; Yang, J. K. W.; Jung, Y. S.; Ross, C. A.; Thomas, E. L.; Berggren, K. K. Science 2008, 321 (5891) 939-943
11. Liang, X.; Chang, A. S. P.; Zhang, Y.; Harteneck, B. D.; Choo, H.; Olynick, D. L.; Cabrini, S. Nano Lett. 2009, 9 (1) 467-472
12. Liang, X. G.; Giacometti, V.; Ismach, A.; Harteneck, B. D.; Olynick, D. L.; Cabrini, S. Appl. Phys. Lett. 2010, 96 (1) 3
13. Bai, J.; Zhong, X.; Jiang, S.; Huang, Y.; Duan, X. Nat. Nanotechnol 2010, 5, 190-194
14. Liang, X.; Jung, Y.-S.; Wu, S.; Ismach, A.; Olynick, D. L.; Cabrini, S.; Bokor, J. Proceeding of International Conference on Electron, Ion, and Photon Beam Technology and Nanofabrication, Anchorage, Alaska, June 1-4, 2010.
15. Kim, M.; Safron, N. S.; Han, E.; Arnold, M. S.; Gopalan, P. Nano Lett. 2010, 10, 1125-1131
16. Sidorov, A. N.; Yazdanpanah, M. M.; Jalilian, R.; Ouseph, P. J.; Cohn, R. W.; Sumanasekera, G. U. Nanotechnology 2007, 18 (13) 4
17. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov, A. A. Science 2004, 306 (5696) 666-669
18. Liang, X.; Fu, Z.; Chou, S. Y. Nano Lett. 2007, 7 (12) 3840-3844
19. Reina, A.; Jia, X. T.; Ho, J.; Nezich, D.; Son, H. B.; Bulovic, V.; Dresselhaus, M. S.; Kong, J. Nano Lett. 2009, 9 (1) 30-35
20. Kim, K. S.; Zhao, Y.; Jang, H.; Lee, S. Y.; Kim, J. M.; Kim, K. S.; Ahn, J. H.; Kim, P.; Choi, J. Y.; Hong, B. H. Nature 2009, 457 (7230) 706-710
21. Ferrari, A. C.; Meyer, J. C.; Scardaci, V.; Casiraghi, C.; Lazzeri, M.; Mauri, F.; Piscanec, S.; Jiang, D.; Novoselov, K. S.; Roth, S.; Geim, A. K. Phys. Rev. Lett. 2006, 97 (18) 187401
22. Jung, Y. S.; Ross, C. A. Nano Lett. 2007, 7 (7) 2046-2050
23. Park, H. J.; Kang, M. G.; Guo, L. J. Acs Nano 2009, 3 (9) 2601-2608
24. Barone, V.; Hod, O.; Scuseria, G. E. Nano Lett. 2006, 6 (12) 2748-2754
25. Obradovic, B.; Kotlyar, R.; Heinz, F.; Matagne, P.; Rakshit, T.; Giles, M. D.; Stettler, M. A.; Nikonov, D. E. Appl. Phys. Lett. 2006, l88 (14) XXX
26. Son, Y. W.; Cohen, M. L.; Louie, S. G. Phys. Rev. Lett. 2006, 97 (21) XXX
27. Li, X. L.; Wang, X. R.; Zhang, L.; Lee, S.; Dai, H. J. Science 2008, 319 (5867) 1229-1232
28. Wang, X. R.; Ouyang, Y. J.; Li, X. L.; Wang, H. L.; Guo, J.; Dai, H. J. Phys. Rev. Lett. 2008, 100 (206803) XXX
29. Muller, R. S.; Kamins, T. I.; Chan, M. Device Electronics for Integrated Circuits, 3 rd ed.; John Wiley & Sons: New York, 2002; p 431.