AIAs/GaAs micropillar cavities with quality factors exceeding 150.000

Applied Physics Letters

Volumn 90, Issue 25, 2007, Pages

  Reitzenstein, S ^a   Hofmann, C ^a   Gorbunov, A ^a,b   Strauss M ^a   Kwon, S H ^a   Schneider, C ^a   Loffler A ^a   Hofling S ^a   Kamp, M ^a   Forchel, A ^a  

^a UNIVERSITY OF WÜRZBURG   (Germany)

^b INSTITUTE OF SOLID STATE PHYSICS   (Russian Federation)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BRAGG REFLECTORS; LIGHT REFLECTION; OPTICAL SYSTEMS; SEMICONDUCTING GALLIUM ARSENIDE;

MICROPILLARS; MIRROR PAIRS; QUALITY FACTORS;

MICROSTRUCTURE;

EID: 34547336081     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2749862     Document Type: Article

References (15)

1. A. Löffler, J. P. Reithmaier, G. Sek, C. Hofmann, S. Reitzenstein, M. Kamp, and A. Forchel, Appl. Phys. Lett. 86, 111105 (2005).
2. T. Yoshie, A. Scherer, J. Hendrickson, G. Khitrova, H. M, Gibbs, G. Rupper, C. Ell, O. B. Shchekin, and D. G. Deppe, Nature (London.) 432, 200 (2004).
3. B. Gayral, J. M. Gérard, A. Lemaítre, C. Dupuis, L. Manin, and J. L. Pelouard, Appl. Phys. Lett. 75, 1908 (1999).
4. N. G. Stoltz, M. Rakher, S. Strauf, A. Badolato, D. D. Lofgreen, P. M. Petroff, L. A. Coldren, and D. Bouwmeester, Appl. Phys. Lett. 87, 031.105 (2005).
5. E. Kuramochi, M. Notomi, S. Mitsugi, A. Shinya, T. Tanabe, and T. Watanabe, Appl. Phys. Lett. 88, 041112 (2006).
6. J. P. Reithmaier, G. Sek, A. Löffler, C. Hofmann, S. Kuhn, S. Reitzenstein, L. Keldysh, V. Kulakovskii, T. L. Reinecke, and A. Forchel, Nature (London) 432, 197 (2004).
7. S. Reitzenstein, A. Löffler, C. Hofmann, A. Kubánek, M. Kamp, J. P. Reithmaier, and A. Forchel, Opt. Lett. 31, 1738 (2006).
8. M. Pelton, C. Santori, J. Vuckovic, B. Zhang, G. S. Solomon, J. Plant, and Y. Yamamoto, Phys. Rev. Lett. 89, 233602 (2002).
9. J. Vuckovic, M. Pelton, A. Scherer, and Y. Yamamto, Phys. Rev. A 66, 023808 (2002).
10. T. Rivera, J.-P. Debray, J. M. Gérard, B. Legrand, L. Manin-Ferlazzo, and J. L. Oudar, Appl. Phys. Lett. 74, 911 (1999).
11. C. P. Michael, K. Srinivasan, T. J. Johnson, O. Painter, K. H. Lee, K. Hennessy, H. Kim, and E. Hu, Appl. Phys. Lett. 90, 051108 (2007).
12. G. Lecamp, J. P. Hugonin, P. Lalanne, R. Braive, S. Varoutsis, S. Laurent, A. Lemaître, and I. Sagne, Appl. Phys. Lett. 90, 091120 (2007).
13. D. M. Whittaker, P. S. S. Guimaraes, D. Sanvitto, H. Vinck, S. Lam, A. Daraei, J. A. Timpson, A. M. Fox, M. S. Skolnick, Y-L. D. Ho, J. G. Rarity, M. Hopkinson, and A. Tahraoui, Appl. Phys. Lett. 90, 161105 (2007).
14. T. Gutbrod, M. Bayer, A. Forchel, P. A. Knipp, T. L. Reinecke, A. Tartakovskii, and V. D. Kulakovskii, Phys. Rev. B 59, 2223 (1999).
15. R. J. Warburton, C. S. Dürr, K. Karrai, J. P. Kotthaus, G. Medeiros-Ribeiro, and P. M. Petroff, Phys. Rev. Lett. 79, 5282 (1997).