Long-chain alkylthiol assemblies containing buried in-plane stabilizing architectures

Langmuir

Volumn 25, Issue 24, 2009, Pages 13959-13971

  Lee, Hung Hsun ^a   Ružele, Živile ^b   Malysheva, Lyuba ^c   Onipko, Alexander ^c   Gutés, Albert ^a   Björefors, Fredrik ^a   Valiokas, Ramünas ^b   Liedberg, Bo ^a  

^a LINKÖPING UNIVERSITY   (Sweden)

^b CENTER FOR PHYSICAL SCIENCES AND TECHNOLOGY   (Lithuania)

^c BOGOLYUBOV INSTITUTE FOR THEORETICAL PHYSICS   (Ukraine)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMIDE GROUPS; CHEMICAL STRUCTURE; CONTACT ANGLE GONIOMETRY; DFT MODELING; ELEMENTAL ANALYSIS; ETHANOLIC SOLUTION; HYDROGEN BONDING NETWORK; IN-PLANE; INFRARED REFLECTION ABSORPTION SPECTROSCOPY; INFRARED SPECTRUM; INTERMOLECULAR HYDROGEN BONDS; LENGTH SCALE; MIMETICS; NULL ELLIPSOMETRY; SAMS; STRUCTURAL MODULE; TWO LAYERS;

ABSORPTION SPECTROSCOPY; ALKYLATION; AMIDES; CELL MEMBRANES; CHEMICAL COMPOUNDS; CONTACT ANGLE; CYCLIC VOLTAMMETRY; CYTOLOGY; DEUTERIUM; ETHYLENE; ETHYLENE GLYCOL; INFRARED SPECTROSCOPY; MOLECULAR ORIENTATION; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS;

HYDROGEN BONDS;

EID: 74049088205     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la901668u     Document Type: Article

References (47)

1. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533-1554.
2. Schreiber, F. Prog. Surf. Sci. 2000, 65, 151-256.
3. Kramer, S.; Fuierer, R. R.; Gorman, C. B. Chem. Rev. 2003, 103, 4367-4418.
4. Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kriebel, J. K.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1103-1169.
5. Nuzzo, R. G.; Aliara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1983, 105, 4481-4483.
6. Porter, M. D.; Bright, T. B.; Aliara, D. L.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3559-3568.
7. Evans, S. D.; Goppertberarducci, K. E.; Urankar, E.; Gerenser, L. J.; Ulman, A. Langmuir 1991, 7, 2700-2709.
8. Lenk, T. J.; Hallmark, V. M.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 4610-4617.
9. Clegg, R. S.; Reed, S. M.; Smith, R. K.; Barron, B. L.; Rear, J. A.; Hutchison, J. E. Langmuir 1999, 15, 8876-8883.
10. Sek, S.; Misicka, A.; Bilewicz, R. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 5399-5402.
11. Sek, S.; Palys, B.; Bilewicz, R. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 5907-5914.
12. Tam-Chang, S. W.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M.; Jeon, N.; Nuzzo, R. G. Langmuir 1995, 11, 4371-4382.
13. Clegg, R. S.; Reed, S. M.; Hutchison, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 2486-2487.
14. Valiokas, R.; Ostblom, M.; Svedhem, S.; Svensson, S. C. T.; Liedberg, B. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 10401-10409.
15. Lewis, P. A.; Smith, R. K.; Kelly, K. F.; Bumm, L. A.; Reed, S. M.; Clegg, R. S.; Gunderson, J. D.; Hutchison, J. E.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 10630-10636.
16. Smith, R. K.; Reed, S. M.; Lewis, P. A.; Monnell, J. D.; Clegg, R. S.; Kelly, K. F.; Bumm, L. A.; Hutchison, J. E.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. B 2001,105, 1119-1122.
17. Heister, K.; Frey, S.; Ulman, A.; Grunze, M.; Zharnikov, M. Langmuir 2004, 20, 1222-1227.
18. Cabarcos, O. M.; Shaporenko, A.; Weidner, T.; Uppili, S.; Dake, L. S.; Zharnikov, M.; Allara, D. L. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 10842-10854.
19. Pale-Grosdemange, C.; Simon, E. S.; Prime, K. L.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 12-20.
20. Harder, P.; Grunze, M.; Dahint, R.; Whitesides, G. M.; Laibinis, P. E. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 426-436.
21. Zolk, M.; Eisert, F.; Pipper, J.; Herrwerth, S.; Eck, W.; Buck, M.; Grunze, M. Langmuir 2000, 16, 5849-5852.
22. Vanderah, D. J.; Gates, R. S.; Silin, V.; Zeiger, D. N; Woodward, J. T.; Meuse, C. W.; Valincius, G.; Nickel, B. Langmuir 2003, 19, 2612-2620.
23. Vanderah, D. J.; Parr, T.; Silin, V.; Meuse, C. W.; Gates, R. S.; La, H. Y.; Valincius, G. Langmuir 2004, 20, 1311-1316.
24. Svedhem, S.; Hollander, C. A.; Shi, J.; Konradsson, P.; Liedberg, B.; Svensson, S. C. T. J. Org. Chem. 2001, 66, 4494-4503.
25. Valiokas, R.; Ostblom, M.; Bjorefors, F.; Liedberg, B.; Shi, J.; Konradsson, P. Biointerphases 2006, 1, 22-34.
26. Nuzzo, R. G.; Korenic, E. M.; Dubois, L. H. J. Chem. Phys. 1990, 93, 767-773.
27. Valiokas, R.; Malysheva, L.; Onipko, A.; Lee, H.-H.; Ruzele, Z.; Svedhem, S.; Svensson, S. C. T.; Gelius, U.; Liedberg, B. J. Electron Spedrosc. Relat. Phenom., in press.
28. Malysheva, L.; Klymenko, Y.; Onipko, A.; Valiokas, R.; Liedberg, B. Chem. Phys. Lett. 2003, 370, 451-459.
29. Malysheva, L.; Onipko, A.; Valiokas, R.; Liedberg, B. J. Phys. Chem. A 2005, 109, 7788-7796.
30. Malysheva, L.; Onipko, A.; Valiokas, R.; Liedberg, B. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 13221-13227.
31. Malysheva, L.; Onipko, A.; Liedberg, B. J. Phys. Chem. A 2008, 112, 1683-1687.
32. Malysheva, L.; Onipko, A.; Liedberg, B. J. Phys. Chem. A 2008, 112, 728-736.
33. Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1988, 110, 5897-5898.
34. Finklea, H. O. Electrochemistry of Organized Monolayers of Thiols and Related Molecules on Electrodes. In Electroanalytical Chemistry: A Series of Advances; Dekker: New York, 1996; Vol.19, pp 109-335.
35. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Aliara, D. L.; Tao, Y. T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167.
36. Vanderah, D. J.; Meuse, C. W.; Silin, V.; Plant, A. L. Langmuir 1998, 14, 6916-6923.
37. Valiokas, R.; Svedhem, S.; Ostblom, M.; Svensson, S. C. T.; Liedberg, B. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 5459-5469.
38. Vanderah, D. J.; Arsenault, J.; La, H.; Gates, R. S.; Silin, V.; Meuse, C. W.; Valincius, G. Langmuir 2003, 19, 3752-3756.
39. Valiokas, R.; Ostblom, M.; Svedhem, S.; Svensson, S. C. T.; Liedberg, B. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 7565-7569.
40. MacPhail, R. A.; Snyder, R. G.; Strauss, H. L. J. Chem. Phys. 1982, 77, 1118-1137.
41. Suzuki, I. Bull. Chem. Soc. Jpn. 1962, 35, 540-551.
42. Tao, F.; Bernasek, S. L. Chem. Rev. 2007, 107, 1408-1453.
43. Nishi, N.; Hobara, D.; Yamamoto, M.; Kakiuchi, T. J. Chem. Phys. 2003, 118, 1904-1911.
44. Miyazawa, T.; Fukushima, K.; Ideguchi, Y. J. Chem. Phys. 1962, 37, 2764-2776.
45. Clegg, R. S.; Hutchison, J. E. Langmuir 1996, 12, 5239-5243.
46. Valiokas, R.; Svedhem, S.; Svensson, S. C. T.; Liedberg, B. Langmuir 1999, 15, 3390-3394.
47. Clegg, R. S.; Hutchison, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 5319-5327.