Work function measurements of thin oxide films on metals - MgO on Ag(001)

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 113, Issue 26, 2009, Pages 11301-11305

  Konig T ^a   Simon, G H ^a   Rust, H P ^a   Heyde, M ^a  

^a FRITZ HABER INSTITUT DER MAX PLANCK GESELLSCHAFT   (Germany)

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CONTACT POTENTIAL DIFFERENCE; DENSITY FUNCTIONAL THEORY CALCULATIONS; DUAL MODES; DYNAMIC FORCE MICROSCOPES; EXPERIMENTAL DATA; IN-SITU; KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY; KEY PARAMETERS; LOW TEMPERATURES; METAL WORK FUNCTION; SCANNING PROBE TECHNIQUES; SCANNING TUNNELING MICROSCOPES; SURFACE AREA; THIN OXIDE FILMS; WORK FUNCTION MEASUREMENTS;

DENSITY FUNCTIONAL THEORY; ELECTRON AFFINITY; FIELD EMISSION; MONOLAYERS; PROBES; SCANNING; SILVER; SINGLE CRYSTAL SURFACES; SINGLE CRYSTALS; VACUUM; WORK FUNCTION;

OXIDE FILMS;

EID: 67651120109     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp901226q     Document Type: Article

References (44)

1. Ertl, G.; Knözinger, H.; Schüth, F.; Weitkamp, J. Handbook of Heterogeneous Catalysis: Wiley-VCH: Weinheim, 2008.
2. Freund, H.-J. Top. Catal. 2008, 48, 137-144.
3. Haruta, M; Kobayashi, T.; Sano, H.; Yamada, N. Chem. Lett. 1987, 16, 405-408.
4. Haruta, M. CATTECH 2002, 6, 102.
5. Haruta, M. Catal. Today 1997, 36, 153.
6. Valden, M; Lai, X.; Goodman, D. W. Science 1998, 281, 1648.
7. Bongiorno, A.; Landman, U. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 106102.
8. Pacchioni, G.; Girodano, L.; Baistrocchi, M. Phys. Rev. Lett. 2005, 94, 226104.
9. Yulikov, M; Sterrer, M; Heyde, M; Rust, H.-P.; Risse, T.; Freund, H.-J.; Scagnelli, A.; Pacchioni, G. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 146804.
10. Sterrer, M.; Risse, T.; Pozzoni, U. M.; Giordano, L.; Heyde, M.; Rust, H.-P.; Pacchioni, G.; Freund, H.-J. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 206103.
11. Sterrer, M; Risse, T. M; Heyde, H.; P, R.; Freund, H.-J. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 096107.
12. Simic-Milosevic, V.; Heyde, M; Nilius, N.; König, T.; Rust, H.-P.; Sterrer, M.; Risse, T.; Freund, H.-J.; Giordano, L.; Pacchioni, G. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 7814-7815.
13. Benia, H. M; Lin, X.; Gao, H. J.; Nilius, N.; Freund, H.-J. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 10528.
14. Frondelius, P.; Häkkinen, H.; Honkala, K. Phys. Rev. B 2007, 76, 073406.
15. Kulawik, M; Nilius, N.; Freund, H.-J. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 036103.
16. Nilius, N.; Ganduglia-Pirovano, M. V.; Brazdova, V.; Kulawik, M; Sauer, J.; Freund, H.-J. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 096802.
17. Yoon, B.; Häkkinen, H.; Landman, U.; Wörz, A. S.; Antonietti, J.-M.; Abbet, S.; Judai, K.; Heiz, U. Science 2005, 307, 403-407.
18. Frondelius, P.; Hellman, A.; Honkala, K.; Häkkinen, H.; Grönbeck, H. Phys. Rev. B 2008, 78, 085426.
19. Girodano, L.; Pacchioni, G.; Goniakowski, J.; Nilius, N.; Rienks, E. D. L.; Freund, H.-J. Phys. Rev. Lett. 2008, 101, 026102.
20. Freund, H.-J. Surf. Sci. 2007, 601, 1438-1442.
21. Freund, H.-J.; Pacchioni, G. Chem. Soc. Rev. 2008, 37, 2224-2242.
22. Giordano, L.; Cinquini, F.; Pacchioni, G. Phys. Rev. B 2005, 73, 045414.
23. Goniakowski, J.; Noguera, C. Interface Sci. 2004, 12, 93-103.
24. Yeo, Y.-C; King, T.-J.; Hu, C. J. Appl. Phys. 2002, 92, 7266-7271.
25. Prada, S.; Martinez, U.; Pacchioni, G. Phys. Rev. B 2008, 78, 235423.
26. Heyde, M; Kulawik, M.; Rust, H.-P.; Freund, H.-J. Rev. Sci. Instrum. 2004, 75, 2446-2450.
27. Heyde, M; Sterrer, M.; Rust, H.-R.; Freund, H.-J. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 083104.
28. Rust, H.-P.; Heyde, M; Freund, H.-J. Rev. Sci. Instrum. 2006, 77, 043710.
29. Sader, J. E.; Jarvis, S. P. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 1801.
30. Albrecht, T. R.; Grütter, P.; Horne, D.; Rugar, D. J. Appl. Phys. 1991, 69, 668-673.
31. Binnig, G.; Rohrer, H. Surf. Sci. 1983, 126, 236-244.
32. Repp, J.; Meyer, G.; Olsson, F. E.; Persson, M. Phys. Rev. B 2005, 71, 075419.
33. Lang, N. D. Phys. Rev. B 1988, 37, 10395.
34. Chen, C. J. Introduction to Scanning Tunneling Microscopy; Oxford University Press: New York, 1993.
35. Olesen, L.; Brandbyge, M.; Sorensen, M. R.; Jacobsen, K. W.; Laegsgaard, E.; Stensgaard, I.; Besenbacher, F. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 1485.
36. Gundlach, K. H. Solid-State Electron. 1966, 9, 949-957.
37. Binnig, G.; Rohrer, H. Helv. Phys. Acta 1982, 55, 726.
38. Rienks, E. D. L.; Nilius, N.; Rust, H.-P.; Heyde, M.; Freund, H.-J. Phys. Rev. B 2005, 71, R241404.
39. Kolesnychenko, O. Y.; Kolesnichenko, Y. A.; Shklyarevskii, O.; van Kempen, H. Physica B 2000, 291, 246.
40. Perdew, J. P.; Chevary, J. A.; Vosko, S. H.; Jackson, K. A. R.; Pederson, M.; Singh, D. J.; Fiolhais, C. Phys. Rev. B 1992, 46, 6671.
41. Kresse, G.; Hafner, J. Phys. Rev. B 1993, 47, R558.
42. Kresse, G.; Furthmüller, J. Phys. Rev. B 1996, 54, 11169.
43. Blöchl, P. E. Phys. Rev. B 1994, 50, 17953.
44. Hölscher, H.; Allers, W.; Schwarz, U. D.; Schwarz, A.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 2000, 62, 6967.