Probing exciton localization/delocalization: Transient dc photoconductivity studies of excited states of symmetrical porphyrin monomers, oligomers, and supramolecular assemblies

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 113, Issue 29, 2009, Pages 8182-8186

  She, Chunxing ^a   McGarrah, James E ^a   Lee, Suk Joong ^a   Goodman, Joshua L ^b   Nguyen, Sonbinh T ^a   Williams, J A G ^c   Hupp, Joseph T ^a  

^a NORTHWESTERN UNIVERSITY   (United States)

^b UNIVERSITY OF ROCHESTER   (United States)

^c DURHAM UNIVERSITY   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EXCESS POLARIZABILITY; HIGHER ORDER; LOCALIZATION/DELOCALIZATION; PHASE TRANSIENT; SINGLET EXCITONS; SUPRAMOLECULAR ASSEMBLIES; TRIPLET EXCITONS;

EXCITED STATES; OLIGOMERS; PHOTOCONDUCTIVITY; PORPHYRINS;

EXCITONS;

EID: 67650816188     PISSN: 10895639     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp903125t     Document Type: Article

References (35)

1. (a) Lee, S. J.; Hupp, J. T. Coord. Chem. Rev. 2006, 250, 1710.
2. (b) Kim, D.; Osuka, A. Acc. Chem. Res. 2004, 37, 735.
3. Taylor, P. N.; Huuskonen, J.; Rumbles, G.; Aplin, R. T.; Williams, E.; Anderson, H. L. Chem. Commun. 1998, 909.
4. (a) Lin, V. S. Y.; Therien, M. J. Chem.-Eur. J. 1995, 7, 645.
5. (b) Angiolillo, P. J.; Lin, V. S. Y.; Vanderkooi, J. M.; Therien, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 12514.
6. Angiolillo, P. J.; Uyeda, H. T.; Duncan, T. V.; Therien, M. J. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 11893.
7. Shediac, R.; Gray, M. H. B.; Uyeda, H. T.; Johnson, R. C.; Hupp, J. T.; Angiolillo, P. J.; Therien, M. J. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 7017.
8. (e) Susumu, K.; Therien, M. J. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 8550.
9. (f) Piet, J. J.; Taylor, P. N.; Wegewijs, B. R.; Anderson, H. L.; Osuka, A.; Warman, J. M. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 97.
10. (g) Piet, J. J.; Taylor, P. N.; Anderson, H. L.; Osuka, A.; Warman, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 1749.
11. (a) Smirnov, S. N.; Braun, C. L. Rev. Sci. Instrum. 1998, 69, 2875.
12. (b) Smirnov, S. N.; Braun, C. L. J. Phys. Chem. 1994, 98, 1953.
13. Grzeskowiak, K. N.; Smirnov, S. N.; Braun, C. L. J. Phys. Chem. 1994, 98, 5661.
14. (a) Walters, K. A.; Kim, Y. J.; Hupp, J. T. Inorg. Chem. 2002, 41, 2909.
15. (b) Vanhelmont, F. W. M.; Johnson, R. C.; Hupp, J. T. Inorg. Chem. 2000, 39, 1814.
16. Vanhelmont, F. W. M.; Hupp, J. T. Inorg. Chem. 2000, 39, 1817.
17. 0 is the vacuum permittivity.
18. (a) Gelinck, G. H.; Piet, J. J.; Wegewijs, B. R.; Mullen, K.; Wildeman, J.; Hadziioannou, G.; Warman, J. M. Phys. Rev. B 2000, 62, 1489.
19. (b) Verbouwe, W.; Van der Auweraer, M.; De Schryver, F. C.; Piet, J. J.; Warman, J. M. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 1319.
20. (a) Taylor, P. N.; Anderson, H. L. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 11538.
21. (b) Osuka, A.; Shimidzu, H. Angew. Chem., Int. Ed. 1997, 36, 135.
22. (a) Lee, S. J.; Mulfort, K. L.; O'Donnell, J. L.; Zuo, X. B.; Goshe, A. J.; Wesson, P. J.; Nguyen, S. T.; Hupp, J. T.; Tiede, D. M. Chem. Commun. 2006, 4581.
23. (b) Lee, S. J.; Cho, S.-H.; Mulfort, K. L; Tiede, D. M.; Hupp, J. T.; Nguyen, S. T. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 1682816829.
24. Lee, S. J.; Mulfort, K. L.; Zuo, X. Zuo; Goshe, A. J.; Wesson, P. J.; Nguyen, S. T.; Hupp, J. T.; Tiede, J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 836-838.
25. Kelley, R. F.; Lee, S. J.; Wislon, T. M.; Nakamura, Y.; Tiede, D. M.; Osuka, A.; Hupp, J. T.; Wasielewski, M. R. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 4277-4284.
26. Seybold, P. G.; M, G. J. Mol. Spectrosc. 1969, 31, 1.
27. Sinks, L. E.; Rybtchinski, B.; Iimura, M.; Jones, B. A.; Goshe, A. J.; Zuo, X. B.; Tiede, D. M.; Li, X. Y.; Wasielewski, M. R. Chem. Mater. 2005, 17, 6295.
28. Rudzki, J. E.; Goodman, J. L.; Peters, K. S. J. Am. Chem. Soc. 1985, 17, 7849.
29. Kuimova, M. K.; Hoffmann, M.; Winters, M. U.; Eng, M.; Balaz, M.; Clark, I. P.; Collins, H. A.; Tavender, S. M.; Wilson, C. J.; Albinsson, B.; Anderson, H. L.; Parker, A. W.; Phillips, D. Photochem. Photobiol. Sci. 2007, 6, 675.
30. For example, see: (a) Karki, L.; Williams, R. D.; Hupp, J. T.; Allen, C. B.; Spreer, L. O Inorg. Chem. 1998, 37, 2837.
31. (b) Shin, Y. K.; Brunschwig, B. S.; Creutz, C.; Sutin, N. J. Phys. Chem. 1996, 100, 8157.
32. In order to avoid measurement artifacts due to excitation of multiple rails or panels within individual assemblies (i.e., artifacts due to singletsinglet annihilation), the TDCP measurements were collected at a range of excitation powers and extrapolated to the low-power limit.
33. (a) Smirnov, S. N.; Braun, C. L. J. Phys. Chem. 1992, 96, 9587.
34. (b) Smirnov, S. N.; Braun, C. L. Chem. Phys. Lett. 1994, 217, 167.
35. For example, see: Atkins, P.; de Paula, J. Physical Chemistry, 7th ed.; Oxford University Press: Oxford and New York, p 691.