Substitutional-to-interstitial ratio of manganese in nanostructured GaN by electron channeling enhanced microanalysis

Journal of Applied Physics

Volumn 103, Issue 7, 2008, Pages

  Niermann, T ^a,b   Mai, D ^a   Roever, M ^a   Kocan, M ^a,c   Zenneck, J ^a   Malindretos, J ^a   Rizzi, A ^a   Seibt, M ^a  

^a UNIVERSITY OF GÖTTINGEN   (Germany)

^b TECHNISCHE UNIVERSITÄT BERLIN   (Germany)

^c UNIVERSITY OF WESTERN AUSTRALIA   (Australia)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BINDING SITES; LOW TEMPERATURE OPERATIONS; MANGANESE; NANOSTRUCTURED MATERIALS; SINGLE CRYSTALS; SUBSTITUTION REACTIONS;

DYNAMICAL BLOCH WAVE CALCULATIONS; SUBSTITUTIONAL-TO- INTERSTITIAL RATIO;

GALLIUM NITRIDE;

EID: 42149182968     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2905221     Document Type: Article

References (27)

1. H. Ohno, Science 281, 951 (1998).
2. K. Y. Wang, R. P. Campion, K. W. Edmonds, M. Sawicki, T. Dietl, C. T. Foxon, and B. L. Gallagher, AIP Conf. Proc. 772, 333 (2005).
3. T. Jungwirth, K. Y. Wang, J. Masek, K. W. Edmonds, J. König, J. Sinova, M. Polini, N. A. Goncharuk, A. H. MacDonald, M. Sawicki, A. W. Rushforth, R. P. Campion, L. X. Zhao, C. T. Foxon, and B. L. Gallagher, Phys. Rev. B 72, 165204 (2005).
4. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert, and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000).
5. S. J. Pearton, C. R. Abernathy, G. T. Thaler, R. M. Frazier, D. P. Norton, F. Ren, Y. D. Park, J. M. Zavada, I. A. Buyanova, W. M. Chen, and A. F. Hebard, J. Phys.: Condens. Matter 16, R209 (2004).
6. S. Dhar, O. Brandt, A. Trampert, L. Däweritz, K. J. Friedland, K. H. Ploog, J. Keller, B. Beschoten, and G. Güntherodt, Appl. Phys. Lett. 82, 2077 (2003).
7. K. M. Yu, W. Walukiewicz, T. Wojtowicz, I. Kuryliszyn, X. Liu, Y. Sasaki, and J. K. Furdyna, Phys. Rev. B 65, 201303 (R) (2002).
8. R. K. Singh, S. Y. Wu, H. X. Liu, L. Gu, D. J. Smith, and N. Newman, Appl. Phys. Lett. 86, 012504 (2005).
9. K. W. Edmonds, P. Boguslawski, K. Y. Wang, R. P. Campion, S. N. Novikov, N. R. S. Farley, B. L. Gallagher, C. T. Foxon, M. Sawicki, T. Dietl, M. Buongiorno Nardelli, and J. Bernholc, Phys. Rev. Lett. 92, 037201 (2004).
10. Y. L. Soo, G. Kioseoglou, S. Kim, S. Huang, Y. H. Kao, S. Kuwabara, S. Owa, T. Kondo, and H. Munekata, Appl. Phys. Lett. 79, 3926 (2001).
11. X. Biquard, O. Proux, J. Cibert, D. Ferrand, H. Mariette, R. Giraud, and B. Barbara, J. Supercond. 16, 127 (2003).
12. O. Sancho-Juan, A. Cantarero, G. Martínez-Criado, D. Olguín, N. Garro, A. Cros, M. Saloḿ, J. Susini, S. Dhar, and K. Ploog, Phys. Status Solidi B 243, 1692 (2006).
13. S. Kuroda, S. Marcet, E. Bellet-Amalric, J. Cibert, H. Mariette, S. Yamamoto, T. Sakai, T. Ohshima, and H. Itoh, Phys. Status Solidi A 203, 1724 (2006).
14. J. C. H. Spence and J. Taftø, J. Microsc. 130, 147 (1983).
15. C. J. Rossouw, C. J. Bettles, T. J. Davis, C. T. Forwood, P. R. Miller, and K. Venkatesan, Acta Crystallogr., Sect. A: Found. Crystallogr. 57, 321 (2001).
16. T. Morimura and M. Hasaka, Ultramicroscopy 106, 553 (2006).
17. L. J. Allen and T. W. Josefsson, Phys. Rev. B 52, 3184 (1995).
18. L. J. Allen and C. J. Rossouw, Phys. Rev. B 47, 2446 (1993).
19. L. J. Allen and T. Josefsson, Phys. Rev. B 53, 11285 (1996).
20. M. Kocan, J. Malindretos, M. Roever, J. Zenneck, T. Niermann, D. Mai, M. Bertelli, M. Seibt, and A. Rizzi, Semicond. Sci. Technol. 21, 1348 (2006).
21. D. B. Williams and C. B. Carter, Transmission Electron Microscopy (Plenum, New York, 1996).
22. A. Weickenmeier and H. Kohl, Acta Crystallogr., Sect. A: Found. Crystallogr. 47, 590 (1991).
23. H. Schulz and K. H. Thiemann, Solid State Commun. 23, 815 (1977).
24. M. P. Oxley and L. J. Allen, Acta Crystallogr., Sect. A: Found. Crystallogr. 56, 470 (2000).
25. G. Cliff and G. W. Lorimer, J. Microsc. 103, 203 (1975).
26. W. H. Press, S. A. Teukolsky, W. T. Vetterling, and B. P. Flannery, Numerical Recipes in C, 2nd ed. (Cambridge University Press, Cambridge, 2002).
27. J. Zenneck, T. Niermann, D. Mai, M. Roever, M. Kocan, J. Malindretos, M. Seibt, A. Rizzi, N. Kaluza, and H. Hardtdegen, J. Appl. Phys. 101, 063504 (2007).