A study of flexoelectric coupling associated internal electric field and stress in thin film ferroelectrics

Physica Status Solidi (B) Basic Research

Volumn 245, Issue 4, 2008, Pages 761-768

  Ma, Wenhui ^a  

^a SHANTOU UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 55649116254     PISSN: 03701972     EISSN: 15213951     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssb.200743514     Document Type: Article

References (35)

1. V. L. Indenbom, E. B. Loginov, and M. A. Osipov, Sov. Phys.-Crystallogr. 26, 656 (1981).
2. Sh. M. Kogan, Sov. Phys.-Solid State 5, 2069 (1964).
3. A. K. Tagantsev, Sov. Phys.-JETP 61, 1246 (1985).
4. R. B. Meyer, Phys. Rev. Lett. 22, 918 (1969).
5. W. Ma and L. E. Cross, Appl. Phys. Lett. 78, 2920 (2001).
6. W. Ma and L. E. Cross, Appl. Phys. Lett. 79, 4420 (2001).
7. W. Ma and L. E. Cross, Appl. Phys. Lett. 81, 3440 (2002).
8. W. Ma and L. E. Cross, Appl. Phys. Lett. 82, 3293 (2003).
9. W. Ma and L. E. Cross, Appl. Phys. Lett. 86, 072905 (2005).
10. W. Ma and L. E. Cross, Appl. Phys. Lett. 88, 232902 (2006).
11. G. Catalan, L. J. Sinnamon, and J. M. Gregg, J. Phys.: Condens. Matter 16, 2253 (2004).
12. G. Catalan, B. Noheda, J. McAneney, L. J. Sinnamon, and J. M. Gregg, Phys. Rev. B 72, 020102(R) (2005).
13. L. Pálová, P. Chandra, and K. M. Rabe, Phys. Rev. B 76, 014112 (2007).
14. M. M. Saad, P. Baxter, R. M. Bowman, J. M. Gregg, F. D. Morrison, and J. F. Scott, J. Phys.: Condens. Matter 16, L451 (2004).
15. A. V. Kityk, W. Schranz, P. Sondergeld, D. Havlik, E. K. H. Salje, and J. F. Scott, Europhys. Lett. 50, 41 (2000).
16. V. Lyahovitskaya, I. Zon, Y. Feldman, S. R. Cohen, A. K. Tagantsev, and I. Lubomirsky, Adv. Mater. 15, 1826 (2003).
17. A. Gruverman, B. J. Rodriguez, A. I. Kingon, R. J. Nemanich, A. K. Tagantsev, J. S. Cross, and M. Tsukada, Appl. Phys. Lett. 83, 728 (2003).
18. H. Cao, V. Lo, and Z. Li, Solid State Commun. 138, 404 (2006).
19. A. K. Tagantsev and G. Gerra, J. Appl. Phys. 100, 051607 (2006).
20. R. Maranganti, N. D. Sharma, and P. Sharma, Phys. Rev. B 74, 014110 (2006).
21. A. L. Kholkin, K. G. Brooks, D. V. Taylor, S. Hiboux, and N. Setter, Integr. Ferroelectr. 22, 525 (1998).
22. M. D. Glinchuk, A. N. Morozovska, and E. A. Eliseev, J. Appl. Phys. 99, 114102 (2006).
23. M. Marvan and A. Havránek, Prog. Colloid Polym. Sci. 78, 33 (1988).
24. J. Fousek, L. E. Cross, and D. B. Litvin, Mater. Lett. 39, 287 (1999).
25. W. Zhu, J. Y. Fu, N. Li, and L. E. Cross, Appl. Phys. Lett. 89, 192904 (2004).
26. N. W. Schubring, J. V. Mantese, A. L. Micheli, A. B. Catalan, and R. J. Lopez, Phys. Rev. Lett. 68, 1778 (1992).
27. T. Tsurumi, T. Miyasou, Y. Ishibashi, and N. Ohashi, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 5104 (1998).
28. P. Hana, M. Marvan, L. Burianova, S. Zhang, E. Furman, and T. R. Shrout, Ferroelectrics 336, 137 (2006).
29. J. Y. Fu, W. Zhu, N. Li, and L. E. Cross, J. Appl. Phys. 100, 024112 (2006).
30. Z. G. Ban, S. P. Alpay, and J. V. Mantese, Phys. Rev. B 67, 184104 (2003).
31. A. M. Bratkovsky and A. P. Levanyuk, Phys. Rev. Lett. 94, 107601 (2005).
32. T. Ikeda, Fundamentals of Piezoelectricity (Oxford University Press, New York, 1990).
33. E. V. Bursian and O. I. Zaikovskii, Sov. Phys.-Solid State 10, 1121 (1968).
34. K. J. Choi, M. Biegalski, Y. L. Li, A. Sharan, J. Schubert, R. Uecker, P. Reiche, Y. B. Chen, X. Q. Pan, V. Gopalan, L. Q. Chen, G. G. Schlom, and C. B. Eom, Science 306, 1005 (2004).
35. M. Abplanalp, Ph.D. Dissertation, Swiss Federal Institute of Technology, Zürich (2001).