Molecular flexibility as a factor affecting the surface ordering of organic adsorbates on metal substrates

Langmuir

Volumn 22, Issue 23, 2006, Pages 9572-9579

  Soubatch, Serguei ^a   Temirov, Ruslan ^a   Tautz, F Stefan ^a  

^a JACOBS UNIVERSITY BREMEN   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ADSORBENTS; CONFORMATIONS; INTERFACES (MATERIALS); STOICHIOMETRY; SUBSTRATES;

METAL SUBSTRATES; MOLECULAR FLEXIBILITY; STRUCTURAL TEMPLATES; SURFACE ORDERING;

MOLECULAR DYNAMICS;

EID: 37849188237     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la061440s     Document Type: Article

References (39)

1. De Feyter, S.; De Schryver, F. C. Chem. Soc. Rev. 2003, 32, 139-150.
2. Stephen M. J.; Straley, J. P. Rev. Mod. Phys. 1974, 46, 617-704.
3. Ackermann, J.; Videlot, C.; Raynal, P.; El Kassmi, A.; Dumas, P. Appl. Surf. Sci. 2003, 212-213, 26-32.
4. Garnier, F.; Hajlaoui, R.; El Kassmi, A.; Horowitz, G.; Laigre, L.; Porzio, W.; Armanini, M.; Provasoli, F. Chem. Mater. 1998, 10, 3334-3339.
5. Garnier, F.; Yassar, A.; Hajlaoui, R.; Horowitz, G.; Deloffre, F.; Servet, B.; Ries, S.; Alnot, P. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 8716-8721.
6. Dimitrakopoulos, C.; Furman, E.; Graham, F.; Hedge, S.; Purushothaman, S. Synth. Met. 1998, 92, 47-52.
7. Katz, H. E.; Lovinger, A. J.; Laquindanum, J. G. Chem. Mater. 1998, 10, 457-459.
8. Muck, T.; Wagner, V.; Bass, U.; Leufgen, M.; Geurts, J.; Molenkamp, L. W. Synth. Met. 2004, 146, 317-320.
9. Muck, T.; Fritz, J.; Wagner, V. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 232101-232103.
10. Liu, P.; Nakano, H.; Shirota, Y. Liquid Cryst. 2001, 28, 581-589.
11. Azumi, R.; Gotz, G.; Debaerdemaeker, T.; Bäucrle, P. Chem. Eur. J. 2000, 6, 735-744.
12. Ponomarenko, S.; Kirchmeyer, S. J. Mater. Chem. 2003, 13, 197-202.
13. Barbarella, G.; Melucci, M.; Sotgiu, G. Adv. Mater. 2005, 17, 1581-1593
14. Mena-Osteritz, E. Adv. Mater. 2002, 14, 609-616.
15. Mena-Osteritz, E.; Bäuerle, P. Adv. Mater. 2001, 13, 243-246.
16. Abdel-Mottaleb, M. M. S.; Götz, G.; Kilickiran, P.; Bauerle, P.; Mena-Osteritz, E. Langmuir 2006, 22, 1443-1448.
17. Amundson, K. R.; Katz, H. E.; Lovinger, A. J. Thin Solid Films 2003, 426, 140-149.
18. Moret, M.; Campione, M.; Borghesi, A.; Miozzo, L.; Sassella, A.; Trabattoni, S.; Lotz, B.; Thierry, A. J. Mater. Chem. 2005, 15, 2444-2449.
19. Seidel, C.; Soukopp, A.; Li, R.; Bäuerle, P.; Umbach, E. Surf. Sci. 1997, 374, 17-30.
20. Azumi, R.; Götz, G.; Bäuerle, P. Synth. Met. 1999, 101, 569-572.
21. Li, Z.; Han, B.; Meszaros, G.; Pobelov, I.; Wandlowski, T.; Btaszczyk, A.; Mayor, M. Faraday Discuss. 2006, 131, 121-143.
22. Santos, E.; Schühle, D. T.; Jones, H.; Schmickler, W. Langmuir 2005, 21, 6406-6421.
23. Soukopp, A.; Glöckler, K.; Kraft, P.; Schmitt, S.; Sokolowski, M.; Umbach, E.; Mena-Osteritz, E.; Bäuerle, P.; Hädicke, E. Phys. Rev. B 1998, 58, 13882-13894.
24. Umbach, E.; Sokolowski, M.; Fink, R. Appl. Phys. A1996, 63, 365-576.
25. Soukopp, A.; Glöckler, K.; Bäuerle, P.; Sokolowski, M.; Umbach, E. Adv. Mater. 1996, 8, 902-906.
26. Meyerheim, H. L.; Gloege, Th.; Sokolowski, M.; Umbach, E.; Bäuerle, P. Europhys. Lett. 2000, 52, 144-150.
27. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
28. Gebauer, W.; Langner, A.; Schneider, M.; Sokolowski, M.; Umbach, E. Phys. Rev. B 2004, 69, 155431-155438.
29. To simulate the LEED pattern we used LEEDpat2 program by K. Hermann and M. A. Van Hove, see http://w3.rz-berlin.mpg.de/~hermann/LEEDpat/.
30. Hooks, D. E.; Fritz, T.; Ward, M. D. Adv. Mater. 2001, 13, 227-241.
31. Langner, A.; Hauschild, A.; Fahrenholz, S.; Sokolowski, M. Surf. Sci. 2005, 574, 153-165.
32. Hel-Or, Y.; Peleg, S.; Avnir, D. Langmuir 1990, 6, 1691-1695.
33. Tao, F.; Bernasek, S. L. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 6233-6238.
34. Weigelt, S.; Busse, C.; Petersen, L.; Rauls, E.; Hammer, B.; Gothelf, K. V.; Besenbacher, F.; Linderoth, T. R. Nat. Mater. 2006, 5, 112-117.
35. Weckesser, J.; De Vita, A.; Barth, J. V.; Cai, C.; Kern, K. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 096101-096104.
36. Böhringer, M.; Schneider, W.-D.; Berndt, R. Angew. Chem., Int. Ed. 2000, 39, 792-795.
37. France, C. B.; Parkinson, B. A. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 12712-12713.
38. Chen, Q.; Richardson, N. V. Nat. Mater. 2003, 2, 324-328.
39. This propeller structure derives from the tilt of the hexyl chains relative 10 the long axis of the quaterthiophene backbone. This tilt is present in the relaxed structure of the molecule, as calculated by Gaussian (Figure I ). It is also observed in the STM. cf. Figures 5b and 6.