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Volumn 78, Issue 4, 2009, Pages

Statistical and stochastic properties of stacking sequences in SiC nanowires

Author keywords

Nanowire; Random walk; SiC; Stacking sequence

Indexed keywords


EID: 67649226743     PISSN: 00319015     EISSN: 13474073     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/JPSJ.78.044601     Document Type: Article
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References (25)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.