Quantifying strain effects on physical properties of La 0.68Ba 0.32MnO 3 epilayers and heterostructures

Journal of the Electrochemical Society

Volumn 154, Issue 12, 2007, Pages

  Liang, Yuan Chang ^a,c   Liang, Yung Ching ^b  

^a CHIENKUO TECHNOLOGY UNIVERSITY   (Taiwan)

^b UNIVERSITY OF SOUTHERN CALIFORNIA   (United States)

^c ELECTROCHEMICAL SOCIETY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

PSEUDOMORPHIC GROWTH; RELAXATION THICKNESS; STRAIN EFFECTS; UNSTRAINED STATES;

CRYSTAL GROWTH; EPILAYERS; FILM THICKNESS; HETEROJUNCTIONS; LANTHANUM ALLOYS; STRAIN CONTROL;

SUPERLATTICES;

EID: 35548967050     PISSN: 00134651     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1149/1.2789293     Document Type: Article

References (36)

1. W. Prellier, P. Lecoeur, and B. Mercey, J. Phys.: Condens. Matter, 13, R915 (2001).
2. A. J. Millis, Nature (London), 392, 147 (1998).
3. H. L. Ju, Y. S. Nam, J. E. Lee, and H. S. Shin, J. Magn. Magn. Mater., 219, 1 (2000).
4. T. Kanki, H. Tanaka, and T. Kawai, Solid State Commun., 114, 267 (2000).
5. J. Zhang, H. Tanaka, T. Kanki, J. H. Lhoi, and T. Kawai, Phys. Rev. B, 64, 184404 (2001).
6. Y. Lu. J. Klein, C. Hofener, B. Wiedenhorst, J. B. Philipp, F. Herbstritt, A. Marx, L. Alff, and R. Gross, Phys. Rev. B, 62, 15806 (2000).
7. Q. Qian, T. A. Tyson, C. C. Kao, W. Prellier, J. Bai, A. Biswas, and R. L. Green, Phys. Rev. B, 63, 224424 (2001).
8. J. Dho, Y. N. Kim, Y. S. Hwang, J. C. Kim, and N. H. Hur, Appl. Phys. Lett., 82, 1434 (2003).
9. X. W. Wu, M. S. Rzchowski, H. S. Wang, and Q. Li, Phys. Rev. B, 61, 501 (2000).
10. Y. C. Liang, T. B. Wu, H. Y. Lee, and Y. W. Hsieh, J. Appl. Phys., 96, 584 (2004).
11. G. M. Gross, F. S. Razavi, R. B. Praus, and H. U. Habermeier, J. Magn. Magn. Mater., 211, 22 (2000).
12. M. Ziese, H. C. Semmelhack, and K. H. Hsn, Phys. Rev. B, 68, 134444 (2003).
13. J. Dvorak, Y. U. Idzerda, S. B. Ogale, S. Shinde, T. Wu, T. Venkatesan, R. Godfrey, and R. Ramesh, J. Appl. Phys., 97, 10C102 (2005).
14. Y. C. Liang, T. B. Wu, H. Y. Lee, and H. J. Liu, Thin Solid Films, 469-470, 500 (2004).
15. H. L. Ju, K. M. Krishnam, and D. Lederman, J. Appl. Phys., 83, 7073 (1998).
16. J. W. Matthews and A. E. Blakeslee, J. Cryst. Growth, 27, 118 (1974).
17. Y. C. Liang, H. Y. Lee, Y. C. Liang, H. J. Liu, K. F. Wu, and T. B. Wu, Thin Solid Films, 494, 196 (2006).
18. Y. C. Liang, H. Y. Lee, H. J. Liu, K. F. Wu, T. B. Wu, and C. H. Lee, J. Electrochem. Soc., 152, F129 (2005).
19. D. Fuchs, M. Adam, P. Schweiss, and R. Schneider, J. Appl. Phys., 91, 5288 (2002).
20. S. P. Timoshenko and J. N. Goodier, Theory of Elasticity, McGraw-Hill, New York (1987).
21. L. Ranno, A. Llobet, R. Tiron, and E. Favre-Nicolin, Appl. Surf. Sci., 188, 170 (2002).
22. R. A. Rao, D. Lavric, T. K. Nath, C. B. Eom, L. Wu, and F. Tsui, Appl. Phys. Lett., 73, 3294 (1998).
23. L. S.-J. Peng, X. X. Xi, B. H. Moeckly, and S. P. Alpay, Appl. Phys. Lett., 83, 4592 (2003).
24. Y. C. Liang, H. Y. Lee, H. J. Liu, C. K. Huang, and T. B. Wu, J. Cryst. Growth, 279, 114 (2005).
25. Y. C. Liang, H. Y. Lee, H. J. Liu, Y. W. Hsieh, and Y. C. Liang, J. Synchrotron Radiat., 14, 163 (2007).
26. N. C. Yeh, R. P. Vasquez, D. A. Beam, C. C. Fu, J. Huynh, and G. Beach, J. Phys.: Condens. Matter, 9, 3713 (1997).
27. M. E. Hawley, C. D. Adams, P. N. Arendt, E. L. Brosha, F. H. Garzon, R. J. Houlton, M. F. Hundley, R. H. Heffner, Q. X. Jia, J. Neumeier, and X. D. Wu, J. Cryst. Growth, 174, 455 (1997).
28. C. Kwon, M. C. Robson, K.-C. Kim, J. Y. Gu, S. E. Lofland, S. M. Bhagat, Z. Trajanovic, M. Rajeswari, T. Venkatesana, A. R. Kratzb, R. D. Gomezb, and R. Ramesh, J. Magn. Magn. Mater., 172, 229 (1997).
29. M. Ziese, Phys. Rev. B, 60, R738 (1999).
30. J. Z. Sun, D. W. Abraham, R. A. Rao, and C. B. Eom, Appl. Phys. Lett., 74, 3017 (1999).
31. J. Aarts, S. Freisem, R. Hendrikx, and H. W. Zandbergen, Appl. Phys. Lett., 72, 2975 (1998).
32. F. Tsui, M. C. Smoak, T. K. Nath, and C. B. Eom, Appl. Phys. Lett., 76, 2421 (2000).
33. J. H. Park, E. Vescovo, H. J. Kim, C. Kwon, R. Ramesh, and T. Venkatesan, Phys. Rev. Lett., 81, 1953 (1998).
34. F. Giesen, B. Damaschke, V. Moshnyaga, K. Samwer, and G. A. Müller, Phys. Rev. B, 69, 014421 (2004).
35. A. J. Millis, T. Darling, and A. Migliori, J. Appl. Phys., 83, 1588 (1998).
36. T. Kanki, H. Tanaka, and T. Kawai, Phys. Rev. B, 64, 224418 (2001).