Atomically resolved charge redistribution for Ga nanocluster arrays on the Si(111)-7 × 7 surface

Small

Volumn 4, Issue 7, 2008, Pages 915-919

  Wang, Qing Hua ^a   Hersam, Mark C ^a  

^a Northwestern University   (United States)

Author keywords

Electronic structure; Scanning tunneling microscopy; Self assembly; Semiconductor nanocrystals; Surface patterning

Indexed keywords

ELECTRONIC PROPERTIES; EXCAVATION; IMAGING TECHNIQUES; MAPS; METALS; MICROSCOPIC EXAMINATION; NANOCLUSTERS; NANOSTRUCTURED MATERIALS; NANOSTRUCTURES; OPTICAL PROJECTORS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SILICON; SURFACE CHARGE; TUNNELING (EXCAVATION);

CHARGE REDISTRIBUTION; LOCAL DENSITY OF STATES (LDOS); NANO CLUSTERS; NANOCLUSTER ARRAYS; ROOM-TEMPERATURE (RT); SCANNING TUNNELING MICROSCOPY (STM); SELF-ASSEMBLED; SI (111); SPATIAL MAPS; SPATIAL RESOLUTION.; TUNNELING CONDUCTANCES; TWO-DIMENSIONAL (2D);

TWO DIMENSIONAL;

GALLIUM; METAL NANOPARTICLE; NANOWIRE; SILICON;

ARTICLE; CHEMISTRY; CRYSTALLIZATION; ELECTRONICS; EQUIPMENT DESIGN; METHODOLOGY; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SEMICONDUCTOR; SURFACE PROPERTY; TEMPERATURE;

CRYSTALLIZATION; ELECTRONICS; EQUIPMENT DESIGN; GALLIUM; METAL NANOPARTICLES; MICROSCOPY, SCANNING TUNNELING; NANOWIRES; SEMICONDUCTORS; SILICON; SURFACE PROPERTIES; TEMPERATURE;

EID: 48249107439     PISSN: 16136810     EISSN: 16136829     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/smll.200700989     Document Type: Article

References (45)

