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Volumn 91, Issue 8, 2003, Pages

Probing Hole-Induced Ferromagnetic Exchange in Magnetic Semiconductors by Inelastic Neutron Scattering

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COMPUTATIONAL METHODS; MAGNETIC SEMICONDUCTORS; NEUTRON SCATTERING;

EID: 4644374161     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.91.087205     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.