Field emission from a single carbon nanofiber at sub 100 nm gap

Applied Physics Letters

Volumn 93, Issue 2, 2008, Pages

  Sim, H S ^a   Lau, S P ^a   Ang, L K ^a   You, G F ^a   Tanemura, M ^c   Yamaguchi, K ^b   Zamri, M ^b   Yusop, M ^b  

^a NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY   (Singapore)

^b NAGOYA INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Japan)

^c NONE

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FIELD EMISSION; METALLIZING; NANOFIBERS; NANOSTRUCTURED MATERIALS; SEPARATION;

AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS (AIP); ASYMPTOTIC VALUES; CARBON NANOFIBER (CNF); ELECTRODE SEPARATION; ELECTRON FIELD EMISSION (EFE); FIELD EMISSION (FE) CURRENTS; FIELD ENHANCEMENT FACTOR (FEF); LARGE RANGE; SUB-100 NM;

CARBON NANOFIBERS;

EID: 47549095200     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2959826     Document Type: Article

References (18)

1. W. Zhu, C. Bower, O. Zhou, G. Kochanski, and S. Jin, Appl. Phys. Lett. 75, 873 (1999).
2. V. I. Merkulov, D. H. Lowndes, and L. R. Baylor, Appl. Phys. Lett. 75, 1228 (1999).
3. K. B. K. Teo, M. Chhowalla, G. A. J. Amaratunga, W. I. Milne, G. Pirio, P. Legagneux, F. Wyczisk, D. Pribat, and D. G. Hasko, Appl. Phys. Lett. 80, 2011 (2002).
4. T. T. Tan, H. S. Sim, S. P. Lau, H. Y. Yang, M. Tanemura, and J. Tanaka, Appl. Phys. Lett. 88, 103105 (2006).
5. Y. B. Zhang, S. P. Lau, L. Huang, and M. Tanemura, Appl. Phys. Lett. 86, 123115 (2005).
6. H. S. Sim, S. P. Lau, H. Y. Yang, L. K. Ang, M. Tanemura, and K. Yamaguchi, Appl. Phys. Lett. 90, 143103 (2007).
7. L. Hudanski, E. Minoux, L. Gangloff, K. B. K. Teo, J. P. Schnel, S. Xavier, J. Robertson, W. I. Milne, and P. Legagneux, Nanotechnology 19, 105201 (2008).
8. L. Nilsson, O. Groening, P. Groening, and L. Schlapbach, Appl. Phys. Lett. 79, 1036 (2001).
9. L. Nilsson, O. Groening, C. Emmenegger, O. Kuettel, E. Schaller, and L. Schlapbach, Appl. Phys. Lett. 76, 2071 (2000).
10. K. F. Hii, R. R. Vallance, S. B. Chikkamaranhalli, M. P. Menguc, and A. M. Rao, J. Vac. Sci. Technol. B 24, 1081 (2006).
11. C. J. Edgcombe and U. Valdŕ, J. Microsc. 203, 188 (2001).
12. R. C. Smith, J. D. Carey, R. D. Forrest, and S. R. P. Silva, J. Vac. Sci. Technol. B 23, 632 (2005).
13. R. C. Smith, D. C. Cox, and S. R. P. Silva, Appl. Phys. Lett. 87, 103112 (2005).
14. M. Tanemura, T. Okita, H. Yamauchi, and S. Tanemura, Appl. Phys. Lett. 85, 3831 (2004).
15. J.-M. Bonard, K. A. Dean, B. F. Coll, and C. Klinke, Phys. Rev. Lett. 89, 197602 (2002).
16. Z. Xu, X. D. Bai, E. G. Wang, and Z. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 87, 163106 (2005).
17. J. Y. Huang, K. Kempa, S. H. Jo, S. Chen, and Z. F. Ren, Appl. Phys. Lett. 87, 053110 (2005).
18. J.-M. Bonard and C. Klinke, Phys. Rev. B 67, 115406 (2003).