Coadsorption of ethylene and nitrobenzene on Si(100)-2 × 1: Toward surface patterning at the molecular level

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 113, Issue 42, 2009, Pages 18270-18275

  Madachik, Mark R ^a   Teplyakov, Andrew V ^a  

^a UNIVERSITY OF DELAWARE   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CLUSTER MODELS; CO-ADSORPTION; DESORPTION TEMPERATURES; ETHYLENE MOLECULES; FREQUENCY CALCULATIONS; INFRARED SPECTRUM; MOLECULAR LEVELS; MOLECULAR PATTERNING; MONOLAYER COVERAGE; MULTIPLE INTERNAL REFLECTIONS; ORGANIC LAYERS; ROOM TEMPERATURE; SEMI-CONDUCTOR SURFACES; SI(1 0 0); SI(100) SURFACE; SILICON SURFACES; STABLE SURFACES; SURFACE DIMERS; SURFACE FEATURE; SURFACE PATTERNING; SURFACE SILICON; SURFACE SITES; THEORETICAL CALCULATIONS; VIBRATIONAL STUDY;

ADSORPTION; CHEMISORPTION; DESORPTION; ETHYLENE; INFRARED SPECTROSCOPY; MONOLAYERS; NITROBENZENE; OLIGOMERS; SEMICONDUCTING ORGANIC COMPOUNDS; SEMICONDUCTING SILICON;

SURFACE DIFFUSION;

EID: 70449572413     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp9059592     Document Type: Article

References (32)

1. Rodriguez-Reyes, J. C. F.; Teplyakov, A. V. Phys, Rev. B 2007, 76, 075348.
2. Bischoff, J. L.; Lutz, F.; Bolmont, D.; Kubler, L. Surf. Sci. 1991, 251, 170.
3. Hamers, R. J.; Avouris, P.; Bozso, F. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 2071.
4. Queeney, K. T.; Chabal, Y. J.; Raghavachari, K. Phys, Rev. Lett. 2001, 86, 1046.
5. Chabal, Y. J.; Raghavachari, K. Surf. Sci. 2002, 502, 41.
6. Owen, J. H. G.; Bowler, D. R.; Kusano, S.; Mild, K. Phys, Rev., B 2005, 72, 113304.
7. Bowler, D. R.; Owen, J. H. G. Phys. Rev. B 2007, 75, 155310.
8. Owen, J. H. G.; Bowler, D. R. Surf. Sci. 2008, 602, 3760.
9. Yoshinobu, J. Prog. Surf. Sci. 2004, 77, 37.
10. Cao, X. P.; Hamers, R. J. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 1840.
11. Bent, S. F. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2830.
12. Bent, S. F. Surf. Sci. 2002, 500, 879.
13. Leftwich, T. R.; Teplyakov, A. V. Surf. Sci., Rep. 2008, 63, 1.
14. Clemen, L.; Wallace, R. M.; Taylor, P. A.; Dresser, M. J.; Choyke, W. J.; Weinberg, W. H.; Yates, J. T., Jr. Surf. Sci. 1992, 268, 205.
15. Lu, X. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 6384.
16. Nagao, M.; Umeyama, H.; Mukai, K.; Yamashita, Y.; Yoshinobu, J.; Akagi, K.; Tsuneyuki, S. J. Chem. Soc. 2004, 126, 9922.
17. Chung, C. H.; Jung, W. J.; Lyo, I. W. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 116102.
18. Shimomura, M.; Munakata, M.; Iwasaki, A.; Ikeda, M.; Abukawa, T.; Sato, K.; Kawawa, T.; Shimizu, H.; Nagashima, N.; Kono, S. Surf. Sci. 2002, 504, 19.
19. Mayne, A. J.; Avery, A. R.; Knall, J.; Jones, T. S.; Briggs, G. A. D.; Weinberg, W. H. Surf. Sci. 1993, 284, 247.
20. Mlatsui, F.; Yeom, H. W.; Imanishi, A.; Isawa, K.; Matsuda, I.; Ohta, T. Surf. Sci. 1998, 401, L413.
21. Cheng, C. C.; Wallace, R. M.; Taylor, P. A.; Choyke, W. J.; Yates, J. T. J. Appl. Phys. 1990, 67, 3693.
22. Cho, J. H.; Kieinman, L.; Chan, C. T.; Kim, K. S. Phys. Rev. B 2001, 63, 073306.
23. Bocharov, S.; Teplyakov, A. V. Surf. Sci. 2004, 573, 403.
24. De Leo, L. P. M.; Teplyakov, A. V. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 6899.
25. Barriocanal, J. A.; Doren, D. J. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 12269.
26. Eng, J.; Hubner, I. A.; Barriocanal, J.; Opila, R. L.; Doren, D. J. J. Appl. Phys. 2004, 95, 1963.
27. Perrine, K. A.; Leftwich, T. R.; Weiland, C. R.; Madachik, M. R.; Opila, R. L.; Teplyakov, A. V. J. Phys. Chem, C 2009, 113, 6643.
28. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox., J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Parkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, Revision B.05; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 2003.
29. Lee, C.-Y.; Yang, W.; Parr, R. G. Phys. Rev. B 1988, 37, 785.
30. Becke, A. D. J. Chem, Phys. 1993, 98, 5648.
31. Widdra, W.; Huang, C.; Yi, S. I.; Weinberg, W. H. J. Chem, Phys. 1996, 105, 5605.
32. Yoshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M.; Nishijima, M. J. Chem. Phys. 1987, 87, 7332.