Control of inter-dot electrostatic coupling by a side gate in a silicon double quantum dot operating at 4.5 K

Applied Physics Express

Volumn 2, Issue 9, 2009, Pages

  Yamahata, Gento ^a   Kodera, Tetsuo ^a   Mizuta, Hiroshi ^a,b,c   Uchida, Ken ^a,c   Oda, Shunri ^a,c  

^a TOKYO INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Japan)

^b UNIVERSITY OF SOUTHAMPTON   (United Kingdom)

^c JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHARGE STABILITY; ELECTRON TRANSPORT MEASUREMENTS; ELECTROSTATIC COUPLING; PRACTICAL IMPLEMENTATION; QUANTUM INFORMATION DEVICE; SIDE GATE; SILICON DOUBLE QUANTUM DOT; THEORETICAL CALCULATIONS; TOP GATE; TUNABLE COUPLING;

CURRENT VOLTAGE CHARACTERISTICS; ELECTROSTATICS; FIELD EFFECT TRANSISTORS; QUANTUM CHEMISTRY; QUANTUM OPTICS;

SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS;

EID: 70349157553     PISSN: 18820778     EISSN: 18820786     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/APEX.2.095002     Document Type: Article

References (23)

1. D. Loss and D. P. DiVincenzo: Phys. Rev. A 57 (1998) 120.
2. F. H. L. Koppens, C. Buizert, K. J. Tielrooij, I. T. Vink, K. C. Nowack, T. Meunier, L. P. Kouwenhoven, and L. M. K. Vandersypen: Nature 442 (2006) 766.
3. J. R. Petta, A. C. Johnson, J. M. Taylor, E. A. Laird, A. Yacoby, M. D. Lukin, C. M. Marcus, M. P. Hanson, and A. C. Gossard: Science 309 (2005) 2180.
4. K. C. Nowack, F. H. L. Koppens, Y. V. Nazarov, and L. M. K. Vandersypen: Science 318 (2007) 1430.
5. M. Pioro-Ladriere, T. Obata, Y. Tokura, Y. S. Shin, T. Kubo, K. Yoshida, T. Taniyama, and S. Tarucha: Nat. Phys. 4 (2008) 776.
6. A. V. Khaetskii, D. Loss, and L. Glazman: Phys. Rev. Lett. 88 (2002) 186802.
7. H. O. H. Churchill, F. Kuemmeth, J. W. Harlow, A. J. Bestwick, E. I. Rashba, K. Flensberg, C. H. Stwertka, T. Taychatanapat, S. K. Watson, and C. M. Marcus: Phys. Rev. Lett. 102 (2009) 166802.
8. F. A. Zwanenburg, C. E. W. M. van Rijmenam, Y. Fang, C. M. Lieber, and L. P. Kouwenhoven: Nano Lett. 9 (2009) 1071.
9. N. Shaji, C. B. Simmons, M. Thalakulam, L. J. Klein, H. Qin, H. Luo, D. E. Savage, M. G. Lagally, A. J. Rimberg, R. Joynt, M. Friesen, R. H. Blick, S. N. Coppersmith, and M. A. Eriksson: Nat. Phys. 4 (2008) 540.
10. F. Molitor, S. Droscher, J. Guttinger, A. Jacobsen, C. Stampfer, T. Ihn, and K. Ensslin: Appl. Phys. Lett. 94 (2009) 222107.
11. A. Fujiwara, H. Inokawa, K. Yamazaki, H. Namatsu, Y. Takahashi, N. M. Zimmerman, and S. B. Martin: Appl. Phys. Lett. 88 (2006) 053121.
12. H. Liu, T. Fujisawa, H. Inokawa, Y. Ono, A. Fujiwara, and Y. Hirayama: Appl. Phys. Lett. 92 (2008) 222104.
13. W. H. Lim, H. Huebl, L. H. W. van Beveren, S. Rubanov, P. G. Spizzirri, S. J. Angus, R. G. Clark, and A. S. Dzurak: Appl. Phys. Lett. 94 (2009) 173502.
14. V. C. Chan, T. M. Buehler, A. J. Ferguson, D. R. McCamey, D. J. Reilly, A. S. Dzurak, R. G. Clark, C. Yang, and D. N. Jamieson:J. Appl. Phys. 100 (2006) 106104.
15. C. B. Simmons, M. Thalakulam, B. M. Rosemeyer, B. J. V. Bael, E. K. Sackmann, D. E. Savage, M. G. Lagally, R. Joynt, M. Friesen, S. N. Coppersmith, and M. A. Eriksson: arXiv:0905.1647.
16. Y. Hu, H. O. H. Churchill, D. J. Reilly, J. Xiang, C. M. Lieber, and C. M. Marcus: Nat. Nanotechnol. 2 (2007) 622.
17. R. Hanson, L. P. Kouwenhoven, J. R. Petta, S. Tarucha, and L. M. K. Vandersypen: Rev. Mod. Phys. 79 (2007) 1217.
18. G. Yamahata, Y. Tsuchiya, S. Oda, Z. A. K. Durrani, and H. Mizuta:Jpn. J. Appl. Phys. 47 (2008) 4820.
19. T. Kodera, T. Ferrus, T. Nakaoka, G. Podd, M. Tanner, D. Williams, and Y. Arakawa: Jpn. J. Appl. Phys. 48 (2009) 06FF15.
20. W. G. van der Wiel, S. D. Franceschi, J. M. Elzerman, T. Fujisawa, S. Tarucha, and L. P. Kouwenhoven: Rev. Mod. Phys. 75 (2002) 1.
21. G. Burkard, D. Loss, and D. P. DiVincenzo: Phys. Rev. B 59 (1999) 2070.
22. T. Hatano, M. Stopa, and S. Tarucha: Science 309 (2005) 268.
23. T. Kodera, K. Ono, Y. Kitamura, Y. Tokura, Y. Arakawa, and S. Tarucha: Phys. Rev. Lett. 102 (2009) 146802.