Hole-induced ferromagnetic properties of Fe-added ZnO films

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 53, Issue 1, 2008, Pages 249-252

  Seo, S Y ^a   Kwak, C H ^a   Lee, Y B ^a   Kim, S H ^a   Park, S H ^b   Han, S H ^c  

^a Pohang University of Science and Technology (POSTECH)   (South Korea)

^b Research Institute of Industrial Science and Technology (RIST)   (South Korea)

^c Chonbuk National University   (South Korea)

Author keywords

DMS; Ferromagnetic; Film; Sputtering; ZnFeO

Indexed keywords

EID: 49649095441     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.3938/jkps.53.249     Document Type: Conference Paper

References (30)

1. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000).
2. H. Ohno, Science 281, 951 (1998).
3. S. J. Pearton, C. R. Abernathy, M. E. Overberg, G. T. Thaler, A. H. Onstine, B. P. Hila, F. Ren, B. Lou and J. Kim, Mater, Today 5, 24 (2002).
4. B. T. Jonker, Y. D. Park, B. R. Bennett, H. D. Cheong, G. Kioseoglou and A. Petrou, Phys. Rev. B 62, 8180 (2000).
5. K, Ueda, H. Tabata and T. Kawai, Appl. Phys. Lett. 79, 988 (2001).
6. M. Venkatesan, C. B. Fitzgerald, J. G. Lunney and J. M. D. Coey, Phys. Rev. Lett. 93, 177206 (2004).
7. T. Fukumura, Z, Jin, A. Ohtomo, H. Koinuma and M. Kawasaki, Appl. Phys. Lett. 75, 3366(1999).
8. K Ando, H. Saito, Z. Jin, T. Fumura, M. Kawasaki, Y. Matsumoto and H. Koinuma, J. Appl. Phys. 89, 7284 (2001).
9. Z. Jin, T. Fukumura, M. Kawasaki, K. Ando, H. Saito and T. Sekiguchi, Appl. Phys. Lett. 78, 3824 (2001).
10. Z.-W. Jin, Y.-Z. Yoo, T. Sekiguchi, T. Chikyow, H. Ofuchi, H. Fujioka, M. Oshima and H. Koinuma, Appl. Phys, Lett. 83, 39 (2003).
11. R. Denecks, L. Ley and J. Fraxaedas, Phys. Rev. B 47, 13197 (1993).
12. Y. Ueda, M. Taniguchi, T. Mizokawa, A. Fujimori, I. Souma and Y. Oka, Phys. Rev. B 49, 2167 (1994).
13. K. Cho, H. Koh, J. Park, S.-J. Oh, H.-D. Kim, M. Han, J.-H. Park, C. T. Chen, Y. D. Kim, J.-S. Kim and B. T. Jonker, Phys, Rev. B 63, 155203 (2001).
14. R. Heitz, A. Hoffmann and I. Broser, Phys, Rev. B 45, 8977 (1992).
15. A. Hoffmann, R. Heiz and I. Broser, Phys, Rev. B 41, 5806 (1990).
16. Y.-Z. Yoo, T. Fukumura, Z. Jin, K. Hasegawa, M. Kawasaki, P. Ahmet, T. Chikyow and H. Koinuma, J. Appl. Phys. 90, 4246 (2001).
17. S.-J. Han, T.-H. Jang, Y. B. Kim, B.-G. Park, J.-H. Park and Y. H. Jeong, Appl. Phys. Lett. 83, 920 (2003).
18. V. A. L. Roy, A. B. Djurisic, H. Liu, X. X. Zhang, Y. H. Leung, M. H. Xie, J. Gao, H. F. Lui and C. Surya, Appl. Phys. Lett. 84, 756 (2004).
19. S.-J. Han, J. W. Song, C. H. Yang, S. H. Park, J.-H. Park and Y. H. Jeong, Appl. Phys. Lett. 81, 4212 (2002).
20. S. C. Wi, J.-S. Kang, J. H. Kim, S.-B. Cho, B. J. Kim, S. Yoon, B. J. Suh, S. W. Han, K. H. Kim, K. J. Kim, B. S. Kim, H. J. Song, H. J. Shin, J. H. Shim and B. I. Min, Appl. Phys. Lett. 84, 4233 (2004).
21. Y. M. Cho, W. K. Choo, H. Kim, D. Kim and Y. Ihm, Appl. Phys. Lett. 80, 3358 (2002).
22. H.-J. Lee, S.-Y. Jeong, C. R. Cho and C. H. Park, Appl. Phys. Lettt. 81, 4020 (2002).
23. W. Prellier, A. Fouchet, B. Mercey, Ch. Simon and B. Raveau, Appl. Phys. Lett. 82, 3490 (2003).
24. D. P. Norton, M. E. Overberg, S. J. Pearton, K. Prussner, J. D. Budai, L. A. Boatner, M. F. Chisholm, J. S. Lee, Z. G. Khim, Y. D. Park and R. G. Wilson, Appl. Phys. Lett. 83, 5488 (2003).
25. P. V. Radovanovic and D. R. Gamelin, Phys. Rev. Lett. 91, 157202 (2003).
26. H. Wang, Y. Chen, H. B. Wang, C. Zhang, F. J. Yang, J. X. Duan, C. P. Yang, Y. M. Xu, M. J. Zhou and Q. Li, Appl. Phys. Lett. 90, 52505 (2007).
27. H. Kepa, Le Van Khoi, C. M. Brown, M. Sawichi, J. K. Furdyna, T. M. Giebultowicz and T. Dietl, Phys. Rev. Lett. 91, 87205 (2003).
28. S.-W. Han, H.-J. Yoo, S. J. An, J. Yoo and G.-C. Yi, Appl. Phys. Lett. 86, 21917 (2005).
29. K. Potzger, W. Anwand, H. Reuther, S. Zhou, G. Talut, G. Brauer, W. Skorupa and J. Fassbender, J. Appl. Phys. 101, 033906 (2007).
30. Moulder, W. F. Stickle, P. E. Sobol and K. D. Bomben, Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy (Perkin-Elmer Corporation, Minnesota, 1992) p. 81, 222.