-
1
-
-
0142011551
-
-
Su, K. H.; Wei, Q. H.; Zhang, X.; Mock, J. J.; Smith, D. R.; Schultz, S. Nano Lett. 2003, 3, 1087-1090.
-
(2003)
Nano Lett.
, vol.3
, pp. 1087-1090
-
-
Su, K.H.1
Wei, Q.H.2
Zhang, X.3
Mock, J.J.4
Smith, D.R.5
Schultz, S.6
-
2
-
-
33645390389
-
-
Sundaramurthy, A.; Schuck, P. J.; Conley, N. R.; Fromm, D. P.; Kino, G. S.; Moerner, W. E. Nano Lett. 2006, 6, 355-360.
-
(2006)
Nano Lett.
, vol.6
, pp. 355-360
-
-
Sundaramurthy, A.1
Schuck, P.J.2
Conley, N.R.3
Fromm, D.P.4
Kino, G.S.5
Moerner, W.E.6
-
3
-
-
44849112137
-
-
Kim, S.; Jin, J. H.; Kim, Y. J.; Park, I. Y.; Kim, Y.; Kim, S. W. Nature 2008, 453, 757-760.
-
(2008)
Nature
, vol.453
, pp. 757-760
-
-
Kim, S.1
Jin, J.H.2
Kim, Y.J.3
Park, I.Y.4
Kim, Y.5
Kim, S.W.6
-
4
-
-
38849092764
-
-
No.043101
-
Bakker, R. M.; Yuan, H. K.; Liu, Z. T.; Drachev, V. P.; Kildishev, A. V.; Shalaev, V. M.; Pedersen, R. H.; Gresillon, S.; Boltasseva, A. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, No.043101.
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.92
-
-
Bakker, R.M.1
Yuan, H.K.2
Liu, Z.T.3
Drachev, V.P.4
Kildishev, A.V.5
Shalaev, V.M.6
Pedersen, R.H.7
Gresillon, S.8
Boltasseva, A.9
-
5
-
-
59349120131
-
-
Bakker, R. M.; Drachev, V. P.; Liu, Z. T.; Yuan, H. K.; Pedersen, R. H.; Boltasseva, A.; Chen, J. J.; Irudayaraj, J.; Kildishev, A. V.; Shalaev, V. M. New J. Phys. 2008, 10, 125022.
-
(2008)
New J. Phys.
, vol.10
, pp. 125022
-
-
Bakker, R.M.1
Drachev, V.P.2
Liu, Z.T.3
Yuan, H.K.4
Pedersen, R.H.5
Boltasseva, A.6
Chen, J.J.7
Irudayaraj, J.8
Kildishev, A.V.9
Shalaev, V.M.10
-
6
-
-
18744376376
-
-
Gupta, R.; Dyer, M. J.; Weimer, W. A. J. Appl. Phys. 2002, 92, 5264-5271.
-
(2002)
J. Appl. Phys.
, vol.92
, pp. 5264-5271
-
-
Gupta, R.1
Dyer, M.J.2
Weimer, W.A.3
-
8
-
-
0032626631
-
-
Homola, J.; Yee, S. S.; Gauglitz, G. Sens. Actuators. B 1999, 54, 3-15.
-
(1999)
Sens. Actuators. B
, vol.54
, pp. 3-15
-
-
Homola, J.1
Yee, S.S.2
Gauglitz, G.3
-
9
-
-
34547672732
-
-
Huang, W. Y.; Qian, W.; El-Sayed, M. A.; Ding, Y.; Wang, Z. L.J. Phys. Chem. C2007. 111, 10751-10757.
-
(2007)
J. Phys. Chem. C
, vol.111
, pp. 10751-10757
-
-
Huang, W.Y.1
Qian, W.2
El-Sayed, M.A.3
Ding, Y.4
Wang, Z.L.5
-
10
-
-
52349120982
-
-
Kuttge, M.; Vesseur, E. J. R.; Verhoeven, J.; Lezec, H. J.; Atwater, H. A.; Polman, A. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 113110.
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.93
, pp. 113110
-
-
Kuttge, M.1
Vesseur, E.J.R.2
Verhoeven, J.3
Lezec, H.J.4
Atwater, H.A.5
Polman, A.6
-
11
-
-
0014521905
-
-
Mayadas, A. F.; Shatzkes, M.; Janak, J. F. Appl. Phys. Lett. 1969, 74, 345-347.
-
(1969)
Appl. Phys. Lett.
