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Volumn , Issue , 2000, Pages 19-22

Surface reaction doping using gas source for ultra shallow junctions

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ION IMPLANTATION;

EID: 77952745408     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/IWIT.2000.928771     Document Type: Conference Paper
Times cited : (3)

References (14)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.