Strained Ge overlayer on a surface

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 61, Issue 16, 2000, Pages 10827-10831

  Kahng, S ^a   Ha, Y ^b   Moon, D ^b  

^a Seoul National University   (South Korea)

^b Korea Research Institute of Standards and Science   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 4244062852     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.61.10827     Document Type: Article

References (20)

1. Y.-W. Mo, D. E. Savage, B. S. Swartzentruber, and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 65, 1020 (1990).
2. J. A. Floro, E. Chason, L. B. Freund, R. D. Twesten, M. Sinclair, G. A. Lucadamo, and R. Q. Hwang, Phys. Rev. Lett. 79, 3946 (1997).
3. F. M. Ross, J. Tersoff, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 80, 984 (1998).
4. G. Medeiros-Ribeiro, A. M. Bratkovski, T. I. Kamins, D. A. A. Ohlberg, and R. S. Willams, Science 279, 353 (1998).
5. F. K. LeGoues, M. C. Reuter, J. Tersoff, M. Hammar, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 73, 300 (1994).
6. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kaxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989).
7. R. M. Tromp and M. C. Reuter, Phys. Rev. Lett. 68, 954 (1992).
8. B. Voigtlander, A. Zinner, T. Weber, and H. P. Bonzel, Phys. Rev. B 51, 7583 (1995).
9. I. Goldfarb, J. H. G. Owen, D. R. Bowler, C. M. Goringe, P. T. Hayden, K. Miki, D. G. Pettifor, and G. A. D. Briggs, Surf. Sci. 394, 105 (1997).
10. J. Spitzmuller, M. Fehrenhacher, H. Rauscher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 377, 1001 (1997).
11. A. Sakai and T. Tatsumi, Appl. Phys. Lett. 64, 52 (1993).
12. J. Nara, T. Sasaki, and T. Ohno, Phys. Rev. Lett. 79, 4421 (1997).
13. S. Jeong and A. Oshiyama, Phys. Rev. Lett. 79, 4425 (1997).
14. S.-J. Kahng, J.-Y. Park, and Y. Kuk, Phys. Rev. B 60, 16 558 (1999).
15. J. C. Lee, C. S. Chung, H. J. Kang, Y. P. Kim, H. K. Kim, and D. W. Moon, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 1325 (1995).
16. Y. Kuk and P. J. Silverman, Rev. Sci. Instrum. 60, 165 (1989).
17. Y. P. Kim, S. K. Choi, H. K. Kim, and D. W. Moon, Appl. Phys. Lett. 71, 3504 (1997).
18. L. C. Feldman and J. W. Mayer, Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis (North Holland-Elsevier, New York, 1986).
19. A. J. Steinfort, P. M. L. O. Scholte, A. Ettema, F. Tuinstra, M. Nielsen, E. Landmark, D.-M. Smilgies, and R. Feidenhans’l, G. Falkenberg, L. Seehofer, and R. L. Johnson, Phys. Rev. Lett. 77, 2009 (1996).
20. A. Ikeda, K. Sumitomo, T. Nishioka, T. Yasue, T. Koshikawa, and Y. Kido, Surf. Sci. 385, 200 (1997).