, vol.74
, pp. 345-347
-
-
Mayadas, A.F.1
Shatzkes, M.2
Janak, J.F.3
-
12
-
-
77949463104
-
-
Skobel'tsyn, D. V., Ed.; Consultants Bureau: New York
-
Motulevich, G. P. Optical properties of metals; Skobel'tsyn, D. V., Ed.; Consultants Bureau: New York, 1973.
-
(1973)
Optical Properties of Metals
-
-
Motulevich, G.P.1
-
14
-
-
38549164711
-
-
Drachev, V. P.; Chettiar, U. K.; Kildishev, A. V.; Yuan, H. K.; Cai, W. S.; Shalaev, V. M. Opt. Express 2008, 16, 1186-1195.
-
(2008)
Opt. Express
, vol.16
, pp. 1186-1195
-
-
Drachev, V.P.1
Chettiar, U.K.2
Kildishev, A.V.3
Yuan, H.K.4
Cai, W.S.5
Shalaev, V.M.6
-
15
-
-
0036603503
-
-
Kaiser, N. Appl Opt 2002, 41, 3053-3060.
-
(2002)
Appl Opt
, vol.41
, pp. 3053-3060
-
-
Kaiser, N.1
-
17
-
-
0031235964
-
-
Hulteen, J. C.; Patrissi, C. J.; Miner, D. L.; Crosthwait, E. R.; Oberhauser, E. B.; Martin, C. R. J. Phys. Chem B 1997, 101, 7727-7731.
-
(1997)
J. Phys. Chem B
, vol.101
, pp. 7727-7731
-
-
Hulteen, J.C.1
Patrissi, C.J.2
Miner, D.L.3
Crosthwait, E.R.4
Oberhauser, E.B.5
Martin, C.R.6
-
18
-
-
25444516845
-
-
Habenicht, A.; Olapinski, M.; Burmeister, F.; Leiderer, P.; Boneberg, J. Science 2005, 309, 2043-2045.
-
(2005)
Science
, vol.309
, pp. 2043-2045
-
-
Habenicht, A.1
Olapinski, M.2
Burmeister, F.3
Leiderer, P.4
Boneberg, J.5
-
20
-
-
34247882064
-
-
Zheng, Y. B.; Huang, T. J.; Desai, A. Y.; Wang, S. J.; Tan, L. K.; Gao, H.; Huan, A. C. H. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 183117.
-
(2007)
Appl. Phys. Lett.
, vol.90
, pp. 183117
-
-
Zheng, Y.B.1
Huang, T.J.2
Desai, A.Y.3
Wang, S.J.4
Tan, L.K.5
Gao, H.6
Huan, A.C.H.7
-
21
-
-
1542789048
-
-
Yoshida, N.; Oshima, R.; Fujita, F. E. J. Phys. F: Met. Phys. 1972, 2, 237-246.
-
(1972)
J. Phys. F: Met. Phys.
, vol.2
, pp. 237-246
-
-
Yoshida, N.1
Oshima, R.2
Fujita, F.E.3
-
23
-
-
10844251029
-
-
Chen, G.; Hui, P.; Pita, K.; Hing, P.; Kong, L. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2005, 80, 659-665.
-
(2005)
Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
, vol.80
, pp. 659-665
-
-
Chen, G.1
Hui, P.2
Pita, K.3
Hing, P.4
Kong, L.5
-
24
-
-
27944468262
-
-
Jankowski, A. F.; Saw, C. K.; Harper, J. F.; Vallier, B. F.; Ferreira, J. L.; Hayes, J. P. Thin Solid Films 2006, 494, 268-273.
-
(2006)
Thin Solid Films
, vol.494
, pp. 268-273
-
-
Jankowski, A.F.1
Saw, C.K.2
Harper, J.F.3
Vallier, B.F.4
Ferreira, J.L.5
Hayes, J.P.6
-
25
-
-
57049136597
-
-
Marsillac, S.; Barreau, N.; Khatri, H.; Li, J.; Sainju, D.; Parikh, A.; Podraza, N. J.; Collins, R. W. Phys. Status Solidi C 2008, 5, 1244-1248.
-
(2008)
Phys. Status Solidi C
, vol.5
, pp. 1244-1248
-
-
Marsillac, S.1
Barreau, N.2
Khatri, H.3
Li, J.4
Sainju, D.5
Parikh, A.6
Podraza, N.J.7
Collins, R.W.8
|