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Volumn 80, Issue 24, 2009, Pages

Temperature dependence of the crossover between the near-infrared Er and defect-related photoluminescence bands of Ge-rich Er-doped SiO2 layers

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EID: 77954731233     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.80.241313     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.