Facet-Dependent electronic properties of hexagonal silicon nanowires under progressive hydroxylation and surface reconstruction

Nano Letters

Volumn 9, Issue 5, 2009, Pages 1999-2004

  Xu, Xiaodan ^a   Servati, Peyman ^a  

^a UNIVERSITY OF BRITISH COLUMBIA   (Canada)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AB INITIO CALCULATIONS; BAND GAP REDUCTION; BAND GAPS; DENSITY OF STATE; HYDROXYL GROUPS; IN-BAND; MATERIALS FOR BIOSENSORS; SI NANOWIRE; SILICON NANOWIRES;

BIOSENSORS; DENSITY FUNCTIONAL THEORY; ELECTRIC WIRE; ELECTRONIC PROPERTIES; ENERGY GAP; HYDROXYLATION; NANOWIRES; RESTORATION; SURFACES;

SURFACE RECONSTRUCTION;

EID: 66549115629     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl900271q     Document Type: Article

References (33)

1. Cui, Y.; Zhong, Z.; Wang, D.; Wang, W. U.; Lieber, C. M. Nano Lett. 2003, 3, 149.
2. Colli, A.; Fasoli, A.; Beecher, P.; Servati, P.; Pisana, S.; Fu, Y.; Flewitt, A. J.; Milne, W. I.; Robertson, J.; Ducati, C.; De Franceschi, S.; Hofmann, S.; Ferrari, A. C. J. Appl. Phys. 2007, 102, 034302.
3. Tian, B.; Zheng, X.; Kempa, T. J.; Fang, Y.; Yu, N.; Yu, G.; Huang, J.; Lieber, C. M. Nature (London) 2007, 449, 885.
4. Lin, M. C.; Chu, C. J.; Tsai, L. C.; Lin, H. Y.; Wu, C. S.; Wu, T. P.; Wu, Y. N.; Shieh, D. B.; Su, Y. W.; Chen, C. D. Nano Lett. 2007, 7, 3656.
5. Yao, D.; Zhang, G.; Li, B. Nano Lett. 2008, 8, 4557.
6. Lin, H. C.; Su, C. J.; Hsiao, C. Y.; Yang, Y. S.; Huang, T. Y. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 202113.
7. Ng, M. F.; Zhou, L.; Yang, S. W.; Sim, L. Y.; Tan, V. B. C.; Wu, P. Phys. Rev.B 2007, 76, 155435.
8. Aradi, B.; Ramos, L. E.; Deak, P.; Kohler, Th.; Bechstedt, F.; Zhang, R. Q.; Frauenheim, Th. Phys. Rev.B 2007, 76, 035305.
9. Vo, T.; Williamson, A. J.; Galli, G. Phys. Rev.B 2006, 74, 045116.
10. Singh, A. K.; Kumar, V.; Note, R; Kawazoe, Y. Nano Lett. 2006, 6, 920.
11. Zhang, R. Q.; Lifshitz, Y.; Ma, D. D. D.; Zhao, Y. L.; Frauenheim, T.; Lee, S. T.; Tong, S. T. J. Chem. Phys. 2005, 123144703.
12. Nolan, M.; O'Callaghan, S.; Fagas, G.; Greer, G.; Frauenheim, T. Nano Lett. 2007, 7,34.
13. Leu, P. W.; Shan, B.; Cho, K. Phys. Rev.B 2006, 73, 195320.
14. Leao, C. R.; Fazzio, A.; da Silva, A. J. R.; et al. Nano Lett. 2007, 7, 1172.
15. Carniato, S.; Gallet, J. J.; Rochet, F.; Dufour, G.; Bournel, F.; Rangan, S.; Verdini, A.; Floreano, L. Phys. Rev.B2007, 76, 085321.
16. Ramos, L. E.; Furthmuller, J.; Bechstedt, F. Phys. Rev.B 2004, 70, 033311.
17. Wu, Y.; Cui, Y.; Huynh, L.; Barrelet, C. J.; Bell, C. D.; Liber, C. M. Nano Lett. 2004, 4, 433.
18. Ma, D. D. D.; Lee, C. S.; Au, F. C. K.; Tong, S. Y.; Lee, S. T. Science 2003, 299, 1874.
19. Chan, T. L.; Ciobanu, C. V.; Chuang, F. C.; Lu, N.; Wang, C. Z.; Ho, K. M. Nano Lett. 2006, 6, 277.
20. Boland, J. J. Phys. Rev. Lett. 1990, 65, 3325.
21. Boland, J. J. Surf. Sci. 1992, 261,17.
22. Ordejon, P.; Artacho, E.; Soler, J. M. Phys. Rev.B 1996, 53, R10441.
23. Zhao, X.; Wei, C. M.; Yang, L.; Chou, M. Y. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 236805.
24. Sankey, O. F.; Niklewski, D. J. Phys. Rev.B1989, 40, 3979.
25. Troullier, N.; Martins, J. L. Phys. Rev.B1991, 43, 1993.
26. Ponomareva, I.; Menon, M.; Srivastava, D.; Andriotis, A. N. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 265502.
27. Puzder, A.; Williamson, A. J.; Gro ssman, J. C.; Galli, G. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 097401.
28. Puzder, A.; Williamson, A. J.; Gro ssman, J. C.; Galli, G. J. Chem. Phys. 2002, 117, 6721.
29. Vasiliev, I.; Martin, R. M. Phys. Status Solidi B 2002, 233,5.
30. Puzder, A.; Williamson, A. J.; Reboredo, F. A.; Galli, G. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 157405.
31. Yan, J. A.; Yang, L.; Chou, M. Y. Phys. Rev.B2007, 76, 115319.
32. Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648. Stephens, P. J.; Devlin, F. J.; Chabalowski, C. F.; Frisch, M. J. J. Phys. Chem. 1994, 98, 11623.
33. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, Revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.