Quantitative microstructural and texture characterization by X-ray diffraction of polycrystalline ferroelectric thin films

Journal of Applied Crystallography

Volumn 37, Issue 1, 2004, Pages 91-95

  Ricote, Jesús ^a   Chateigner, Daniel ^b  

^a INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE MADRID   (Spain)

^b LABORATOIRE CRISMAT   (France)

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FERROMAGNETIC MATERIAL;

ARTICLE; COMPRESSION; CRYSTALLIZATION; FILM; PHYSICAL CHEMISTRY; QUANTITATIVE ANALYSIS; STRESS; SURFACE PROPERTY; X RAY DIFFRACTION;

EID: 3442899423     PISSN: 00218898     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1107/S0021889803024452     Document Type: Article

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