메뉴 건너뛰기




Volumn , Issue , 2008, Pages 57-64

Emerging application opportunities for SiGe technology

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BICMOS TECHNOLOGY; HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTORS; INTEGRATED CIRCUITS; SEMICONDUCTING GERMANIUM COMPOUNDS; SEMICONDUCTING SILICON; SILICON ALLOYS;

EID: 57849110563     PISSN: 08865930     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/CICC.2008.4672020     Document Type: Conference Paper
Times cited : (8)

References (31)
  • 5
    • 57849152789 scopus 로고    scopus 로고
    • D. Knoll et al., Chapter 3.9 in Silicon Heterostructure Handbook, 2006.
    • D. Knoll et al., Chapter 3.9 in Silicon Heterostructure Handbook, 2006.
  • 6
    • 57849089925 scopus 로고    scopus 로고
    • J. Cai et al., Proc. IEEE BCTM, pp. 215, 2003.
    • J. Cai et al., Proc. IEEE BCTM, pp. 215, 2003.
  • 7
    • 57849131519 scopus 로고    scopus 로고
    • G. Avenier et al., Proc. IEEE BCTM, pp. 128-131, 2005.
    • G. Avenier et al., Proc. IEEE BCTM, pp. 128-131, 2005.
  • 10
    • 57849088528 scopus 로고    scopus 로고
    • J. Yuan et al., Proc. IEEE BCTM, p. 22, 2007.
    • J. Yuan et al., Proc. IEEE BCTM, p. 22, 2007.
  • 11
    • 57849165651 scopus 로고    scopus 로고
    • P. Chevalier et al., Proc. IEEE BCTM, p. 26, 2007.
    • P. Chevalier et al., Proc. IEEE BCTM, p. 26, 2007.
  • 13
    • 57849128282 scopus 로고    scopus 로고
    • J.P. Comeau et al., Proc. IEEE BCTM, p. 172, 2007.
    • J.P. Comeau et al., Proc. IEEE BCTM, p. 172, 2007.
  • 14
    • 57849148413 scopus 로고    scopus 로고
    • C. Grens et al., Proc. IEEE BCTM, p. 135, 2007.
    • C. Grens et al., Proc. IEEE BCTM, p. 135, 2007.
  • 15
    • 57849127497 scopus 로고    scopus 로고
    • J. Andrews et al., Proc. IEEE BCTM, 2008, in press.
    • J. Andrews et al., Proc. IEEE BCTM, 2008, in press.
  • 16
    • 57849158950 scopus 로고    scopus 로고
    • L. Wang et al., Proc. IEEE BCTM, p. 218, 2007.
    • L. Wang et al., Proc. IEEE BCTM, p. 218, 2007.
  • 19
    • 57849130180 scopus 로고    scopus 로고
    • S. Reynolds et al., Proc. IEEE BCTM, p. 192, 2007.
    • S. Reynolds et al., Proc. IEEE BCTM, p. 192, 2007.
  • 20
    • 57849096488 scopus 로고    scopus 로고
    • S. Voinigescu et al., Proc. IEEE BCTM, p, 223, 2006.
    • S. Voinigescu et al., Proc. IEEE BCTM, p, 223, 2006.
  • 21
    • 57849110816 scopus 로고    scopus 로고
    • J. Alvarado et al., IEEE IMS Tech. Dig., 2008, in press.
    • J. Alvarado et al., IEEE IMS Tech. Dig., 2008, in press.
  • 22
    • 57849165306 scopus 로고    scopus 로고
    • X. Li et al., Proc. IEEE BCTM, 2008, in press.
    • X. Li et al., Proc. IEEE BCTM, 2008, in press.
  • 25
    • 57849152312 scopus 로고    scopus 로고
    • Y. Yao et al., Proc. IEEE ASSCC, p. 420, 2007.
    • Y. Yao et al., Proc. IEEE ASSCC, p. 420, 2007.
  • 29
    • 57849087591 scopus 로고    scopus 로고
    • IEEE Micro. Wireless Comp. Letters
    • in press
    • T. Thrivikraman et al., IEEE Micro. Wireless Comp. Letters, in press.
    • Thrivikraman, T.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.