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Volumn 169, Issue 1, 2009, Pages 159-165

Silicon carbide thin films for EUV and soft X-ray applications

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EID: 65649105120     PISSN: 19516355     EISSN: 19516401     Source Type: Journal    
DOI: 10.1140/epjst/e2009-00987-6     Document Type: Conference Paper
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    • Kurt-Lesker Company (private communication)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.