1. C. P. Collier, T. Vossmeyer, J. R. Heath, Annu. Rev. Phys. Chem. 1998, 49, 371-404.
2. A. N. Shipway, E. Katz, I. Willner, Chem. Phys. Chem 2000, 2, 18-52.
3. A. T. Bell, Science 2003, 299, 1688-1691.
4. M. Valden, X. Lai, D. W. Goodman, Science 1998, 281, 1647-1650.
5. M. S. Chen, D. W. Goodman, Science 2004, 306, 252-255.
6. D. Matthey, J. G. Wang, S. Wendt, J. Matthiesen, R. Schaub, E. Laegsgaard, B. Hammer, F. Besenbacher, Science 2007, 315, 1692-1696.
7. R. P. Andres, T. Bein, M. Dorogi, S. Feng, J. I. Henderson, C. P. Kubiak, W. Mahoney, R. G. Osifchin, R. Reifenberger, Science 1996, 272, 1323-1325.
8. A. O. Orlov, I. Amlani, G. H. Bernstein, C. S. Lent, G. L. Snider, Science 1997, 277, 928-930.
9. I. Amlani, A. O. Orlov, G. Toth, G. H. Bernstein, C. S. Lent, G. L. Snider, Science 1999, 284, 289-291.
10. D. I. Gittins, D. Bethell, D. J. Schiffrin, R. J. Nichols, Nature 2000, 408, 67-69.
11. S. H. Sun, C. B. Murray, D. Weller, L. Folks, A. Moser, Science 2000, 287, 1989-1992.
12. C. T. Black, C. B. Murray, R. L Sandstrom, S. H. Sun, Science 2000, 290, 1131-1134.
13. J. I. Martin, J. Nogues, K. Liu, J. L. Vicent, I. K. Schuller, J. Magn. Magn. Mater. 2003, 256, 449-501.
14. A. Imre, G. Csaba, L. Ji, A. Orlov, G. H. Bernstein, W. Porod, Science 2006, 311, 205-208.
15. J. F. Jia, X. Liu, J. Z. Wang, J. L. Li, X. S. Wang, Q. K. Xue, Z. Q. Li, Z. Y. Zhang, S. B. Zhang, Phys. Rev. B 2002, 66, 165 412.
16. J. L. Li, J. F. Jia, X. J. Liang, X. Liu, J. Z. Wang, Q. K. Xue, Z. Q. Li, J. S. Tse, Z. Y. Zhang, S. B. Zhang, Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 066 101.
17. J. F. Jia, J. Z. Wang, X. Liu, Q. K. Xue, Z. Q. Li, Y. Kawazoe, S. B. Zhang, Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 3186-3188.
18. V. G. Kotlyar, A. V. Zotov, A. A. Saranin, T. V. Kasyanova, M. A. Cherevik, I. V. Pisarenko, V. G. Lifshits, Phys. Rev. B 2002, 66,165 401.
19. M. Y. Lai, Y. L Wang, Phys. Rev. B 2001, 64, 241 404.
20. R. W. Li, S. Kusano, J. H. G. Owen, K. Miki, Nanotechnology 2006, 27, 2018-2022.
21. R. W. Li, J. H. G. Owen, S. Kusano, K. Miki, Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 073 116.
22. S. C. Li, J. F. Jia, R. F. Dou, Q. K. Xue, I. G. Batyrev, S. B. Zhang, Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 116 103.
23. K. H. Wu, Y. Fujikawa, T. Nagao, Y. Hasegawa, K. S. Nakayama, Q. K. Xue, E. G. Wang, T. Briere, V. Kumar, Y. Kawazoe, S. B. Zhang, T. Sakurai, Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 126 101.
24. M. Yoon, X. F. Lin, I. Chizhov, H. Mai, R. F. Willis, Phys. Rev. B 2001, 64, 085 321.
25. Y. P. Zhang, K. S. Yong, H. S. O. Chan, G. Q. Xu, X. S. Wang, Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 123 106.
26. M. A. K. Zilani, Y. Y. Sun, H. Xu, L. Liu, Y. P. Feng, X. S. Wang, A. T. S. Wee, Phys. Rev. B 2005, 72, 193 402.
27. M. A. K. Zilani, H. Xu, T. Liu, Y. Y. Sun, Y. P. Feng, X. S. Wang, A. T. S. Wee, Phys. Rev. B 2006, 73, 195 415.
28. A. V. Zotov, A. A. Saranin, V. G. Kotlyar, O. A. Utas, Y. L Wang, Surf. Sci. 2006, 600, 1936-1941.
29. N. P. Guisinger, S. P. Elder, N. L. Yoder, M. C. Hersam, Nanotechnology 2007, 18, 044 011.
30. N. P. Guisinger, N. L. Yoder, S. P. Elder, M. C. Hersam, J. Phys. Chem. C 2008, 112, 2116-2120.
31. J. Cechal, M. Kolibal, P. Kostelnik, T. Sikola, J. Phys.: Condens. Matter 2007, 19, 016 011.
32. H. H. Chang, M. Y. Lai, J. H. Wei, C. M. Wei, Y. L. Wang, Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 066 103.
33. M. Y. Lai, Y. L. Wang, Phys. Rev. B 1999, 60, 1764-1770.
34. A. Ohtake, Phys. Rev. B 2006, 73, 033 301.
35. M. Yoon, R. F. Willis, Surf. Sci. 2002, 512, 255-261.
36. H. Narita, M. Nakatake, T. Xie, T. Moko, A. Kimura, S. Qiao, H. Namatame, M. Taniguchi, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1, 2006, 45, 2271-2274.
37. L. X. Zhang, S. B. Zhang, Q. K. Xue, J. F. Jia, E. G. Wang, Phys. Rev. B 2005, 72, 033 315.
38. J. Bardeen, Phys. Rev. Lett. 1961, 6, 57-59.
39. C. J. Chen, Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, Oxford University Press, New York 1993.
40. R. J. Hamers, R. M. Tromp, J. E. Demuth, Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 1972-1975.
41. J. A. Kubby, Y. R. Wang, W. J. Greene, Phys. Rev. B 1991, 43, 9346-9349.
42. O. Paz, I. Brihuega, J. M. Gomez-Rodriguez, J. M. Soler, Phys. Rev. Lett. 2005, 94, 056 103.
43. K. Takayanagi, Y. Tanishiro, M.Takahashi, S. Takahashi, y. Vac. Sci. Technol. A 1985, 3, 1502-1506.
44. K. Takayanagi, Y. Tanishiro, S. Takahashi, M. Takahashi, Surf. Sci. 1985, 264, 367-392.
45. E. T. Foley, N. L. Yoder, N. P. Guisinger, M. C. Hersam, Rev. Sci. Instrum. 2004, 75, 5280-5287.