Electrical conductivity of InN nanowires and the influence of the native indium oxide formed at their surface

Nano Letters

Volumn 9, Issue 4, 2009, Pages 1567-1571

  Werner, Florian ^a   Limbach, Friederich ^a   Carsten, Michael ^a   Denker, Christian ^a   Malindretos, Joerg ^a   Rizzi, Angela ^a  

^a UNIVERSITY OF GÖTTINGEN   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ACCUMULATION LAYERS; CORE LEVELS; CRITICAL DIAMETERS; ELECTRICAL CONDUCTIVITIES; ELECTRICAL PROPERTIES; ELECTRON ACCUMULATIONS; FOUR-POINT PROBE MEASUREMENTS; INDIUM OXIDES; WIRE DIAMETERS;

ELECTRIC CONDUCTIVITY; MEASUREMENTS; NANOWIRES;

ELECTRIC WIRE;

EID: 65449151351     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl8036799     Document Type: Article

References (22)

1. Walukiewicz, W.; Ager, J. W., III; Yu, K. M.; Liliental-Weber, Z.; Wu, J.; Li, S. X.; Jones, R. E.; Denlinger, J. D. J. Phys. D: Appl. Phys 2006, 39, R83-R99.
2. Klochikhin, A. A.; Davydov, V. Y.; Emtsev, V. V.; Sakharov, A. V.; Kapitonov, V. A.; Andreev, B. A.; Lu, H.; Schaff. W. J. Phys. Rev. B 2005, 71, 195207.
3. Bhuiyan, A. G.; Hashimoto, A.; Yamamoto, A. J. AppI. Phys. 2003, 94, 2779.
4. Bellotti, E.; Doshi, B. K.; Brennan, K. F.; Albrecht, J. D.; Ruden, P. P. J. Appl. Phys. 1999, 85, 916.
5. Mahboob, I.; Veal, T. D.; Piper, L. F. J.; McConville, C. F.; Lu, H.; Schaff, W. J.; Furthmueller, J.; Bechstedt, F. Phys. Rev. B 2004, 69, 201307R.
6. Segev, D.; van de Walle, C. Europhys. Lett. 2006, 76, 305-311.
7. King, P. D. C.; et al. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 092101-092103.
8. Richter, T.; Blömers, C.; Lüth. H.; Calarco. R.; Indlekofer. M.; Marso, M.; Schäpers, T. Nano Lett. 2008, 9, 2834-2838.
9. Chang, C. Y.; Chi, G. C.; Wang, W. M.; Chen, L. C.; Chen, K. H.; Ren, F.; Pearton, S. J. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 093112.
10. Calleja, E.; Grandal, J.; Sanchez-Garcia, M. A.; Niebelschutz, M.; Cimalla, V.; Ambacher, O. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 262110.
11. Chen, J.; Cheng, G.; Stern, E.; Reed, M.; Avouris, P. Nano Lett. 2007, 7, 2276-2280.
12. Denker, C.; Malindretos, J.; Werner, F.; Limbach, F.; Schuhmann, H.; Niermann, T.; Seibt, M.; Rizzi, A. Phys. Status Solidi C 2008, 5, 1706-1708.
13. Segura-Ruiz, J.; Garro, N.; Cantarero, A.; Denker, C.; Werner, F.; Malindretos, J.; Rizzi, A. Phys. Status Solidi C 2008, 5, 1678-1681.
14. Segura-Ruiz, J.; Garro, N.; Cantarero, A.; Denker, C.; Malindretos, J.; Rizzi, A. Phys. Rev. B 2009, 79, 115305.
15. Piper, L. F. J.; Veal, T. D.; Walker, M.; Mahboob, I.; McConville, C. F.; Lu, H.; Schaff, W. J. J. Vac. Sci. Technol., A 2005, 23, 617-620.
16. Veal, T. D.; King, P. D. C.; Jefferson, P. H.; Piper, L. F. J.; McConville, C. F.; Lu, H.; Schaff, W. J.; Anderson, P. A.; Durbin, S. M.; Muto, D.; Naoi, H.; Nanishi, Y. Phys. Rev. B 2007, 76, 075313-075318.
17. Chaudhry, A.; Islam, M. S. J. Nanosci. Nanotechnol. 2008, 8, 222-227.
18. Cheng, G.; Stern, E.; Turner-Evans, D.; Reed, M. A. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 253103.
19. Fehlberg, T. B.; Umana-Membreno, G. A.; Nener, B. D.; Parish, G.; Gallinat, C. S.; Koblmüller, G.; Rajan, S.; Bernardis, S.; Speck, J. S. Jpn. J. Appl. Phys 2006, 45, L1090-L1092.
20. Lebedev, V.; Wang, C. Y.; Hauguth, S.; Polyakov, V.; Schwierz, F.; Cimalla, V.; Kups, T.; Morales, F. M.; Lozano, J. G.; Gonzales, D.; Himmerlich, M.; Schaefer, J. A.; Krischok, S.; Ambaeher, O. Phys. Status Solidi C 2008, 2, 495-498.
21. Calarco, R.; Marso, M. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2007, 87, 499.
22. Kadir, A.; Mukhopadhyay, S.; Ganguli, T.; Galande, C.; Gokhale, M. R.; Arora, B. M.; Raychaudhuri, P.; Bhattacharya, A. Solid State Commun. 2008, 146, 361-364.