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Volumn 8, Issue 9, 2008, Pages 2935-2939

Atomic-resolution imaging of the nanoscale origin of toughness in rare-earth doped SiC

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ATOMIC-RESOLUTION IMAGING; GRAIN-BOUNDARY PHASE; INTERFACIAL FRACTURE TOUGHNESS; INTERGRANULAR CRACKINGS; MATERIAL PARAMETERS; NANO-SCALE; RARE-EARTH DOPED; SIC GRAINS;

EID: 60449116558     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl8017884     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.